Микропроцессор Эльбрус-8С (1891ВМ10Я) поддерживает IEEE1149.1.

Специалисты компании АО «МЦСТ», разработчика процессора Эльбрус-8С, и российского представительства JTAG Technologies (www.JTAG.com/ru) провели работу по верификации поддержки процессором Эльбрус-8С стандарта периферийного сканирования IEEE 1149.1. Микропроцессор Эльбрус-8С — полностью российская разработка. Кристалл микропроцессора имеет 8 процессорных ядер с улучшенной 64-разрядной архитектурой Эльбрус 4-го поколения, кэш-память 2-го уровня общим объёмом 4 Мб и 3-го уровня объёмом 16 Мб. Поддерживается 4 канала DDR3-1600 registered ECC, до 51,2 Гбайт/с.

Эльбрус-8С имеет тактовую частоту до 1,3 ГГц, вычислительную мощность до 250 гигафлопс. Производится по техпроцессу 28 нм.

В процессе работы была верифицирована архитектура интерфейса периферийного сканирования процессора Эльбрус-8С и корректность BSDL-описания. Для разработки тестовых приложений использовался программный пакет JTAG ProVision, а также различные контроллеры производства JTAG Technologies и модули цифрового ввода-вывода (DIOS).

Проделанная работа подтвердила возможность диагностики по JTAG коротких замыканий, непропаев, обрывов, перекруток и других неисправностей. С учётом высокой сложности устройств на процессорах Эльбрус-8С (которые выпускаются в корпусе FCBGA с 2028 контактами) оборудование от JTAG Technologies значительно облегчает тестирование плат с Эльбрус-8С на всех этапах жизненного цикла изделия.

Это уже не первый опыт сотрудничества компаний АО «МЦСТ» и JTAG Technologies: средства периферийного сканирования также внедрены в микропроцессоры Эльбрус-4С и Эльбрус-1С+.

 

АО «МЦСТ» предоставляет заинтересованным организациям типовой проект (referense design) однопроцессорных системных плат на микропроцессорах Эльбрус-4С, Эльбрус-1С+ и Эльбрус-8С для самостоятельной разработки конечных устройств с интегрированными средствами диагностики JTAG. Запросы на получение типовых проектов плат направляйте на электронную почту: sales@mcst.ru.

II Всероссийская Конференция Пользователей JTAG Technologies

19.07.2018

В течение двух дней, 5 и 6 июня, Российское представительство JTAG Technologies совместно с Остек-Электро провели в Москве 2-ю Всероссийскую Конференцию Пользователей систем периферийного сканирования. Конференция собрала 70 человек, среди которых есть пользователи станций на основе JTAG ProVision и JTAG Live Studio. География участников мероприятия включала Москву и МО, Санкт-Петербург, Самару, Саратов, Красноярский край, Омск, Пензу, Уфу, Обнинск, Курск и Тулу. Конференция прошла в одном из залов Измайловского Кремля.

Представители компании JTAG Technologies анонсировали новую версию программного пакета JTAG ProVision CD24. Подробный доклад раскрыл новую концепцию объединённой платформы JTAG ProVision и JTAG Live Studio. Также было рассказано о новой концепции работы с моделями компонентов, и других новшествах. Была продемонстрирована работа функции «мультиконтроллер», позволяющая работать одновременно с несколькими контроллерами периферийного сканирования, как с одним, увеличивая количество JTAG-портов.

Представители предприятий, таких как ТеконГруп, КБПА, ВНИИА им. Н.Л. Духова рассказали об особенностях внедрения периферийного сканирования для тестирования своей продукции, создании специализированной оснастки, интеграции приложений ProVision в LabVIEW. Для тестирования одного изделия в ЗАО ТеконГруп используется около 80 приложений.

Разработчики отечественной линейки процессоров «Эльбрус» из АО «МЦСТ» представили доклады о поддержке их микросхемами стандартов периферийного сканирования (IEEE 1149.1, IEEE 1149.6) и особенностях применения средств JTAG Technologies в своей компании.

