JFT – JTAG Functional Test
Application Dev
Repair
Run-time
Testen von Logikbausteinen & Speicher
Grenzwerttests für benutzerdefinierte Variablen
Bibliotheken für I2C und SPI Kommunikation
Optionale Unterstützung von Emulativen Tests
JTAG ProVision
Application Dev
Repair
Run-time
Board- und Systemtest und Bausteinprogrammierung
Multi Board Systeme mit separaten Netzlisten
Hochpräzise Feherabdeckungsanalyse
Beinhaltet Sequencer zur Ausführung (AEX Manager)
Integration Produktion
Run-time
Maßgeschneiderter JTAG- Sequenzen herstellen
Optionen für die meisten Hochsprachen, VB, C++, .net
Integration in etablierten Testsystemen
Support Test Ausführungs- software externer Hersteller
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