Boundary-Scan Test- und Programmieranwendungen sind nur so zuverlässig wie die Hardware, auf der sie ausgeführt werden. JTAG Technologies verfügt über die branchenweit zuverlässigsten IEEE 1149.x-Controller. Um Ihre Test- und Programmieranwendungen zuverlässig auszuführen, können Sie aus einer Reihe verschiedener Controller mit entsprechenden Leistungsmerkmalen und Formfaktoren wählen.
Der JTAG Live Controller wird per USB angeschlossen und mit Strom versorgt. Er umfasst einen Test Access Port im Standard-Pinout von JTAG Technologies. Er unterstützt eine programmierbare TCK-Geschwindigkeit von max. 6 MHz. Außerdem bietet er programmierbare Ausgangsspannungen und Eingangsschwellenwerte.
Der JT 3705/USB Explorer ist ein kleiner aber leistungsstarker Boundary Scan-Controller, der speziell für Tests mit geringer Stückzahl sowie für die In-System-Programmierung von (c)PLDs entwickelt wurde. Der Explorer unterstützt zwei separate und dennoch vollständig kompatible Boundary Scan Test Access Ports (TAPs), die für Testzwecke automatisch synchronisiert werden.
Die JT 5705-Serie ist eine einzigartige Kombination aus JTAG TAP-Controller-Schnittstellen (Tester) mit digitalen und analogen I/O im kompakten Format.
Messen Sie die Stromversorgung, Taktfrequenz oder testen Sie DACs und ADCs. Fügen Sie Ihre eigenen Möglichkeiten hinzu: mit dem CoreCommander FPGA, unserem generischen Bridge-/Translator-System.
Der JT 5705/USB-Version (Bild rechts) ist ein kompaktes Modell mit 2 TAPs und 64 I/O, wodurch er ideal für Hardware-Validierungen oder Produktionstests im kleinen Format geeignet ist. Die maximale TCK-Rate beträgt 15 MHz und alle Spannungen sind vollständig programmierbar
Das neu konzipierte, JTAG-powered PCB Tester- und Programmiersystem – das JT 57xx/RMIc ‚CombiSystem‘ besteht aus einem schlanken 19″ Rackmount Gehäuse, das bis zu vier kundenspezifische Module aufnehmen kann, welches aus verschiedenen JTAG (IEEE 1149.x) Controllern, digitalen I/Os und analogen I/Os und anderen Messmodulen definiert werden kann.
- JT 5705/RMIc – ¼ Slot Modul mit zwei (15MHz) TAPs und 64 Mixed-Signal-IO (MIOS)-Kanälen
- JT 37×7/RMIc – ½ Slot Modul mit vier (40MHz) TAPs, sechzehn statischen IO-Kanälen und optional 64 digilalen IO-Kanälen (DIOS)
- JT 5112/RMIc – ¼ Slot Modul mit 64 Mixed-Signal-IO-Kanälen (MIOS)
- JT 5111/RMIc – ¼ Slot Modul mit 64 digitalen IO-Kanälen (DIOS)
Jedes der Module bietet ähnliche Spezifikationen wie die entsprechenden Benchtop Systeme, profitiert jedoch von einem höheren Kanal- und TAP-Ausbau, bei geringem Platzbedarf und niedrigeren Gesamtkosten. Durch die Kombination und Anpassen der Module können Anwender sozusagen eine „unbegrenzte“ Anzahl von JTAG/Boundary-Scan-Teste und Programmiersysteme konfigurieren, welche für die kostengünstigste Lösung benötigt wird.
Highspeed Benchtop JTAG-Boundary-Scan Controller bietet 3 Schnittstellen zum Testsystem: USB (1.1 und 2.0), Ethernet und Firewire.
Die Controller wurde für anspruchsvolle Fertigungsanwendungen, schnelle Insystem Programmierung von Flash-Speicher sowie der Konfiguration von Logikbausteinen ausgelegt. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbausstufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ ausgeliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.
