Boundary-Scan-Netzzugang mappen und Testdaten vorbereiten

Viele der heutigen elektronischen Designs verfügen über JTAG/Boundary-Scan Komponenten die während der Fertigung und sogar für Reparaturen, wertvolle Testresourcen zur Verfügung stellen.

Elektronic Fab

I/2017

 

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Für das Testen entwicklen

Regeln für fertigungsgerechtes Design und hochautomatisierte Fertigung minimieren die Anzahl der Fehler auf Leiterplatten-Baugruppen. Fehlerfreie Baugruppen gelingen jedoch nur, wenn Tests Restfehler erkennen. Durch die frühzeitige Erkennung der Fehler werden Kosten gespart.

Elektronik

29 April 2016

 

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Boundary-scan testing

IConnect 007

14 November 2012

 

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Why test

Electronics Engineering Times

January 2016

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