JTAG Maps for Altium

JTAG Maps – это расширение для Altium Designer, которое позволяет пользователю/инженеру быстро отобразить доступ периферийного сканирования к цепям разрабатываемого изделия. До недавнего времени автоматический расчет тестового покрытия мог быть произведен только с помощью профессиональных программных средств периферийного сканирования. Если инженер-разработчик хотел отметить на схеме цепи, к которым есть доступ периферийного сканирования, то это приходилось делать вручную. Сегодня бесплатное дополнение к Altium, JTAG Maps, наконец, позволяет автоматизировать этот процесс. Расчет тестового покрытия будущих изделий стал в разы более доступным.

C BSDL-файлами и без них – При создании тестов периферийного сканирования необходимыми данными являются так называемые BSDL-файлы. Только они точно описывают, какие выводы ИМС имеют тестовый доступ, а также их возможные варианты использования. Но на этапе разработки возможна такая ситуация, когда у инженера нет в наличии BSDL-файлов. С JTAG Maps эта проблема не страшна: в программе предусмотрена возможность установки специального атрибута «Assume Scan Covered» для пинов. Это атрибут предполагает, что выводы компонента имеют возможность периферийного сканирования. Эта установка может также использоваться для других узлов изделия. С помощью данного атрибута, например, можно указать программе на пины разъемов, которые могут тестироваться за счет внешних DIOS-модулей.

Импорт и Экспорт – Несмотря на то, что большое число пользователей будут удовлетворены быстрым и упрощенным отчетом, который обеспечивает JTAG Maps, существует возможность увидеть более подробную картину тестового покрытия. Из JTAG Maps может быть экспортирован специальный файл, который затем можно отправить в техническое представительство JTAG Technologies, где он будет обработан и по результатам анализа вам будет предоставлен файл с более точным и подробным покрытием, отражающий все возможные тесты.

Дальнейшая работа – Для инженеров, которые пожелают в дальнейшем применить периферийное сканирование на своих изделиях, JTAG Technologies предоставляет 2 базовых варианта платформ. JTAG Live Studio является бюджетной платформой, позволяющей создавать функциональные тесты узлов цифровых ПП с использованием периферийного сканирования. JTAG ProVision – полностью автоматизированная САПР для генерации тестов и приложений для программирования ПЗУ и ПЛИС с обширными библиотеками моделей ЭКБ.

  • Быстрое отображение доступа периферийного сканирования
  • Поддерживает стратегию DfT (Design for Test) на предприятии
  • Ускоряет процесс разработки продукта

JTAG Maps is een ideaal programma voor gebruikers van Altium Designer die niet alleen verantwoordelijk zijn voor het ontwikkelen van het product als zodanig, maar ook voor het maken van een testbaar product. Voor het testen van de productie van digitale kaarten is er geen alternatieve methode – scannen perifeer, als het product dat wordt ontwikkeld het niet volledig ondersteunt, dan is het onwaarschijnlijk dat het product zonder veel problemen in massa kan worden geproduceerd. Het is noodzakelijk om testbaarheid te leggen. Hiervoor zijn JTAG-kaarten beschikbaar.

Мы всегда рады вам помочь!

Мы решили тысячи проблем, связанных с тестированием собранных печатных плат с помощью сети офисов продаж и наших высококвалифицированных дистрибьюторов. Как только вы становитесь клиентом JTAG Technologies, вы являетесь неотъемлемой частью нашего бизнеса со свободным доступом к нашей всемирной сети поддержки.