Die JT 37×7 DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Die Hardware ist nicht nur als Benchtop System mit USB/Ethernet/FireWire Anschluss erhältlich, sondern auch als 19″ Einschubrack. Alternativ bieten wir den Controller auch als Einsteckkarte im PXI(e) und PCI(e) Format an.
Weiter Informationen finden Sie unter den folgenden Tabulatoren.
Highspeed Plug-in JTAG-Boundary-Scan Controller für PXI , PXI „Hybrid“ bzw. PXI Express Steckplätze.
Die Controller wurde für anspruchsvolle Fertigungsanwendungen, schnelle Insystem Programmierung von Flash-Speicher sowie der Konfiguration von Logikbausteinen ausgelegt. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbausstufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ ausgeliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.
Die JT 37×7 DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Die Hardware ist nicht nur als Benchtop System mit USB/Ethernet/FireWire Anschluss erhältlich, sondern auch als 19″ Einschubrack. Alternativ bieten wir den Controller auch als Einsteckkarte im PXI(e) und PCI(e) Format an.
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Highspeed Boundary Scan Controller in 19 Zoll
Rack mit optional 256 digitalten I/Os zur Verbesserung des Boundary Scan Zugriffs und der Testabeckung.“
Die Controller wurde für anspruchsvolle Fertigungsanwendungen, schnelle Insystem Programmierung von Flash-Speicher sowie der Konfiguration von Logikbausteinen ausgelegt. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbausstufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ ausgeliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.
Die JT 37×7 DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Die Hardware ist nicht nur als Benchtop System mit USB/Ethernet/FireWire Anschluss erhältlich, sondern auch als 19″ Einschubrack. Alternativ bieten wir den Controller auch als Einsteckkarte im PXI(e) und PCI(e) Format an.
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Highspeed Plug-in JTAG-Boundary-Scan Controller für PCI bzw. PCIe Steckplätze.
Die Controller wurde für anspruchsvolle Fertigungsanwendungen, schnelle Insystem Programmierung von Flash-Speicher sowie der Konfiguration von Logikbausteinen ausgelegt. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbausstufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ ausgeliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.
Die JT 37×7 DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Die Hardware ist nicht nur als Benchtop System mit USB/Ethernet/FireWire Anschluss erhältlich, sondern auch als 19″ Einschubrack. Alternativ bieten wir den Controller auch als Einsteckkarte im PXI(e) und PCI(e) Format an.
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Der JT 2149/DAF (Digital/Analog/Frequenz) ist ein kompates Mulitfunktionsmodul und einzigartig in seiner Kombination und bietet digitalen und analogen Testzugriff am Prüfling. Basis dieser Möglichkeit ist die weit verbreiteten JTAG QuadPod Transceiver Technologie. Das DAF-Modul wurde so designed, dass es in den Slot des QuadPod Transeivers gesteckt wird, welcher von der kompleten JT 37×7 DataBlaster Serie unterstützt wird. Somit besteht jetzt die Möglichkeit den Standard Boundary Scan Test zu erweitern. Durch Verbinden des DAF Moduls mit dem Prüfling, egal ob über Stecker oder Adapternadeln, kann nicht nur die Boundary Scan Testabdeckung durch die zusätlichen digitalten I/Os erhöht werden sondern weitere analoge bzw. Frequenzmessungen durchgeführt werden.
Das JT2149/MPV ist ein Multifunktion Modul, welches die Funktionalität eins TAP Pods und eines 32 Kanal DIOS beinhaltet und kann an jeden freien Steckplatz des JT2148 QuadPods eingesetzt werden. Die DIOS-Kanäle des JT 2149/MPV ermöglichen eine Erhöhung der Fehlerabdeckung und somit eine verbesserte Diagnosefähigkeit während der Boundary-Scan-Prüfung. Die Hardware wird vollständig von unseren Entwicklungtools unterstützt. Weitere DIOS-Module können seriell eingebunden werden, sobald weitere parallele Zugriffspunkte erforderlich sind.
