JTAG/Boundary-Scan unterstützt Ihren Prozess in drei Hinsichten: es spart Ihrem Unternehmen Zeit, es ist kosteneffizient und steigert die Qualität Ihres Produktes. Lassen Sie uns in einige Details schauen, um die zu Erläutern.
Der JTAG-/Boundary-Scan-Standard wurde als Lösung für ein grundlegendes technisches Problem entwickelt, welche bei traditionellen Testverfahren, zum Test von bestückten Leiterplatten, bestand. Dazu gehören z.B. die Kontaktierung von Bausteinpins bei Fine-Pitch Stukturen oder hohem Pinacount bei SMD Gehäuse (insbesondere BGA’s). Durch die Integration der JTAG-/Boundary-Scan-Logik im Chip, erhält man einen einfachen Zugriff auf die Pins und ermöglicht es Testsignale, unabhängig von Bauform und Bausteinkomplexität, zu übertragen ohne diese direkt kontaktieren zu müssen.
Tests sind unverzichtbar, um die Qualität Ihrer Produkte zu gewährleisten. Der Funktionstest ist eine Möglichkeit. Dieser hat jedoch zwei wesentliche Nachteile: Sie wissen nie, ob Sie wirklich alle Fehler abgedeckt haben, und wenn Sie einen Fehler finden, ist es schwierig (zeitaufwendig & teuer), die Ursache zu bestimmen. Diese beiden Defizite entfallen beim Strukturtest.
Strukturtest erfordern jedoch eine Kontaktierung des Bausteinpins. Durch die Miniaturisierung ist eine Kontaktierung so nicht mehr möglich, sodass der Strukturtest mithilfe von Testnadeln entfällt. Mit Boundary-Scan werden keine externen Testnadeln mehr benötigt. Deshalb wurde Boundary-Scan so entwickelt, dass Strukturtests auch bei Miniaturisierung möglich sind.
Kurz: Boundary-Scan wurde entwickelt, um Strukturtests auch bei Miniaturisierung zu ermöglichen.
Der ursprüngliche Standard drehte sich zwar um Baugruppentests, aber die JTAG-Schnittstelle wurde bald auch für die systeminterne Bausteinprogrammierung genutzt (Flash-Speicher, FPGAs, CPLDs und Mikrocontroller). Die JTAG-/Boundary-Scan-Norm bietet heute gegenüber traditionellen Systemen viele Vorteile.
Testen
Traditionelle Testsysteme, die mit Kontaktierungstechniken auf Pins und Signale der Baugruppen (PCBA's) zugreifen, stehen vor immer größeren Herausforderungen.
JTAG Logik im Baustein
Ein Beispiel für eingebaute Ressourcen im Baustein, die über die JTAG-Schnittstelle zugänglich sind, ist das Boundary-Scan-Register und die Debug-Logik von Mikrocontrollern.
Bausteinprogrammierung
Die JTAG-Schnittstelle kann nicht nur zum Testen, sondern auch zur Programmierung von Bausteinen auf Ihren Baugruppen verwendet werden.
JTAG BOUNDARY-SCAN, FIRMLY BASED ON IEEE STANDARDS
Serielle Schnittstelle und Logik wurden ursprünglich von einer Gruppe von Testexperten von Philips, BT, GEC, TI und weiteren Akteuren entwickelt, die in den späten 1980er Jahren als JTAG (Joint Test Action Group) bekannt war. Die Gruppe setzte ihre Arbeit als IEEE-Arbeitsgruppe fort, um die endgültige Norm mit der offiziellen Bezeichnung IEEE-Norm 1149.1 zu entwickeln: die IEEE-Norm-Test-Access-Port- und Boundary-Scan-Architektur. Die Norm wurde 1990 in ihrer ersten Fassung veröffentlicht. Sie wurde seitdem weiterentwickelt. Die letzte Änderung erfolgte 2013 mit IEEE 1149.1-2013.
Wir helfen Ihnen gerne weiter!
Durch die enge Zusammenarbeit mit unseren Kunden konnten wir Tausende Testprobleme lösen. Sobald Sie Kunde von JTAG Technologies werden, sind Sie ein integraler Bestandteil unseres Unternehmen und haben ebenfalls vollen Zugriff auf unser weltweites Support-Netzwerk.