Также было проведено много мастер-классов по работе с JTAG ProVision, CoreCommander, JFT/LabVIEW. Для демонстрации использовались учебные платы JTAG Technologies и отладочные платы известных поставщиков компонентов.

Оставайтесь в курсе событий JTAG

Универсальная система тестирования разъемов DIMM на собранных цифровых платах

Компания JTAG Technologies представляет новое семейство оборудования, используемое для тестирования широкого диапазона различных слотов DIMM и SO-DIMM на платах, проверяемых с помощью технологии периферийного сканирования.

Проблема тестирования связей от компонента с поддержкой периферийного сканирования до разъемов DIMM на проверяемой плате всегда была чрезмерно актуальна, но вызывала некоторые затруднения. Если использовать для такого приложения модуль памяти, вставленный в разъем, то для автоматического создания тестов необходимо иметь его схему (нетлист), которая чаще всего не доступна конечному пользователю. Более того, даже при наличии всей информации и возможности тестирования платы с модулем памяти будет не понятно, где находятся обнаруженные дефекты: на плате или на модуле.

Для решения данной дилеммы в системах периферийного сканирования всегда применялись DIOS-модули (модули ввода/вывода), заменяющие модули памяти. Номенклатура данных модулей обширна – ведь типов DIMM-разъемов очень много, и под каждый тип выпускался свой DIOS.

Новая система FLEX DIMM от JTAG Technologies унифицирует один тип DIOS-модуля, позволяя его использовать с различными типами DIMM-разъемов. При этом сохраняется преимущество: дефекты определяются с точностью до вывода (даже на контрольных цепях памяти). Система состоит из неизменной основной части, JT 2127/DMU, и необходимых переходников под разные типы DIMM-разъемов, которые обозначаются как JT 2127-Flex xxx, где xxx – тип DIMM (например, 204-3).

Система FLEX DIMM полностью поддерживается средой генерации приложений периферийного сканирования JTAG ProVision, для чего имеются все необходимые библиотеки.

www.jtagtechnologies.ru

JTAG Visualizer с возможностью анализа тестопригодности

Поддержка широкого набора САПР

Программа JTAG Visualizer традиционно использовалась российскими пользователями систем периферийного сканирования JTAG ProVision и более ранних версий для позиционирования дефектов монтажа на схеме и рисунке печатной платы. Также программа позволяет отобразить в графическом виде рассчитанное в JTAG ProVision тестовое покрытие. При этом поддерживаются все популярные САПР, такие как Altium, Cadence, Mentor и т.д.

JTAG Maps

В новой версии Visualizer добавлена функция Maps. Она позволяет провести упрощенную проверку доступа периферийного сканирования к цепям платы даже без наличия тестового проекта. Приблизительный расчет может быть усовершенствован добавлением базовой информации о компонентах. Разный уровень тестового доступа может быть обозначен с помощью своей цветовой кодировки. C помощью базовой проверки тестового доступа в Visualizer Maps разработчик может убедиться в тестопригодности изделия и отработать окончательную версию схемы. Далее можно приступить к разработке проекта тестирования платы в JTAG ProVision.

Другие возможности новой версии

Visualize on (Test) Fail  — Данная опция позволяет всегда автоматически отображать дефектные цепи и пины во время запуска тестовой последовательности или отладке теста в JTAG ProVision на схеме или рисунке печатной платы.
Locate Next  – Функция позволяет отслеживать дефектную цепь в разных слоях по очереди либо в разных листах схемы.
Multiple Color Themes – можно создавать различные цветовые схемы для уровней тестового покрытия или типов дефектов и сохранять их.
View through layers  — подсвеченная цепь (например, та, где найден дефект при тестировании) теперь может быть показана во всех слоях платы, при этом плата становится «полупрозрачной».
Add notes – A note can be added anywhere at a fixed position on the schematic or layout. Ideal for conveying additional information about test processes or passing design details back and forth between users. В любом месте схемы или топологии платы могут добавляться комментарии, так что остальные участники процесса разработки изделия и его тестирования могут обмениваться важной информацией.