JTAG Technologies

We are boundary scan.

Почему периферийное сканирование?

Тестирование при помощи периферийного сканирования изначально было предложено независимым комитетом, известным как JTAG (Joint Test Action Group), проводившим серию заседаний и встреч в конце 80-х. В Комитет JTAG входили профессионалы в области тестирования из Philips, BT, GEC, TI и др., чья цель заключалась в создании тестового механизма,  альтернативного внутрисхемному тестированию (ICT) для новых по тем временам изделий с поверхностным монтажом. Использование SMT-компонентов означало, их выводы будут не очень хорошо доступны для пробников как ICT-тестеров, так и обычного измерительного оборудования. С момента официального появления периферийного сканирования в 1990 году популярность данного метода росла постоянно вследствие следующих причин:

  • Периферийное сканирование – довольно недорогой метод по отношению к внутрисхемному или функциональному контролю
  • Открывает возможность безграничного доступа к выводам BGA и TSOP
  • Решает проблему большого количества щупов стационарных ICT-тестеров
  • Позволяет получить тестовый доступ к скрытым проводникам многослойных печатных плат
  • Кроме тестирования, JTAG-порт может также использоваться для программирования ПЛИС и флэш-ПЗУ, установленных на изделии