Преимущества периферийного сканирования на системном уровне

Преимущества реализации доступа к тестированию на уровне системы путем расширения периферийного сканирования на объединительную плату (создание единой стратегии тестирования на уровне платы и системы на основе архитектуры IEEE Std. 1149.1) могут быть огромными. Мы лишь опишем возможности, которые вы можете применить к своей ситуации.

Целью данного документа является представление ряда рекомендаций по проектированию для тестирования (DFT), которые могут быть использованы в качестве справочных материалов для поддержки внедрения архитектуры периферийного сканирования системного уровня в конструкции печатных плат. Таким образом, эта архитектура может эффективно использоваться при проведении структурных испытаний на уровне производства платы и внутрисистемной конфигурации cPLD, FPGA и устройств флэш-памяти в среде системного уровня.

В этом документе также описывается, как эта архитектура может быть использована для обеспечения интегрированных возможностей динамического тестирования как на уровне системы, так и в полевой диагностической среде.

(In English)