Der JT 2147 QuadPOD setzt sich zusammen aus einem JT 2148-Transceiver und vier unabhängige, programmierbare JT 2149 TAP-PODs und bietet eine optimale Signalkonditionierung des Boundary Scan Controllers der DataBlaster Serie.
Die TAP-Pods werden direkt am QuadPod Transceiver eingesteckt. Durch einfaches Abdocken kann der TAP-Pod mit dem mitgelieferten Kabel um einen Meter verlängert werden, um längere Distanzen zwischen Controller und Prüfling zu überbrücken.
Der JT 2148-Transceiver steht in Standard- (/10) oder Industrievariante (/13) zur Verfügung. Die /13-Variante umfasst einen SCSI-Kabel-Splitter. Der Splitter setzt die SCSI Kable entsprechend um. So können Flachbandkabel verwendet werden, welche die Integration in Adapter in einigen Fällen erleichtern kann.
Der JT 2137 POD wird in Kombination mit unseren Controllern der Datablaster Serie oft verwendet. Vorallem dann, wenn der Pod direkt im Adapter integriert werden muss, um die Signaltintegrietät zu gewährleisten. Der JT 2137 bietet vier TAPs Pods, die gemeinsam auf 5 V oder 3,3 V TTL eingestellt werden können. Des Weiteren sind weitere Module verfügbar, die alternative Grenzwerte auf TAP-Basis ermöglichen (Details erhalten Sie bei Ihrem lokalen Vertriebsbüro). Die 20-poligen 0,1″ IDC TAP-Stecker entsprechen dem standardmäßigen JTAG Technologies-Ausgang und bieten zusätzliche Möglichkeiten zur Flash-Programmierung mit Read/Busy und AutoWrite.
Der JT 2147/DAK ist eine spezielle Bauform unseres QuadPods welche für die MAC Panel “Scout” Übergabeschnittstelle entwickelt wurde. Die Einheit beinhaltetn nicht nur unseren JT2148 Tranceiver sondern auch vier unabhängige, programmierbare TAP-Pods vom Typ 2149 auf einer Leiterplatte, welche dem Forfaktor des MAC Panel Direct Access Kit (DAK) entspricht.
Der JT 2147/VPC ist eine Variante der QuadPOD-Schnittstelle zur Signalkonditionierung von JTAG Technologies und wurde speziell für die Virginia Panel Corporation – Mass Interconnect Schnittstelle entwickelt.
Die Einheit beinhaltet sowohl den JT 2148-Transceiver, zwei unabhängige, programmierbare TAP-Module (vom Typ JT 2149) und zwei TAP-Module mit I/O Signalen (vom Typ JT 2149/MPV). Die Module sind auf einer Leiterplatte integriert, die über die VPC QuadraPaddle-Steckverbinder vom Typ G20x oder G14x angeschlossen werden.
Erweitern Sie Ihr aktuelles JTAG-Testsystem um Mischsignalstimuli und Messfunktionen – mit dem JT5112 MIOS (Mixed-signal I/O Scan, Mischsignal-I/O-Scan).
Der JT 5112 im stoßfesten Gehäuse funktioniert mit allen Controllern der JT 37xx-Serie. Messen und generieren Sie analoge Werte von bis zu 30 V auf bis zu acht Kanälen. Digitaler I/O auf bis zu 64 Kanälen. Zusätzliche Frequenzmessungsmöglichkeiten und benutzerprogrammierbare Funktionen. Standardmäßige 0,1-Zoll-IDC-Verbindungen auf der Vorderseite der Einheit. JTAG TAP und Stromversorgung auf der Rückseite.
Das JT 2111/MPV ist ein digitales I/O-Scan-Modul mit 64 Kanälen in einem kompakten Gehäuse. Das Modul dient dem Testen und der Ansteuerung von externen Schnittstellen, On-Board-Verbindern und logischen Clustern bei Boundary Scan-Anwendungen. Um die Anzahl I/Os zu erhöhen, können mehrere Module seriell miteinander verbunden werden.
Folgende Schnittstellen sind Verfügbar:
- 96-poligen DIN 41612-Stecker
- 20-poligen 0,1″ Pitch IDC-Stecker
Das JT 2122/MPV DIOS (digitales I/O-Scan-Modul) erhöht die Abdeckung und verbessert die Diagnoseauflösung der Boundary Scan Tests durch Erweiterung des Testzugriffs über Stecker und/oder Testpunkte. JT 2122/MPV DIOS bietet bidirektionalen, parallelen Scan-Zugriff auf bis zu 128 oder 133 I/O.
Die TAP-Signale können über den 168-polige Modulstecker oder über einen separaten 10-poligen Stecker mit dem Prüfling verbunden werden. Ein TAP-OUT Ausgang bietet die Möglichkeit weitere DIOS-Moduel in die Kette aufzunehmen bzw. den Prüfling zu kontaktieren.
Das JT 2124/F168 DIOS-Modul ist ein flexibel konfigurierbares DIMM-DIOS mit 128 Kanälen im vertrauten 168 Pin Design. Es ähnelt dem JT 2122/MPV, besitzt aber verschiedene erweiterte Funktionen. Darunter die Möglichkeit zur Programmierung von I/O-Grenzwerten über ein Segment von 16 Kanälen und einer Hot Swap Funktion.
Die JT 2127 STM-Reihe (Socket Test Modules) wurde für den Fertigungstest von PCB DIMM-Sockeln entwickelt. Sie ermöglichen das einfache Einsetzen des DIMM-Sockel direkt auf dem Prüfling und testet somit alle aktiven Signale, sowie die analogen Spannungen der einzelnen Power Pins (z. B. Vdd, Vddq, Vref und Vddspd). JT 2127 STMs bieten somit einen Strukturtest der DIMM-Sockel.
Informationen zu den verfügbaren Modulen und deren Spezifikation finden Sie unter den folgenden Registerkarten.
JT 2702/PCI-Slot ist eine Adapterlösung für den Fertigungstest von 32-Bit- und 64-Bit-PCI-Plug-In-Karten. JT 2702/PCI-Slot bietet die Möglichkeit den Prüfling direkt einzustecken und ist für 32-Bit- und 64-Bit-Versionen ausgelegt. Auf der Rückseite stehen zwei Sockel für unsere JT 2122/MPV DIMM DIOS-Module zur Verfügung, welche die DIOS-Kanäle zum Testen der PCI-Bussignale ermöglichen.
Beim Testen einer 32-Bit-Bus Karte stehen zusätzlich 19 I/O-Kanäle zur Verfügung. Welche über eine IDC Schnittstelle abgegriffen werden können und zur Testabdeckung bzw. Fehleranalyse mit dem Prüfling verdrahtet werden können. Beim Testen von Prüflingen mit 64-Bit-Bus Architektur, stehen insgesamt 83 zusätzliche Kanäle zur Verfügung.
JT2702/DDC (Dual DIMM Carrier) ist eine Erweiterung für unsere DIMM DIOS-Produkte und findet sein Anwendung oft direkt im Adapter oder zum Aufbau von Prüfplätzen zur Erweiterung des Testaufbaues mit einer großen Anzahl von I/O Kanälen bei minimalen Platzbedarf.
Durch das Bestücken des JT 2702/DDC mit einer oder zwei DIMM/168-DIOS-Einheiten von JTAG Technologies kann der Anwender ein I/O-System mit 128 oder 256 Kanälen modular aufbauen. Da die Einheiten auch seriell Kaskatierbar sind, lassen sich mit Leichtigkeit auch mehr als 1000 I/O bei relativ geringen Kosten umsetzen. Der Zugriff auf die Kanäle erfolgt über acht Standard 40-poligen 0.1”-IDC-Anschlüsse.
