Die Implementierung von Design-for-Manufacturing (DFM) Regeln, unter Verwendung hochwertiger Bestück- und Inspektionssystemen, minimiert die Wahrscheinlichkeit von Fertigungsfehlern. Trotzdem treten diese auf und deshalb müssen Baugruppen getestet werden, um diese Fehler zu erkennen und somit fehlerfreie Baugruppen zu erhalten. Moderne Designs setzen beim Testen auf JTAG/Boundary-Scan. Dieses Verfahren ermöglicht den Zugriff auf die Pins eines Bausteins, unabhängig vom Gehäuse und stellt so eine optimale Fehlerabdeckung sicher.
In der Produktion, wenn Bausteine im Rahmen der Baugruppenkonfiguration programmiert werden, müssen eine ganze Reihe verschiedener Bausteine und Bausteintypen unterstützt werden. Aus Effizienzgründen sollte eine solche Programmierung idealerweise mit der gleichen Hardware durchgeführt werden, die auch für den Test verwendet wird.
Verschiedene Parameter bestimmen welche Test- und Programmierhardware am besten passt. Zu diesen Parametern gehören Leistung, Formfaktor, Integrationsmöglichkeiten in bereits im Einsatz befindlichen Teststationen usw.

VERVOLLSTÄNDIGEN SIE IHRE PRODUKTIONSLINIE MIT JTAG TEST SOLUTIONS

Design-for-Test (DFT)-Regeln dienen der Optimierung des Testprozesses zur Erkennung von Fertigungsfehlern. Moderne Designs setzen zum Testen auf JTAG Boundary-Scan. Boundary-Scan in einem Baustein ermöglicht den Zugriff auf ihre Pins unabhängig vom Gehäuse und führt zu maximaler Fehlerabdeckung. Mit unserer Testbarkeitsanalyse können Sie feststellen, welcher Prozentsatz eines Designs mit Boundary-Scan getestet werden kann. Unsere Broschüre „Board DFT Guidelines“ hilft Ihnen, die Boundary-Scan-Testbarkeit in Ihrem Designs zu optimieren.


TESTENTWICKLUNG

Um eine maximale Fehlerabdeckung zu erreichen, werden verschiedene Tests entwickelt. Boundary-Scan-Tests, wie Interconnect-Test, Pull-Up-/Down-Widerstands-Tests, Speicher- und Cluster-Tests verschiedenster Logikbausteine können mit ProVision automatisch generiert werden. Mit der leistungsstarken Hochsprache Python können diejenigen Teile der Schaltung getestet werden, die durch automatische Testgeneratoren nicht abgedeckt werden können, z.B. sequentielle Schaltungen, ADC’s und DAC’s.
Unabhängig davon, ob Ihr Design aus einem einzelnen Board oder aus mehreren Baugruppen besteht, ProVision deckt die unterschiedlichen Konfigurationen ab. Wenn ein Satz von Tests erstellt wurde, kann die Fehlerabdeckung dieser Tests berechnet und mit der Testbarkeit des Designs verglichen werden, um zu sehen, ob zusätzliche Tests erforderlich sind. Schließlich macht die Testsequenzierung (AEX-Sequencer) die Ausführung der Tests zu einem einfachen Knopfdruck. Die Möglichkeit, die verschiedenen Tests in einer Sequenz zu kombinieren, vervollständigt die ProVision-Entwicklungsumgebung.


RUNTIME-LÖSUNGEN

Zur Laufzeit wird der Testablauf ausgeführt, um die gesamte Baugruppe zu testen. Die Runtime-Lösungen von JTAG Technologies können eigenständig (Stand-Alone) oder als Teil Ihrer gesamten Teststrategie (JTAG Inside) eingesetzt werden. Produktions-Integrationspakete sind für LabVIEW, LabWindows, TestStand, C, C++, C#, .NET, Visual Basic und ATEasy verfügbar. Auch zertifizierte Pakete (Symphony-Produkte) sind für In-Circuit- und Flying-Probe-Tester von Agilent, Teradyne, Digitaltest, Seica, Spea, Cobham, Takaya usw. erhältlich.


DIAGNOSTIK

Die Diagnosesoftware analysiert die erkannten Fehler und meldet die Ursache der Fehler sowie die beteiligten Netze und Pins. Mit Visualizer kann die Lokalisierung eines Fehlers im Layout und in der schematischen Darstellung hervorgehoben werden, was es für Werksreparaturtechniker einfach macht, den Fehler auf der Buagruppe zu lokalisieren.


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Durch die enge Zusammenarbeit mit unseren Kunden konnten wir Tausende Testprobleme lösen. Sobald Sie Kunde von JTAG Technologies werden, sind Sie ein integraler Bestandteil unseres Unternehmen und haben ebenfalls vollen Zugriff auf unser weltweites Support-Netzwerk.