JTAG Maps für Atlium

JTAG Maps ist eine Erweiterung des Altium Designer EDA-Systems, die es dem Anwender/Ingenieur ermöglicht, die Möglichkeiten der JTAG-Bausteine in ihrem Design schnell zu beurteilen. Bisher mussten Ingenieure oft Stunden damit verbringen, die Boundary-Scan-Netze eines Designs manuell hervorzuheben, um die Fehlerabdeckung zu bestimmen. Heute leistet die kostenlose JTAG Maps for Altium-Plugin all dies und noch mehr, wodurch wertvolle Zeit eingespart, ein gründlicheres DfT ermöglicht und die Markteinführung beschleunigt wird.

 

Mit oder ohne Boundary-Scan-Modelle – Die BSDL Modelle (Boundary-Scan-Description-Files) sind für jeden JTAG/Boundary-Scan-Prozess von zentraler Bedeutung, da sie genau angeben, welche Pins von JTAG/Boundary-Scan angesteuert oder ausgelesen werden können. JTAG Maps für Altium kann mit oder ohne BSDL-Modelle arbeiten und enthalten eine Option “assume scan covered”. Diese Funktion kann verwendet werden, um die Fehlerabdeckung eines Stecker (unter Annahme, dass das Netz getestet werden kann) anzuzeigen oder um die Unterschiede in der Fehlerabdeckung in einem definierten Bereich darzustellen. JTAG Maps for Altium zeigt automatisch die TAPs (Test Access Ports) auf Basis Ihrer Schaltplandaten an. Die zu den TAPs zugehörigen JTAG-Signale werden getrennt von den “testbaren” Netzen hervorgehoben.

 

Sowohl Import als auch Export – die meisten Anwender werden die Anzeige des Boundary Scan Zugriffes verwenden, den JTAG Maps für Altium erzeugt. Jedoch ist es ist es möglich, ein noch detaillierteres Bild zu importieren. Nach der Erstellung eines JTAG ProVision-Projekts können die Daten zur weiteren Analyse in Altium dargestellt werden. Eine einfache Textdatei, mit vollständigen Fehlerabdeckung, kann dann zur Anzeige/Visualisierung wieder in JTAG Maps eingelesen werden.

 

Optionale Entwickler-Tools – für Ingenieure, die JTAG/Boundary-Scan-Tests direkt auf ihr Design anwenden möchten, bietet JTAG Technologies zwei weitere Optionen: JTAG Live für kostengünstige Funktionstests mit Boundary-Scan und JTAG ProVision, ein vollwertiges automatisiertes System zur Testprogrammerstellung und Bausteinprogrammierung.

  • Schnelle Anzeige der Boundary-Scan-Zugriffs
  • Unterstützt den DfT-Prozess
  • Beschleunigt die Produktentwicklung
  • Schnelleres Time-to-Market

JTAG Maps ist das ideale Ergänzungstool direkt im  Altium Designer und unterstützt Ingenieure, welcher für den Bereich DfT (Design for Test) verantwortlich ist. JTAG/Boundary-Scan ist die Testmethode zur Prüfung von Baugruppen mit digitaler Struktur (unter Verwendung von Bausteinen wie FPGAs, CPLDs, Mikroprozessoren, Mikrocontrollern usw.). JTAG Maps ermöglicht einen schnellen und einfachen Überblick über das Boundary-Scan-Testpotenzial Ihres Designs.

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