Der JT 2127/Flex STM-Memory Socket Tester ist eine Familie von Hardwareadaptern, die speziell für das Testen von PCB-bestückten DIMM- & SODIMM-Sockeln unter Verwendung eines JTAG/Boundary-Scan-Controllers und entsprechender Software entwickelt wurde. Das Testen von Speichersockeln war für Test- und Produktionsingenieure, die JTAG/Boundary-Scan-Systeme verwenden, schon immer problematisch. Selbst wenn es möglich ist, Speicher Schreib-/Leseoperationen von einem Boundary-Scan-kompatiblen Baustein auf dem UUT (Unit Under Test) durchzuführen, kann der Initialisierungsprozess fehlschlagen, so dass Sie nur wenige Diagnoseinformationen erhalten. Außerdem kann es immer noch unklar sein, ob der Fehler am DIMM-Modul selbst oder am Sockel liegt. Mit dem neuen JT 2127-Flex-System von JTAG Technologies erhalten Sie eine punktgenaue Diagnose von einer bewährten Testschnittstelle, so dass Sie sicher sein können, dass Ihr Sockel korrekt verlötet ist.
Für Kunden, die unsere Software an unterschiedlichen Arbeitsplätzen (Computer) einsetzten möchten, bieten wir die Möglichkeit einen USB Key incl. entsprechendem Lizenzschlüssel zu erwerben. Bitte fügen Sie den USB Key bei Ihrer Softwarebestellung hinzu. Dementsprechend erhalten sie dann ein RMS Lizenz File welches dem USB Key zugeordnet ist.
Mit dem JT 2135 Extender können TAP-Signale von der Basis JT 2137 Classic Pod um bis zu einem Meter verlängert werden, wobei die Frequenzspezifikation des Pod erhalten bleibt. Das aktive Modul im JT 2135 kompensiert die TDO-Signalrücklaufzeit des längeren Schnittstellenkabels. Mehrere JT 2135 Module können implementiert werden, wenn eine größere Distanz überbrückt werden muss.
Der JT 2139 ist ein TAP-Isolator zur Verwendung in „kombinierbaren“ Testsystemen (ICT; FKT usw). Kommen mehrer Testverfahren zum Einsatz, müssen bestimmt Signale teilweise weggeschalten werden, um parasitäere Kapazitive bzw. ungewollte Groundschleifen zu vermeiden. Der JT 2139 dient zur kompletten galvanischen Isolierung des Boundary-Scan-Controllern von JTAG Technologies vom Rest des Messaufbaus.
JT 2149-con erlaubt den einfachen Anschluss von TAP-Pods und SCIL-Modulen am JT 37×7/RMI – (19″ Rack-Controller mit DIOS).
Im Lieferumfang enthalten ist die Adapterplatine, die das einfache Verbinden/Verlängern des JT 2149 Moduls am JT 2149/RMI Rack ermöglicht. Somit kann der TAP-POD schnell und einfach um1 Meterverlängert werden.
Unser JT 2154 Board ist eine Experimentierboard auf Basis des National Semiconductor STA111. Dieses wurde für Benutzer entwickelt, die adressierbare Multiplexer in ihren Entwürfen einsetzen möchten, um den JTAG-Zugriff auf Systemebene zu realisieren. Der Baustein wird sehr oft auch fest im Testaufbau integriert, um die benötigte Anzahl von TAP (Test Access Port) zu erreichen. So können Prüfanforderungen, mit sehr hoher TAP Anzahl, auf Systemebene bewältigt werden.Durch die vollständige Unterstützung der ScanBridge in ProVision, können Strukturen mit hoher TAP Anzahl ohne Probleme integriert werden, da Geräteadressierung und TAP Zuweisung in der Software implementiert wurde.
