Die Einführung von Design-for-Manufacturing (DfM) zusammen mit dem Einsatz hochwertiger Montage- und Prüfgeräte minimiert die Wahrscheinlichkeit von Montagefehlern. Trotzdem kommt es jedoch zu Montagefehlern, und PCBAs müssen getestet werden, um diese Fehler zu erkennen, um PCBAs mit Null-Fehlern zu erreichen. Eine Testsequenz (auch als TestPlan bekannt) wird verwendet, um einzelne Aktionen (Schritttypen) wie z.B. Leistungsschaltung, strukturelle oder funktionelle Tests, Grenzwertvergleiche oder Bausteinprogrammierungsaktionen in einer logischen Reihenfolge auszuführen.
Verschiedene Parameter bestimmen die Art der Test- und Programmierhardware, die am besten geeignet ist. Zu diesen Parametern gehören z.B. Leistung, Formfaktor, Integrationsmöglichkeiten mit anderen bereits im Einsatz befindlichen Teststationen usw. In der Produktion müssen bei der Programmierung von Bausteinen im Rahmen der Leiterplattenkonfiguration eine ganze Reihe verschiedener Bausteine und Bausteintypen unterstützt werden. Aus Effizienzgründen sollte eine solche Programmierung idealerweise mit der gleichen Hardware erfolgen, die auch für den Test verwendet wird.
VERVOLLSTÄNDIGEN SIE IHRE PRODUKTIONSLINIE MIT JTAG TEST SOLUTIONS
Design-for-Test (DFT)-Regeln dienen der Optimierung des Testprozesses zur Erkennung von Fertigungsfehlern. Moderne Designs setzen zum Testen auf JTAG Boundary-Scan. Boundary-Scan in einem Baustein ermöglicht den Zugriff auf ihre Pins unabhängig vom Gehäuse und führt zu maximaler Fehlerabdeckung. Mit unserer Testbarkeitsanalyse können Sie feststellen, welcher Prozentsatz eines Designs mit Boundary-Scan getestet werden kann. Unsere Broschüre „Board DFT Guidelines“ hilft Ihnen, die Boundary-Scan-Testbarkeit in Ihrem Designs zu optimieren.
TESTENTWICKLUNG
Um eine maximale Fehlerabdeckung zu erreichen, werden verschiedene Tests entwickelt. Boundary-Scan-Tests, wie Interconnect-Test, Pull-Up-/Down-Widerstands-Tests, Speicher- und Cluster-Tests verschiedenster Logikbausteine können mit ProVision automatisch generiert werden. Mit der leistungsstarken Hochsprache Python können diejenigen Teile der Schaltung getestet werden, die durch automatische Testgeneratoren nicht abgedeckt werden können, z.B. sequentielle Schaltungen, ADC’s und DAC’s.
Unabhängig davon, ob Ihr Design aus einem einzelnen Board oder aus mehreren Baugruppen besteht, ProVision deckt die unterschiedlichen Konfigurationen ab. Wenn ein Satz von Tests erstellt wurde, kann die Fehlerabdeckung dieser Tests berechnet und mit der Testbarkeit des Designs verglichen werden, um zu sehen, ob zusätzliche Tests erforderlich sind. Schließlich macht die Testsequenzierung (AEX-Sequencer) die Ausführung der Tests zu einem einfachen Knopfdruck. Die Möglichkeit, die verschiedenen Tests in einer Sequenz zu kombinieren, vervollständigt die ProVision-Entwicklungsumgebung.
RUNTIME-LÖSUNGEN
Zur Laufzeit wird der Testablauf ausgeführt, um die gesamte Baugruppe zu testen. Die Runtime-Lösungen von JTAG Technologies können eigenständig (Stand-Alone) oder als Teil Ihrer gesamten Teststrategie (JTAG Inside) eingesetzt werden. Produktions-Integrationspakete sind für LabVIEW, LabWindows, TestStand, C, C++, C#, .NET, Visual Basic und ATEasy verfügbar. Auch zertifizierte Pakete (Symphony-Produkte) sind für In-Circuit- und Flying-Probe-Tester von Agilent, Teradyne, Digitaltest, Seica, Spea, Cobham, Takaya usw. erhältlich.
DIAGNOSTIK
Die Diagnosesoftware analysiert die erkannten Fehler und meldet die Ursache der Fehler sowie die beteiligten Netze und Pins. Mit Visualizer kann die Lokalisierung eines Fehlers im Layout und in der schematischen Darstellung hervorgehoben werden, was es für Werksreparaturtechniker einfach macht, den Fehler auf der Buagruppe zu lokalisieren.
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PROGRAMMIERLÖSUNGEN
Die Programmierung von Bausteinen erfolgt im Rahmen der Baugruppen-Konfiguration. Die verfügbaren Programmierlösungen unterscheiden sich je nach Bausteintyp:
- Flash-Speicher (NOR, NAND, Seriell)
- Mikrocontroller und DSPs (Embedded Flash)
- FPGAs, CPLDs, CPLDs
- PMBus-Bausteine
Je nach Bausteintyp können die Programmieranwendung entweder automatisch generiert oder als fertige Lösungen (R2R) bereitgestellt werden. Die Programmieranwendungen können mit den Runtimepaketen von JTAG Technologies entweder eigenständig (Stand-Alone) oder in andere (Test-) Systeme integriert, ausgeführt werden.
