JTAG Technologies

We are boundary scan.

Периферийное (граничное) сканирование JTAG, основанное на стандартах IEEE

Компания JTAG Technologies всегда была активным участником и спонсором разработки промышленных стандартов. В действительности, мы возглавляли самую первую рабочую группу в конце 80-х. И эти усилия привели к созданию спецификации IEEE 1149.1, которая потрясла тестовый мир. Этот стандарт определяет технологию периферийного (граничного) сканирования и был утвержден в 1990-м году. После этого стандарт был обновлен дважды. IEEE 1149.1 (JTAG) определяет дополнительную тестовую логику внутри микросхемы, которая может быть использована для осуществления точного тестирования цепей на плате, куда установлена микросхема, и программирования ПЛИС и флэш.

С момента выхода IEEE 1149.1 появились три других стандарта, каждый из которых построен на основе 1149.1 и имеет некоторые расширения для специфических целей. IEEE 1149.4 – стандарт аналогового периферийного сканирования, утвержденный в 2000 году и IEEE 1149.6, часто называемый AC-EXTEST, выпущенный в 2003 году, расширяют возможности JTAG-тестирования, добавляя в тест новые типы соединений. Третий стандарт, IEEE 1532 – устанавливает более производительный формат программирования логических устройств, таких как PLD и FPGA, так что несколько таких устройств, соединенных в цепочку, могут конфигурироваться одновременно при помощи периферийного сканирования. Недавнее добавление к семейству, IEEE 1149.7 – это расширение 1149.1, полностью с ним совместимое, направлено на уменьшение количества выводов JTAG-интерфейса и расширение функциональности связи между тестовой системой и соответствующей ИМС, поддерживающей данный стандарт.

Также существует ряд рабочих групп по созданию новых стандартов JTAG. Среди них следующие: IEEE P1149.1-2011 (предлагаемое расширение и обновление стандарта 1149.1), IEEE P1149.8 (также известный как “A-toggle”), IEEE 1581 (также известный как SCITT) - расширение для более «продвинутого» тестирования устройств памяти, IEEE P1687 (также известный как iJTAG) – расширенная внутренняя JTAG-архитектура для доступа к встроенным в чип тестовым инструментам) и SJTAG (для тестирования на уровне системы). JTAG Technologies будет продолжать поддерживать эти усилия по созданию новых современных стандартов тестирования и программирования.

Для получения более подробной информации, пожалуйста, посетите официальный вэб-сайт IEEE или одну из этих страниц: