Тестопригодное проектирование в Остеке? Естественно!
«Сапожник без сапог»! Пожалуй, ни один производитель не захотел бы услышать о себе эту расхожую фразу. Тем более это касается Остека как основного поставщика решений для производства электроники на российском рынке. Их внедрение при
разработке и производстве собственных продуктов не вопрос престижа или принципа – это жизненная необходимость.
Остек-Электро – команда профессионалов в технологиях тестирования электроники. В статье на примере собственных разработок компании мы рассмотрим, как с помощью синтеза внутрисхемного тестирования и периферийного (граничного)
сканирования электронных модулей добиться 100 % тестопригодности еще на стадии проектирования. Читать статью
Периферийное сканирование экономит деньги и время
О применении технологии периферийного сканирования для тестирования сложнейшего отечественного телекоммуникационного оборудования мы побеседовали с инженером по тестированию компании «T8» Семёном Клейманом.
Расскажите немного о компании «T8», что за продукцию вы выпускаете? Кто основные потребители продукции? Компания «Т8» – производитель теле-коммуникационного оборудования плотного спектрального уплотнения (DWDM – Dense Wavelength Division Multiplexing) и инновационных реше-ний для оптических сетей связи. Мы являемся разработчиками и производи-
телями в одном лице линейки DWDM-оборудования для оптоволоконных сетей. Платформа «Волга» нашего про-изводства позволяет организовать на одной длине волны каналы связи от 155 Мб/с до 600 Гбит/с. Абсолютно всё оборудование разрабатывается и выпу-скается в России, поэтому уже на про-тяжении многих лет нашей продукции присваивается статус телекоммуника-ционного оборудования российского происхождения (ТОРП). Читать статью
Оставайтесь в курсе событий JTAG
микросхем Xilinx Virtex-7 с помощью периферийного сканирования
Тематика входного контроля сложных микросхем постоянно возникает на различных предприятиях радиоэлектронной промышленности. При этом причины и задачи могут быть различными: это и дополнительная проверка качества перед монтажом на платы, входящие в состав оборудования для критических применений, и отсев контрафактной продукции, и ряд других. В статье рассматривается использование периферийного сканирования для реализации входного контроля.
сли в контексте входного контроля речь идет о пас-сивных компонентах, то задача сводится к созда-нию или покупке контактного приспособления и небольшому набору параметров, проверяемых тем или иным измерительным прибором (рис. 1). Здесь мы, по су-ти, с помощью измерительного прибора проверяем саму функциональность: например, миллиомметром измеряем сопротивление чип-резистора. Это – задача, выполнимая при минимальных вложениях, как финансовых, так и ин-
теллектуальных. Чуть сложнее, но всё же не так сложна в инженерном исполнении и задача тестирования полу-проводниковых компонентов. Читать статью
JTAG для покорителей «Эльбруса».
Тестирование сложной вычислительной техники, такой как компьютеры, серверы, СХД, — сложная задача. Как правило оно включает в себя много различных проверок и операций. Один только процессор может иметь несколько тысяч паяемых выводов, а ведь процессоров на плате может быть несколько, добавим к этому контроллеры периферии и другие микросхемы. Поддержка центральными микросхемами стандартов периферийного сканирования (IEEE 1149.1, IEEE 1149.6 и др.) занчительно упрощает тестирование, поиск и устранение дефектов монтажа, сокращает стоимость разработки, тестирования, ремонта плат.
Процессоры Эльбрус и соответствующие им КПИ — одни из первых российских микросхем, которые начали поддерживать периферийное сканирование. Это делает любые вычислительные устройства на базе Эльбрусов в разы более технологичными. Технологичность достигается за счет наличия универсального тестового механизма, избавляя заводы-изготовители от головной боли по поиску методов проверки и поиска дефектов.