Electronics Weekly – September 2019 – JTAG evolution

Confusion about what is or isn’t JTAG is a continuing debate. The acronym stands for the Joint Test Action Group, the committee of engineers who defined the boundary-scan standard (IEEE std 1149.1) between 1986 and 1990.

As JTAG Test tools evolve to match use cases this article describes what is and what isn’t JTAG?

Boundary-Scan-Netzzugang mappen und Testdaten vorbereiten

Viele der heutigen elektronischen Designs verfügen über JTAG/Boundary-Scan Komponenten die während der Fertigung und sogar für Reparaturen, wertvolle Testresourcen zur Verfügung stellen.

Elektronic Fab

I/2017

 

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Für das Testen entwicklen

Regeln für fertigungsgerechtes Design und hochautomatisierte Fertigung minimieren die Anzahl der Fehler auf Leiterplatten-Baugruppen. Fehlerfreie Baugruppen gelingen jedoch nur, wenn Tests Restfehler erkennen. Durch die frühzeitige Erkennung der Fehler werden Kosten gespart.

Elektronik

29 April 2016

 

Boundary-scan testing

IConnect 007

14 November 2012