JTAG Technologies

We are boundary scan.

JTAG Visualizer с возможностью анализа тестопригодности

30-марта-2018

 

Поддержка широкого набора САПР

Программа JTAG Visualizer традиционно использовалась российскими пользователями систем периферийного сканирования JTAG ProVision и более ранних версий для позиционирования дефектов монтажа на схеме и рисунке печатной платы. Также программа позволяет отобразить в графическом виде рассчитанное в JTAG ProVision тестовое покрытие. При этом поддерживаются все популярные САПР, такие как Altium, Cadence, Mentor и т.д.

JTAG Maps

В новой версии Visualizer добавлена функция Maps. Она позволяет провести упрощенную проверку доступа периферийного сканирования к цепям платы даже без наличия тестового проекта. Приблизительный расчет может быть усовершенствован добавлением базовой информации о компонентах. Разный уровень тестового доступа может быть обозначен с помощью своей цветовой кодировки. C помощью базовой проверки тестового доступа в Visualizer Maps разработчик может убедиться в тестопригодности изделия и отработать окончательную версию схемы. Далее можно приступить к разработке проекта тестирования платы в JTAG ProVision.

Другие возможности новой версии

Visualize on (Test) Fail  -  Данная опция позволяет всегда автоматически отображать дефектные цепи и пины во время запуска тестовой последовательности или отладке теста в JTAG ProVision на схеме или рисунке печатной платы.

Locate Next  – Функция позволяет отслеживать дефектную цепь в разных слоях по очереди либо в разных листах схемы.

Multiple Color Themes – можно создавать различные цветовые схемы для уровней тестового покрытия или типов дефектов и сохранять их.

View through layers  - подсвеченная цепь (например, та, где найден дефект при тестировании) теперь может быть показана во всех слоях платы, при этом плата становится «полупрозрачной».

Add notes – A note can be added anywhere at a fixed position on the schematic or layout. Ideal for conveying additional information about test processes or passing design details back and forth between users. В любом месте схемы или топологии платы могут добавляться комментарии, так что остальные участники процесса разработки изделия и его тестирования могут обмениваться важной информацией.

Отображение тестоаого покрытия:

Type: