ATE Integration

Möchten Sie die gesamte Testabdeckung Ihrer bestückten Leiterplatten verbessern? Es ist ganz einfach: Kombinieren Sie einfach Ihre JTAG Technologies Boundary-Scan-Tools mit Ihren vorhandenen automatischen Testsystemen (ATE). Wir arbeiten mit jedem Anbieter von In-Circuit-Testern (ICT), Flying Probes (FPT) oder Funktionstestern (FT) zusammen.

Mit der Unterstützung des Hauptsitzes von Takaya in Europa, Systech Europe in Düsseldorf Deutschland, hat JTAG Technologies eine Integrationslösung entwickelt, die vier I/O-Signale aus dem Standard-JT 37×7-Controller-POD verwendet, um diese mit den vier Flying Probes eines 9400-Systems zu verbinden. Auf Basis dieser Integration werden auch die aktuellen Systeme APT-1400F und APT-1600FD unterstützt. Die spezielle Version der JTAG-Ausführungssoftware ermöglicht das treiben und lesen der Probes des Takaya Flying Probe Systems. Signale können über Boundary-Scan getrieben und mit den Flying Probes rückgelesen werden und umgekehrt. Ergebnisse und Diagnosen werden in der Takaya Software übernommen.

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