Veröffentlichung

Confusion about what is or isn’t JTAG is a continuing debate. The acronym stands for the Joint Test Action Group, the committee of engineers who defined the boundary-scan standard (IEEE std 1149.1) between 1986 and 1990.

As JTAG Test tools evolve to match use cases this article describes what is and what isn’t JTAG?

Viele der heutigen elektronischen Designs verfügen über JTAG/Boundary-Scan Komponenten die während der Fertigung und sogar für Reparaturen, wertvolle Testresourcen zur Verfügung stellen.

Elektronic Fab

I/2017

Regeln für fertigungsgerechtes Design und hochautomatisierte Fertigung minimieren die Anzahl der Fehler auf Leiterplatten-Baugruppen. Fehlerfreie Baugruppen gelingen jedoch nur, wenn Tests Restfehler erkennen. Durch die frühzeitige Erkennung der Fehler werden Kosten gespart.

Elektronik

29 April 2016

IConnect 007

14 November 2012