Почему периферийное сканирование? | JTAG Technologies

JTAG Technologies

We are boundary scan.

Почему периферийное сканирование?

Тестирование при помощи периферийного сканирования изначально было предложено независимым комитетом, известным как JTAG (Joint Test Action Group), проводившим серию заседаний и встреч в конце 80-х. В Комитет JTAG входили профессионалы в области тестирования из Philips, BT, GEC, TI и др., чья цель заключалась в создании тестового механизма,  альтернативного внутрисхемному тестированию (ICT) для новых по тем временам изделий с поверхностным монтажом. Использование SMT-компонентов означало, их выводы будут не очень хорошо доступны для пробников как ICT-тестеров, так и обычного измерительного оборудования. С момента официального появления периферийного сканирования в 1990 году популярность данного метода росла постоянно вследствие следующих причин:

  • Периферийное сканирование – довольно недорогой метод по отношению к внутрисхемному или функциональному контролю
  • Открывает возможность безграничного доступа к выводам BGA и TSOP
  • Решает проблему большого количества щупов стационарных ICT-тестеров
  • Позволяет получить тестовый доступ к скрытым проводникам многослойных печатных плат
  • Кроме тестирования, JTAG-порт может также использоваться для программирования ПЛИС и флэш-ПЗУ, установленных на изделии