Seica Flying probe

FPT: PILOT NEXT> Series
VIVA Next> Series
JT 3703/USB + JT 2118
ProVision Platform/Test

JTAG Technologie verbindet eine langjährige Partnerschaft mit Seica Spa, mit dem Headoffice in Italien. Gemeinsam wurden einer der ersten Integrationslösungen von Boundary Scan Lösungen in einen Flying Probe umgesetzt. Für die Ausführung von Boundary Scan Anwendungen auf der neuesten Generation von Flying Probe Testern, der Pilot Next> Serie, wird der kompakte JT3703/USB Boundary Scan Controller zusammen mit dem JT2118 I/O Modul in die den Prober integriert.

Der JT3703/USB Controller kann direkt auf dem FlyPod des Seica Systems montiert werden. Durch diese “close-to the Probe” Integration, können die TAP-Signale optimal für den Fertigungstest des UUTs (Unit Under Test) zur Verfügung gestellt werden. Die I/O Kanäle des JT2118 Moduls können individuell auf die einzelnen Flying Probes geschalten werden, um so einen zusätzlichen Boundary Scan Zugriff zur Verfügung zu stellen. Darüber hinaus gibt es den Boundary Scan Test Entwickler die Möglichkeit über externe Stecker oder Testpunkte weitere Boundary Scan Drive/Sense Signale einzusetzten, um weitere Test zu erstellen, welche mit den vorhandenen Onboard JTAG/Boundary Scan Ressourcen nicht möglich gewesen wäre. Beispiel sind das Detektieren von offenen Verbindungen an Steckerverbindungen, der Test von Logik Clustern oder die In-System-Programmierung.

Die Boundary-scan Applikationsentwicklung wird mit den Softwarepaket ProVision von JTAG Technologies durchgeführt. Hier werden neben der Netzliste und der BOM der Baugruppe, jetzt auch die möglichen Zugriffspunkte des Seica Flying Probe Systems berücksichtig. Die Boundary Scan Applikationen werden zur Laufzeit über die Seica Viva Next> Software ausgeführt. Jedoch hat der Testprogrammentwickler während des Debuggens/Validierung der Boundary Scan Test volle Kontrolle über die Probes, um so die Inbetriebnahme zu beschleunigen.

  • Eine Bediener-GUI im Produktionsumfeld
  • Höhere Abdeckung als Boundary-Scan allein
  • Kombinierter Testreport
  • Nur ein Produktionsschritt
  • Vereinfachter bzw. kein Adapter notwendig
  • 4 Test Access Ports (TAPs)
  • Max. 35 MHz TCK
  • USB- oder Ethernet Anschluss für Boundary Scan Controller
  • Mittleres bis hohes Produktionsvolumen
  • Boundary-Scan-Tests: Infra, Verbindungen, Speicherverbindungen, Cluster
  • Kombiniertes Testen mit ICT bzw. FP und Boundary-Scan
  • Flash-Programmierung
  • PLD-Programmierung