Тематика входного контроля сложных микросхем постоянно возникает на различных предприятиях радиоэлектронной промышленности. При этом причины и задачи могут быть различными: это и дополнительная проверка качества перед монтажом на платы, входящие в состав оборудования для критических применений, и отсев контрафактной продукции, и ряд других. В статье рассматривается использование периферийного сканирования для реализации входного контроля.

сли в контексте входного контроля речь идет о пас-сивных компонентах, то задача сводится к созда-нию или покупке контактного приспособления и небольшому набору параметров, проверяемых тем или иным измерительным прибором (рис. 1). Здесь мы, по су-ти, с помощью измерительного прибора проверяем саму функциональность: например, миллиомметром измеряем сопротивление чип-резистора. Это – задача, выполнимая при минимальных вложениях, как финансовых, так и ин-
теллектуальных. Чуть сложнее, но всё же не так сложна в инженерном исполнении и задача тестирования полу-проводниковых компонентов.  Читать статью

Мы всегда рады вам помочь!

Мы решили тысячи проблем, связанных с тестированием собранных печатных плат с помощью сети офисов продаж и наших высококвалифицированных дистрибьюторов. Как только вы становитесь клиентом JTAG Technologies, вы являетесь неотъемлемой частью нашего бизнеса со свободным доступом к нашей всемирной сети поддержки.