JT 57xx/RMIc

Das neu konzipierte, JTAG-powered PCB Tester- und Programmiersystem – das JT 57xx/RMIc ‘CombiSystem’ besteht aus einem schlanken 19″ Rackmount Gehäuse, das bis zu vier kundenspezifische Module aufnehmen kann, welches aus verschiedenen JTAG (IEEE 1149.x) Controllern, digitalen I/Os und analogen I/Os und anderen Messmodulen definiert werden kann.

  • JT 5705/RMIc – ¼ Slot Modul mit zwei (15MHz) TAPs und 64 Mixed-Signal-IO (MIOS)-Kanälen
  • JT 37×7/RMIc – ½ Slot Modul mit vier (40MHz) TAPs, sechzehn statischen IO-Kanälen und optional 64 digilalen IO-Kanälen (DIOS)
  • JT 5112/RMIc – ¼ Slot Modul mit 64 Mixed-Signal-IO-Kanälen (MIOS)
  • JT 5111/RMIc – ¼ Slot Modul mit 64 digitalen IO-Kanälen (DIOS)

 

Jedes der Module bietet ähnliche Spezifikationen wie die entsprechenden Benchtop Systeme, profitiert jedoch von einem höheren Kanal- und TAP-Ausbau, bei geringem Platzbedarf und niedrigeren Gesamtkosten. Durch die Kombination und Anpassen der Module können Anwender sozusagen eine “unbegrenzte” Anzahl von  JTAG/Boundary-Scan-Teste und Programmiersysteme konfigurieren, welche für die kostengünstigste Lösung benötigt wird.

 

Features

  • Vier Modulsteckplätze für Controller, digitale IOS oder MIOS
  • Ausbau bis zu 256 I/O-Kanäle und acht TAPs möglich
  • High-speed (15MHz) und Ultra-High-speed (40MHz) Controller stehen zur Verfügung
  • Messoptionen für Frequenz, PWM und VDC (analog)
  • Analoge Quelle und Taktgenerator
  • Konfigurieren Sie Ihren kundenspezifischen Tester/Programmer
  • Unterstützt analoge und digitale I/O-Kanäle
  • Alle Testsignale stehen am Frontpanel zur Verfügung
  • Benutzerkonfigurierbare Funktionen über eingebettetes FPGA
  • Kompaktes 1U 19″ Gehäuse

Testen und Programmieren von Mixed-Signal-Designs mittlerer bis hoher Komplexität, Integration in funktionale ATE-Testsysteme.

JT 5705/RMIc (1/4 Slot)

  • Zwei 1149.x-konforme Test Access Ports (TAPs)
  • TCK bis zu 15 MHz
  • Auto Write Signal  für schnelle Flash-Programmierung
  • 64 I/O-Kanäle
  • 8 analoge Eingangs- und/oder Ausgangskanäle (untermenge der 64 I/Os)
  • Genauigkeit der generierten Werte  +/- 0,45%.
  • Genauigkeit der gemessenen Werte +/- (0,4% + 100mV)
  • Analoger Bereich 0 bis + 30,0 oder ± 15,0V
  • Frequenzgenerator
  • PWM Counter
  • Frequenzmessungen bis 128 MHz

JT 37×7/RMIc-DIO-0 (1/2 Slot)

  • 4 x 1149.x-konforme Test Access Ports (TAPs)
  • TCK bis zu 40 MHz kontinuierlich
  • 16 statische E/As
  • ETT-Technologie für schnelle Flash-Programmierung
  • Konfigurierbarer Flash-Bildpuffer
  • JT 37×7/RMIc-DIO-64 (1/2 Breite)
  • Vier 1149.x-konforme Test-Zugangsports
  • TCK bis zu 40 MHz (kontinuierlich)
  • 64 I/O Kanäle
  • 16 statische I/Os
  • ETT-Technologie für schnelle Flash-Programmierung
  • Konfigurierbarer Flash-Image Buffer

JT 5112/RMIc (1/4 Slot)

  • 64 I/O-Kanäle
  • 8 analoge Eingangs- und/oder Ausgangskanäle (untermenge der 64 I/Os)
  • Genauigkeit der generierten Werte  +/- 0,45%.
  • Genauigkeit der gemessenen Werte +/- (0,4% + 100mV)
  • Analoger Bereich 0 bis + 30,0 oder ± 15,0V
  • Frequenzgenerator
  • PWM Counter
  • Frequenzmessungen bis 128 MHz

JT 5111/RMIc (1/4 Slot)

  • 64 Digitale I/O-Kanäle
  • Digitaler Ausgangsbereich (1,0 – 3,6 V)

Konfigurieren Sie Ihr eigenes System aus den vier verfügbaren Module.

Wir helfen Ihnen gerne weiter!

Durch die enge Zusammenarbeit mit unseren Kunden konnten wir Tausende Testprobleme lösen. Sobald Sie Kunde von JTAG Technologies werden, sind Sie ein integraler Bestandteil unseres Unternehmen und haben ebenfalls vollen Zugriff auf unser weltweites Support-Netzwerk.