JT 37×7/RMIc DIO-0/64
Höchstgeschwindigkeits- und Hochleistungs JTAG Boundary-scan Controller mit bis zu 64 digitalen I/O (DIOS) Kanälen, wurde für den Einbau in das 19“-Rackgehäuse (JT 57xx/RMIc) entwickelt. Diese Hardware bietet drei PC-Standardschnittstellen: USB, Ethernet und Firewire.
Die JT37x7/RMIC DIO-0/64 Boundary-scan Controller Module sind für anspruchsvolle Testanwendungen in der Produktion ausgerichtet, wie z.B. die schnelle In-System Programmierung von Flash Speichern oder für Applikationen mit einer hohen Anzahl von Testvektoren. Die zusätzlichen DIOS-Kanäle ermöglichen es die Testabdeckung an Testpunkten oder Steckern zu erhöhen.
Der JT 37×7/RMIC DIO-0/64 DataBlasters ist ein leistungsfähiger Boundary-scan Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz und ist in verschiedenen Ausbaustufen (Speicheroptionen) verfügbar, um die spezifizierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird standardmäßig mit einem integrierten JT2147 ‚Quad Pod‘ geliefert. TAP- und DIOS Anschlüsse werden auf der Vorderseite über 20-Pin IDC-Stecker zur Verfügung gestellt.
Die gleiche High-Speed Controller Technologie ist ebenfalls als PCI/PCIe, PXI/PXIe und Desktop Formfaktor verfügbar.
- 19″ Rack mountable
- Test up to four boundary-scan chains simultaneously
- High-speed device programming
- optional 256 boundary-scan I/O’s to enhance test access and maximum coverage
- Three serial interfaces: USB (1.1 and 2.0), Ethernet and Firewire.
- Scalable architecture with easy expansion to match application requirements
- Automatic TCK speed matching and programmability for optimum chain performance, up to 40 MHz continuous data rate
- Enhanced Throughput Technology™ (ETT) & gang operation delivers high volume production capability
- Independent control of four TAPs per DataBlaster controller via JT 2147 QuadPOD™ system (included)
- Different QuadPod versions optionally available for maxiumum flexibility.
DataBlaster’s scalable architecture provides three levels of operating performance to match the application requirements:
- JT 3707: Base-level for board testing, CPLD programming and flash programming of small data blocks
- JT 3717: Board testing, CPLD programming, and programming of moderate-size flash memories in manufacturing and debugging
- JT 3727: All applications including board testing and in-system programming of large flash memories and CPLDs in manufacturing and debugging
- Modular function adaptation
- 40 MHz sustained TCK
- Four voltage programmable 1149.x TAPs (1.0V to 3.6V)
- Compatible with JT 2149/MPV-0xx SCIL modules
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