Back

JT 57xx/RMIc

Rack mount
Gehäuse
4 slots
Kompaktes 1U 19" Rack Gehäuse
Rackmontage möglich

Das neu konzipierte, JTAG-powered PCB Tester- und Programmiersystem – das JT 57xx/RMIc ‚CombiSystem‘ besteht aus einem schlanken 19″ Rackmount Gehäuse, das bis zu vier kundenspezifische Module aufnehmen kann, welches aus verschiedenen JTAG (IEEE 1149.x) Controllern, digitalen I/Os und analogen I/Os und anderen Messmodulen definiert werden kann.

– JT 5705/RMIc – ¼ Slot Modul

– JT 37×7/RMIc – ½ Slot Modul

– JT 5112/RMIc – ¼ Slot Modul

– JT 5111/RMIc – ¼ Slot Modul

Für alle Spezifikationen siehe Tab unten.

Jedes der Module bietet ähnliche Spezifikationen wie die entsprechenden Benchtop Systeme, profitiert jedoch von einem höheren Kanal- und TAP-Ausbau, bei geringem Platzbedarf und niedrigeren Gesamtkosten. Durch die Kombination und Anpassen der Module können Anwender sozusagen eine „unbegrenzte“ Anzahl von  JTAG/Boundary-Scan-Teste und Programmiersysteme konfigurieren, welche für die kostengünstigste Lösung benötigt wird.

Datenblatt herunterladen
Angebot anfordern
Beratung anfordern
  • Vier Modulsteckplätze für Controller, digitale IOS oder MIOS
  • Ausbau bis zu 256 I/O-Kanäle und acht TAPs möglich
  • High-speed (15MHz) und Ultra-High-speed (40MHz) Controller stehen zur Verfügung
  • Messoptionen für Frequenz, PWM und VDC (analog)
  • Analoge Quelle und Taktgenerator
  • Konfigurieren Sie Ihren kundenspezifischen Tester/Programmer
  • Unterstützt analoge und digitale I/O-Kanäle
  • Alle Testsignale stehen am Frontpanel zur Verfügung
  • Benutzerkonfigurierbare Funktionen über eingebettetes FPGA
  • Kompaktes 1U 19″ Gehäuse

JT 5705/RMIc (1/4 Slot)

  • Zwei 1149.x-konforme Test Access Ports (TAPs)
  • TCK bis zu 15 MHz
  • Auto Write Signal  für schnelle Flash-Programmierung
  • 64 I/O-Kanäle
  • 8 analoge Eingangs- und/oder Ausgangskanäle (untermenge der 64 I/Os)
  • Genauigkeit der generierten Werte  +/- 0,45%.
  • Genauigkeit der gemessenen Werte +/- (0,4% + 100mV)
  • Analoger Bereich 0 bis + 30,0 oder ± 15,0V
  • Frequenzgenerator
  • PWM Counter
  • Frequenzmessungen bis 128 MHz

JT 37×7/RMIc-DIO-0 (1/2 Slot)

  • 4 x 1149.x-konforme Test Access Ports (TAPs)
  • TCK bis zu 40 MHz kontinuierlich
  • 16 statische E/As
  • ETT-Technologie für schnelle Flash-Programmierung
  • Konfigurierbarer Flash-Bildpuffer
  • JT 37×7/RMIc-DIO-64 (1/2 Breite)
  • Vier 1149.x-konforme Test-Zugangsports
  • TCK bis zu 40 MHz (kontinuierlich)
  • 64 I/O Kanäle
  • 16 statische I/Os
  • ETT-Technologie für schnelle Flash-Programmierung
  • Konfigurierbarer Flash-Image Buffer

JT 5112/RMIc (1/4 Slot)

  • 64 I/O-Kanäle
  • 8 analoge Eingangs- und/oder Ausgangskanäle (untermenge der 64 I/Os)
  • Genauigkeit der generierten Werte  +/- 0,45%.
  • Genauigkeit der gemessenen Werte +/- (0,4% + 100mV)
  • Analoger Bereich 0 bis + 30,0 oder ± 15,0V
  • Frequenzgenerator
  • PWM Counter
  • Frequenzmessungen bis 128 MHz

JT 5111/RMIc (1/4 Slot)

  • 64 Digitale I/O-Kanäle
  • Digitaler Ausgangsbereich (1,0 – 3,6 V)