BSP/YAV9

Выбор между множеством возможных комбинаций методов инспекции и электроконтроля (например, рентген, АОИ и периферийное сканирование) зависит от множества факторов, включающих характеристики тестируемого продукта, требуемую производительность линии и наиболее ожидаемых типов дефектов. Так как периферийное сканирование и функциональный контроль часто являются взаимодополняющими методами, их комбинация дает оптимальную тестовую стратегию с наименьшими требуемыми капиталовложениями на ее реализацию.

Приложения для тестирования и программирования, сгенерированные с помощью средств разработки от JTAG Technologies (JTAG ProVision или предыдущего поколения), могут быть с легкостью импортированы в ПО тестеров фирмы 6TL.

  • Экономически эффективная интеграция приложений JTAG для тестирования и программирования с модулями 6TL YAV
  • Поддерживает контроллер периферийного сканирования YAV9JTAG и IO-модуль YAV9JTAH
  • Одно рабочее место для периферийного сканирования и функционального контроля
  • Значительно увеличивает общее тестовое покрытие цифровых и аналогово-цифровых узлов
  • Добавляет к тесту JTAG-программирование и использование режима отладки процессоров
  • Модификация оснастки и программ практически не требуется

Карта YAV9JTAG:

  • Контроллер периферийного сканирования, совместимый с JTAG Technologies, основанный на FT2232H и подключаемый по USB (внимание: нет поддержки вывода TRST)
  • Альтернативный внешний TAP-разъем (к которому можно подключить JT3705/USB, JT2137 POD или JT2147/xxx POD)
  • 112 цифровых каналов IO (1.8/2.5/3.3В, допускается 5В)

Карта YAV9JTAH:

  • 104 цифровых каналов I/O (1.8/2.5/3.3В, допускается 5В)
  • 5 входов и 3 выхода с уровнями, соответствующими RS-232
  • 2 входа и 2 выхода RS-232, контролируемые UART (доступ к ним осуществляется через JFT/Python)
  • 8 аналоговых входов (доступ к которым осуществляется через JFT/Python)

JTAG традиционно рассматривался как тип структурного тестирования, выполняемый за счет внутренней структуры ИС, которые содержат встроенную тестовую логику, соответствующую стандартам IEEE 1149.x. Если на плате присутствуют такие компоненты, то можно получить неплохое тестовое покрытие. Однако часто комбинация JTAG-тестирования и дополнительных методов инспекции дает практически максимально возможное покрытие.

Мы всегда рады вам помочь!

Мы решили тысячи проблем, связанных с тестированием собранных печатных плат с помощью сети офисов продаж и наших высококвалифицированных дистрибьюторов. Как только вы становитесь клиентом JTAG Technologies, вы являетесь неотъемлемой частью нашего бизнеса со свободным доступом к нашей всемирной сети поддержки.