FLASH SPEICHER
Flash-Speicher können über die Boundary-Scan-Register von JTAG-Bausteinen programmiert werden, die mit den Adress-, Daten- und Steuerleitungen des Flashs verbunden sind. In einer Boundary-Scan-Flash-Programmieranwendung werden die am Flash angebundenen Netze über die Boundary-Scan-Register gesteuert, um Daten und Befehle an den Flash-Speicher zu senden. Die Applikationen für die Flash-Programmierung können automatisch durch ProVision erstellt werden, hierfür besteht eine umfangreichen Bibliothek. Alternativ ist es auch möglich, die Debug-Logik eines Mikroprozessors zu nutzen, um Flash-Speicher, welche an einem Prozessor angeschlossen sind, zu programmieren.
MIKROCONTROLLER UND DSPS (EMBEDDED FLASH)
Die Programmierung des Embedded Flash eines Mikrocontrollers erfordert eine spezielle Lösung. JTAG Technologies bietet Programmierlösungen für eine breite Palette von Mikrocontrollern an (siehe Auflistung untern). Diese Lösungen werden als Ready-to-Run (R2R) Programmieranwendungen zur direkten Ausführung mit dem Runtimepaketen von JTAG Technologies bereitgestellt.
FPGAS UND CPLDS
Für die In-System Programmierung von FPGAs und CPLDs ( SVF, JAM, STAPL und ISC IEEE 1532) werden verschiedene Datenformate unterstützt. PLD-Programmieranwendungen im ISC IEEE 1532-Format können mit ProVision automatisch generiert werden. SVF-, JAM- und STAPL-Dateien können werden direkt mit dem jeweiligen Runtimepakete von JTAG Technologies ausgeführt.
PMBUS-BAUSTEINE
Power-Management-Bausteine mit dem PMBus-Protokoll können über das Boundary-Scan-Register eines angeschlossenen Bausteins programmiert werden. In einer Boundary-Scan-PMBus-Programmieranwendung fungiert eine Boundary-Scan-Baustein als PMBus-Master, um Daten an den PMBus-Baustein zu senden. Die Applikationen können mit ProVision automatisch generiert werden.
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Boundary-scan Hardware
Um ein Baugruppe zu testen und Bausteine zu programmieren, benötigen Sie die folgende Hardware:
- Einen JTAG-Controller, der Ihren PC mit der JTAG-Schnittstelle des Prüflings verbindet.
- I/O-Module für den Boundary-Scan-Zugriff über Stecker und Testpunkte auf der Baugruppe.
JTAG Controllers
Um Ihre Test- und Programmierapplikationen zuverlässig auszuführen, können Sie aus einer Reihe verschiedener Controller mit unterschiedlichen Leistungsmerkmalen und Formfaktoren wählen. Die Controller der High-speed DataBlaster JT 37×7 Serie sind die Top-Modell. Sie haben eine skalierbare performance und in unterschiedlichen Ausführungen erhältich.
Der Mixed-Signal Controller JT 5705 unterstützt das Ansteuern und Messen von analogen Signalen in Kombination mit Boundary-Scan. ER ist die ideale Wahl, wenn nicht die maximale Geschwindigkeit, sondern flexiblität im Vordergrund steht.
I/O Modules
falls externe Zugriffe für Test und analoge Messungen, in Teile Ihres Designs benötigt werden, die keinen Boundary-Scan-Zugang haben, gibt es eine Reihe von I/O Modulen, wie DIOS (Digital I/O Scan), MIOS (Mixed I/O Scan) oder Socket-Test (ST), um Sockel, Stecker, Sensoren ect. zu testen.
KOMBINIERTE INSTRUMENTE
Boundary-Scan-Controller und I/O-Module sind als separate verfügbar oder können in einem Instrument kombinieren werden. Das Rack- Mountable Instrument (RMIc) zum Beispiel ist eine eigenständige Einheit mit einem oder mehreren Boundary-Scan-Controllern und I/O-Modulen Ihrer Wahl. Perfekt für den Einbau in ein 19-Zoll-Testrack oder als Tischsystem. Der JT 5705 kombiniert effektiv einen 2 TAP-Controller und Mixed-IO-Kanäle und ist damit ein eigenständiges ATE.
INTEGRATION MIT ANDEREN SYSTEMEN
Die High-Speed DataBlaster-Controller Serie ist in allen gängigen Formaten (PCI, PCIe, PXI, PXI, PXIe, USB, Ethernet, Firewire) erhältlich und kann sowohl als Stand Alone aber auch in ein bestehendes Testystem integriert werden. Für eine nahtlose Integration mit Ihrem In-Circuit-Tester oder Flying Probe Tester stehen auch spezielle Formfaktoren zur Verfügung, die auf Ihren Tester abgestimmt sind.
Wenn JTAG Boundary-Scan mit Ihrem In-Circuit-Tester, Flying Probe System oder Ihrem Funktionstester kombiniert wird, können Sie die Test- und Messhardware dieses Systems verwenden. Dies ermöglicht eine Messung an I/O Steckern und Testpunkte durch die Kombinatoin mit Boundary-Scan.
Mit unserem JTAG TapCommunicator gibt es ein Produkt, welches den Fernzugriff über jede Distanz ermöglicht. Der TapCommunicator ist ein wirklich einzigartiges Produkt, das Probleme überwinden kann, wenn der Prüfling sich in unerreichbarer Ferne befindet. Durch die Nutzung des nativen Prrotokolls (z.B. E-Net, Bluetooth, SpaceWire etc.) zur Kommunikation mit der Zielbaugruppe, können Boundary-Scan-Tests und Programmieranwendungen über nahezu jede Entfernung angewandt werden.
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