JTAG Technologies

We are boundary scan.

Часто задаваемые вопросы - The technology

Нет ограничений для JTAG ProVision в том, сколько микросхем может быть объединено в одну JTAG-цепочку. Длина канала сканирования – это прежде всего длина тестовых векторов, которые будут сдвигаться  в процессе JTAG-тестирования платы. Чем длиннее цепочка, тем длиннее тестовые векторы. Для получения поле подробных рекомендаций закажите печатную версию Руководства по тестопригодному проектированию плат. JTAG ProVision автоматически строит сложные цепочки сканирования из нескольких микросхем, так что можете смело объединять их.

Не существует специальных ограничений на количество JTAG-портов, которыми может управлять одновременно оборудование и ПО от JTAG Technologies. Во многих случаях разбивка микросхем с периферийным сканированием на отдельные каналы сканирования добавляет определенную гибкость при проектировании и тестировании плат, в частности, увеличивает время программирования флэш. Таким образом, мы не всегда рекомендуем использовать один канал сканирования для большого числа микросхем с JTAG. Для получения поле подробных рекомендаций закажите печатную версию Руководства по тестопригодному проектированию плат.

Изучите BSDL-файл на данную микросхему (обычно BSDL-файл находится в доступе на сайте производителя). Само наличие BSDL-файла уже говорит о том, что микросхема поддерживает стандарт периферийного сканирования. Также проверьте BSDL-файл на наличие ограничений по использованию сканирования в данном типе ИМС. Иногда требуется удержание некоторых выводов в статичном состоянии для обеспечения режима сканирования. При сомнениях обращайтесь в JTAG Technologies за советом.

В большинстве случаев, только небольшая часть микросхем на плате требует поддержки периферийного сканирования для создания полноценных тестов всей платы. Многие цифровые микросхемы (микропроцессоры, ПЛИС, ASIC и т.д.) являются довольно сложными и благодаря большому количеству выводов имеют доступ к большинству цепей на плате. Кроме того, использование специальных модулей ввода/вывода позволяет увеличить тестовое покрытие, например, при подключении их к внешним разъемам. Такие устройства, как память, тестируются не имея при этом JTAG-структуру. Тестовое покрытие платы легко рассчитать в программном пакете JTAG ProVision.

Очень немного. Зачастую даже не требуется добавлять ничего лишнего. Однако иногда бывает полезно добавить несколько пассивных элементов для согласования каналов сканирования для увеличения максимальной частоты тестирования. Кроме того, вам понадобится вывести хотя бы один физический JTAG-разъем. Добавление некоторых коммутирующих микросхем может понадобиться, если вы собираетесь тестировать по одной JTAG-шине сложную систему из множества плат. Для получения поле подробных рекомендаций закажите печатную версию Руководства по тестопригодному проектированию плат.