I/O модули

Модуль JT 2111/MPV DIOS выполнен в «коробочном» варианте для настольного использования. Модуль обеспечивает 64 цифровых канала IO, каждый из которых является сканируемым. Использование дополнительных внешних каналов IO позволяет протестировать цепи разъемов, установленных на плате, а также кластеры без доступа периферийного сканирования. Несколько таких модулей могут быть соединены друг с другом последовательно, если требуется большее количество параллельных каналов. Существуют два варианта исполнения модуля: с 96-контактным DIN-разъемом и с четырьмя 20-контактными IDC-разъемами.

JT 2122/MPV DIOS-модуль (цифровой модуль ввода/вывода) повышает тестовое покрытие и точность локализации дефектов за счет обеспечения доступа периферийного сканирования к краевым разъемам тестируемой платы и/или тестовым точкам. JT 2122/MPV обеспечивает двунаправленный одновременный доступ к 128 или 133 каналам ввода/вывода.

TAP-сигналы (TDI, TDO, TMS TCK и TRST*) находятся среди 168 контактов краевого разъема DIMM, а также выведены на два раздельных 10 контактных разъема. С помощью второго разъема можно образовать цепочку с другим DIOS-модулем или подключить разъем периферийного сканирования тестируемой платы.

JT 2124/F168 является конфигурируемым DIOS-модулем в виде DIMM-карты со 128 каналами ввода/вывода. При этом используется распространенный 168-выводной формат карты. Модуль похож по функциональности на JT 2122/MPV, но имеет некоторые отличия, среди которых – программная установка порогов напряжений каналов IO в рамках каждого из 16-канальных сегментов, и возможность «горячей замены».

JT 2128 DIOS-модуль (цифровой модуль ввода/вывода в формате DIMM-карты) повышает тестовое покрытие и точность локализации дефектов за счет обеспечения доступа периферийного сканирования к краевым разъемам тестируемой платы и/или тестовым точкам. JT 2128 обеспечивает двунаправленный одновременный доступ к 133 каналам ввода/вывода, сгруппированным в три сегмента, каждый из которых может быть шунтирован. Модуль разработан для быстрой коммутации в стандартный 168-контактный DIMM-слот, который может быть расположен на исследуемом устройстве или на тестовой оснастке. В качестве оснастки может использоваться JT 2702/DDC от JTAG Technologies.

JT 2149/MPV – это 32-х канальный многоцелевой модуль DIOS/TAP, который может быть подсоединен к одному или нескольким каналам адаптера JT 2148 QuadPOD вместо одного из оконечных устройств, обеспечивающих связь с тестируемым устройством. Каналы IO данного модуля позволяют увеличить тестовое покрытие изделий и точность диагностики дефектов за счет тестирования разъемов и тестовых точек. Устройство полностью поддерживается средствами разработки приложений от JTAG Technologies. Если требуется, дополнительные модули DIOS могут быть подключены последовательно с модулем.

Семейство модулей JT 2127 STM разработано для быстрого сопряжения со стандартными DIMM-разъемами, находящимися на исследуемой плате. В дополнение к тому, что на контактах краевого разъема можно выставлять и считывать логические уровни, присутствует возможность для аналогового тестирования. Можно проверить, что напряжения на выделенных питающих линиях (таких, как Vdd, Vddq, Vref, Vddspd) находятся в заданных диапазонах. Это в совокупности обеспечивает полноту структурного теста разъемов DIMM.

Возможные варианты модулей и их спецификации можно посмотреть во вкладках ниже.

JT 2702/PCI-Slot – это готовая оснастка, предназначенная для производственного тестирования 32-битных и 64-битных PCI-карт с помощью технологии периферийного сканирования. JT 2702/PCI-Slot содержит специализированные разъемы (сокеты), совместимые как с 32-битной, так и с 64-битной версией PCI-шины. На другой стороне этого тестового адаптера расположены два разъема, содержащие наши I/O-модули общего назначения JT 2122/MPV DIMM DIOS, обеспечивающие необходимые цифровые каналы для тестирования PCI-разъема тестируемого изделия.

Во время тестирования 32-битной шины остается еще 19 неиспользуемых каналов I/O. Эти каналы выведены на IDC-разъем данного адаптера и могут использоваться для тестирования других участков изделия (разъемов и тестовых точек). При тестировании изделий с 64-битной шиной доступно намного больше свободных каналов: 83.

JT2702/DDC (Dual DIMM Carrier) – это аксессуар для модулей DIMM DIOS. Он обычно используется в пользовательских оснастках для производственного тестирования, в которых требуется большое количество цифровых каналов ввода/вывода (I/O), а также существуют трудности со свободным пространством для размещения тестового оборудования.

При установке в JT 2702/DDC одного или двух модулей I/O от JTAG Technologies формата DIMM/168 пользователь может сконфигурировать систему как с 128, так и с 256 каналами. Так как сами адаптеры JT 2702/DDC могут быть включены в последовательную JTAG-цепочку, то несложно создать и 1000-канальную систему. Доступ к цифровым каналам ввода/вывода DIOS-модулей, устанавливаемых в данную оснастку, осуществляется через стандартные 40-контактные IDC-разъемы с шагом 2,54 мм.

JT 2127/Flex  STM – семейство аппаратных адаптеров, разработанных специально для тестирования установленных на плате DIMM- и SODIMM-разъёмов с помощью контроллера периферийного сканирования и программного обеспечения JTAG. Тестирование разъёмов памяти с помощью систем периферийного сканирования всегда было трудной задачей. Даже если возможно произвести запись/чтение памяти с помощью устройства на исследуемой плате, поддерживающего периферийное сканирование, процесс инициализации может завершиться неудачно и не предоставить необходимой диагностической информации. Помимо этого, невозможно определить, что именно служит причиной неисправности – разъем или сам DIMM модуль. Используя новый модуль JT 2127-Flex от JTAG Technologies, вы можете определить дефекты с точностью до вывода с помощью надежного интерфейса и установить, правильно ли припаян DIMM-разъём.