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JTAG ProVision

Application Dev Repair Run-time
Board- und Systemtest und Bausteinprogrammierung
Multi Board Systeme mit separaten Netzlisten
Hochpräzise Feherabdeckungsanalyse
Beinhaltet Sequencer zur Ausführung (AEX Manager)

Die JTAG ProVision-Software-Suite findet Ihr Einsatzgebiet bei der Erstellung von Boundary-Scan-Tests und Programmieranwendungen für bestückte Leiterplatten und Systeme. Dieses professionelle Boundary Scan Entwicklungstool ist vollständig automatisiert und unterstützt den Import der Entwurfsdaten von mehr als 30 verschiedenen EDA- und CAM-Systemen. Zu den weiteren wichtigen Datenimporten zählen die BSDL files der JTAG Bausteine und die große, bestens gepflegte Modellbibliothek für tausenden Nicht-Boundary Scan fähige Bausteine.

Funktionsweise

Mit ProVision und der dazugehörigen Projektdatenbank können Sie schnell und einfach eine breite Palette von Test- und Progammieranwendungen erstellen. Diese Applikationen können jederzeit validiert, optimiert und in ProVision ausgeführt werden, noch bevor diese in eine fertige Testsequenz zusammengefasst und an die Fertigung übergeben werden.

Das ProVision Entwicklungspaket beinhaltet Tools zur Analyse der Testbarkeit der Baugruppe und der Möglichkeit diese zu visualisieren. Somit können Sie sich noch während der Testprogrammerstellung einen schnellen Überblick über die aktuelle Testtiefe verschaffen, um eventuelle Erweiterungen noch vor der Freigabe einzupflegen.

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  • Leicht zu erlernen, erfordert nur minimale Kenntnisse
  • Einfach zu verwenden, dank des integrierter Anwendungsassistenten
  • Einfache Erstellung von Leiterplatten- und Systemtests sowie zur Bauteilprogrammierung
  • Abwärtskompatibel zu anderen JTAG-Tools
  • Nahtlose Verbindung zu Visualisierung und Boundary-Scan-Diagnose
  • Integriertes Tool zur Analyse der Baugruppe (Fault Coverage)
  • Minimaler Schulungsaufwand
  • Weltweite Unterstützung durch werkseitig geschulte Applikationsingenieure
  • ProVision ist das aktuell umfassendste Werkzeug zur Boundary Scan Testprogrammentwicklung und wurde für einzelne Leiterplatten- bzw. Systemtest entwickelt. ProVision unterstützt den klassischen Strukturtests mehrerer Scan Ketten, den Infarstrukturtest, Interconnectest, IEEE std 1149.6-Verbindungen, Speicher-Cluster, digitalen Logik-Cluster sowie Mixed Signal-Cluster. Mit ProVision können Sie außerdem Programmieranwendungen für CPLDs, FPGAs, serielle PROMs, I2C & SPI-Geräte, NANDFlash etc. können ebenfalls durchgeführt werden. Die gesamte Fehlerabdeckung kann mit unserem integrierten Fault Coverage Report analysiert werden. Die Ergebnisse lassen sich in die Formate HTML und CSV exportieren.
  • JTAG ProVision wird fortlaufend verbessert. Neue Features und Baugruppenmodelle werden regelmäßig ein gepflegt und über den Support-Bereich schnell und unkompliziert an unsere Kunden weitergeleitet.
  • JTAG Provision unterstützt derzeit alle Bausteine der folgenden Hersteller. Sollte ein Baustein nicht dabei sein, lassen Sie uns dies bitte wissen, damit wir diesen in unserer Modellbibliothek ergänzen können.

JTAG Provision unterstützt derzeit Bausteiner aller Hersteller in der nachfolgenden Übersicht. Wird einer Ihrer Bausteine nicht unterstützt, nehmen Sie bitte Kontakt zu uns auf, damit wir unsere Modellbibliothek aktualisieren können.

Unterstützte Bausteinhersteller
0 – C C – G G – M M – P P – S S – Z
3DPlus Cosmo Golledge Macroblock Pletronics STEC
Abilis Crystek Greenliant Macronix PLX Summit
Abracon CSR GSI Marvell PMC-Sierra Supertex
Aeroflex CTS HALO Maxim PnpNetwork SynQor
Agilent Cypress Hamlin Maxwell Potato Taitien
AKM Dallas Hitachi MCC Power-One TE Connectivity
Allegro Davicom Hittite Measurement Specialties Premier Teledyne
Alliance DDC HMP Micrel Profichip Telefunken
Alpha&Omega DDD Holt Micro Crystal ProTek Temex
Altera Delta Honeywell Microchip PTC Teridian
AMCC Device Engineering, Inc. Hynix Micron Pulse THine
AMD Diodes I&C Microsemi Qimonda TI
AMIC E.C.O. IC+ Milandr Rakon Torex
AMIS E2V ICmic Mindspeed Ramtron Toshiba
AMS Ecliptek ICS Mini-Circuits Realtek Traco
Analog ECS ID-MOS Mitsubishi Recom Trinamic
Analogic Elmos IDT Molex Renesas TriQuint
Anpec Elpida IMI MPS Richtek TrueLight
Apacer EM Infineon msystems Ricoh Tyco
Aptina Emerson Inova MtronPTI Rohm u-blox
Asix EMLSI Inrevium Murata Rood Ubicom
Atheros EnergyMicro Intel Music RSG Vectron
ATI Enpirion Intersil Nanya Samsung Vicor
Atmel Eon InvenSense National Sandisk Vishay
Austin Epson IQD NEC Sanyo Vitesse
Avago Erg IR Neosid Seiko VLSI
Batron Ericsson ISSI NetPower Semtech VPT
Beckhoff ESMT ITE NexFlash Sensirion VTI
Bel Everspin Jauch NHi Sharp White
BH Electronics Exar KDS NI Siemens Winbond
BI Excel Kionix NJRC SiI WIZnet
Bosch Explore Lantiq NKK Switches SiLabs Wolfson
Bourns Fairchild Lantronix Nordic Silicon7 Würth
Broadcom Finisar Lapis Numonyx SiliconMotion XFMRS
CAMD Firecomms Lattice NVE Simtek Xicor
Catalyst Firecron Legend NXP Sipex Xilinx
CERN FMI Lesswire Oki SiTime XP
Chiplus Fordahl Lineage Omron Skyworks Zarlink
Chrontel Fortasa Lite-On ON SmarDTV Zetex
Cincon Fox Littelfuse OSRAM SMSC Zettler
Cirrus Freescale Logic Devices Panasonic Solid State Optronics Zilog
Clare FTDI LS Research Peregrine Sony ZMD
CML Fujitsu LSI Pericom Spansion
Coilcraft Gaia LSI-CSI PhaseLink SST
Conner-Winfield Genesys LTC Philips ST
Cortina Gennum M/A-COM Phoenix Contact ST-Ericsson