Тестирование встраиваемых систем: разработка тестового ПО или JTAG Functional Test?

В статье рассказывается о преимуществах интеграции технологии
JTAG Functional Test, которую можно использовать в качестве замены
встраиваемому ПО для тестирования. Приведён пример крупной
финской инжиниринговой компании Etteplan, внедрившей новую
технологию тестирования.

Периферийное сканирование в микросборке «Осведомленность» от ПКК «Миландр»

В статье описывается опыт применения технологии периферийного сканирования и программного обеспечения JTAG ProVision на плате с микросборкой «Осведомленность» российской компании «Миландр».

We like to keep you informed

Работа в JTAG Maps для Altium Designer

В статье описывается процесс работы с расширением JTAG Maps для пакета проектирования электронных устройств и плат AltiumDesigner. Программа JTAG Maps позволяет разработчику схем уже на этапе проектирования оценить возможность доступа периферийного (граничного) сканирования к цепям.

Проверка поддержки стандарта IEEE 1149.1 микроконтроллером 1887ВЕ7Т от АО «НИИЭТ

В статье описывается процедура проверки работы платы с микроконтроллером 1887ВЕ7Т со средствами периферийного сканирования от JTAG Technologies, и показаны полученные результаты. Цель, которую мы перед собой поставили – убедиться в том, что платы, разработанные и произведенные с использованием данной воронежской микросхемы, могут тестироваться и диагностироваться с помощью стандартных систем периферийного сканирования наряду с изделиями, построенными на импортной компонентной базе.