Unser JT 2156-Trainingsboard wurde entwickelt, um alle aktuellen Boundary Scan Test und Programmierfunktionen zu demonstrieren und die Funktionsweise unsere Software aufzuzeigen. Die Testabläufe sind vollständig in die Entwicklungsumgebung ProVision und unserem JTAG Live Softwarepaket integriert. Das Board wurde in Zusammenarbeit mit dem regionalen Benelux-Vertreter von Altium – Transfer BV sowie von der Firma DsignWorx BV, die sich auf Consulting im Bereich der Hardwareentwicklung spezialisiert haben, entwickelt. Die Anwender von Altium haben die Möglichkeit anhand dieses Board die Vorgehensweise zur Implementierung der Funktionen einer Nano-Platine für Ihr eigenes Design näher kennenzulernen.
SCIL-Module umfassen eine Reihe vorprogrammierter Pods, die in der Regel den Platz eines normalen TAP-Pods im DataBlaster QuadPod-System einnehmen und eine spezielle Funktion beinhalten. Auf Basis des JT 2149/MPV-DIOS-Moduls mit 32 Kanälen stehen SCIL-Module für verschiedene Logikfunktionen zur Verfügung. Alternative Hardwaremodule um SCIL-Funktionen zu implementieren sind unsere JT 2111/MPV (Desktop-DIOS) oder die JT 2122/MPV (DIMM-DIOS) Hardware. In den derzeit verfügbaren SCIL-Module, die zur Verbesserung der Testabdeckung dienen, wurden Funktionen wie Zähler/Timer und Mustergenerator/Komparator implementiert. Weitere SCIL Module kommen in Kombination mit unseren SCIP-Softwarepaketen zum Einsatz, welche die In-System-Programmierung bestimmter Bausteine ermöglicht. Somit besteht zum Beispiel die Möglichkeit Teile des Freescale Bausteins über BDM oder die Mono8 Schnittstelle zu programmieren. Ebenfalls werden SPI, I2c und das One-Wire Protocol von Microchip unterstützt.
Weitere SCIL-Modulfunktionen können auf Kundenanfrage jederzeit implementiert werden. Wenden Sie sich einfach an Ihre lokale Vertriebsniederlassung.
Mit unserem BSDL Verfier/Generator haben Sie die Möglichkeit die Syntax eines bestehenden BSDL Files (Boundary Scan Description Language)eines einzelnen Boundary Scan Bausteins zu prüfen bzw. komplett zu erstellen, falls dieses nicht vorhanden sein sollte. Dies geschieht gemäß des IEEE 1149.1b Boundary Scan Standards. Das BSDL File beschreibt die Boundary Scan Merkmale des Bausteins, wie z.B. die Scan Register Läge, den ID Code oder die verfügbaren Befehlaufrufe usw.
JTAG TapCommunicator ermöglicht die Ausführung und Diagnose von Boundary-Scan-Anwendungen über Fernzugriff, unabhängig von Entfernung und äußere Einflüsse. Das Standardsystem basiert auf einer Ethernet-Verbindung mit 1 GBit (IEEE Std 802.3z) für nahezu unbegrenzte Reichweite zwischen Controller und Ziel. Die TapSpacer-Technologie, auf der TapCommunicator basiert, ermöglicht es neben dem IEEE Std. 802.3z weitere Kommunikationsprotokolle zu verwenden. Wenn Sie Informationen zur Verwendung von anderen Protokollen als Ethernet benötigen, wenden Sie sich bitte direkt an JTAG Technologies.
Das Standardsystem bietet einen „Uplink“ (Primärmodul, JT 2143) in der Nähe des Boundary-Scan-Controllers, sowie einen oder mehrere „Downlinks“ bzw. Sekundärmodule (JT 2144) am Ziel.
Wir helfen Ihnen gerne weiter!
Durch die enge Zusammenarbeit mit unseren Kunden konnten wir Tausende Testprobleme lösen. Sobald Sie Kunde von JTAG Technologies werden, sind Sie ein integraler Bestandteil unseres Unternehmen und haben ebenfalls vollen Zugriff auf unser weltweites Support-Netzwerk.
