JT 37×7/PCIe

Built-in
40 MHz TCK max
4 TAPs
Externer QuadPod
PCIe Steckplätze

Hohe Geschwindigkeit, hohe Performance – Boundary-scan Controller als PCI-Express Einsteckkarte. Die JT37x7/PCIe Serie mit 4 Test Access Ports (TAPs) ist für anspruchsvolle Testanwendungen in der Produktion ausgerichtet, wie z.B. die schnelle In-System Programmierung von Flash Speichern oder für Applikationen mit einer hohen Anzahl von Testvektoren.

Die JT 37×7/PCIe DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbaustufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifizierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird standardmäßig mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ geliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.

Die gleiche High-Speed Controller Technologie ist ebenfalls als PCI, Desktop, PXI/PXIe und 19“ Rack Formfaktor verfügbar.

  • PCI express Bus Steckplatz
  • Gleichzeitiges Testen von bis zu vier Boundary-Scan-Ketten
  • High-speed Bausteinprogrammierung
  • Enhanced Throughput Technology™ (ETT) und Gang Modus (paralleler Test) für Produktion mit hohen Stückzahlen
  • Modulare Architektur zur einfachen Anpassung an unteschiedlichste Anforderungen
  • Programmierbare bzw. automatische TCK-Anpassung für optimale Performance der Ketten, Datenrate von bis zu 40 MHz
  • Enhanced Throughput Technology™ (ETT) und Gang Modus (paralleler Test) für Produktion mit hohen Stückzahlen
  • Unabhängige Steuerung der vier TAPs des JT 2147 QuadPOD™ (im Lieferumfang enthalten)
  • Optional sind weitere QuadPod Formate für den flexiblen Einsatz erhältlich
  • Modulare erweiterbar
  • 40 MHz kontinuierliche TCK
  • Programmierbare TAP Spannungen für jeden der vier 1149.x TAPs (1,0 V bis 3,6 V)
  • Kompatibel mit JT 2149/MPV-0xx SCIL-Modulen
  • Modulare DataBlaster-Architektur bietet drei Ausbaustufen für entsprechende Anforderungen:
    • JT 3707: Basissystem für Leiterplattentest, CPLD-Programmierung und Flash-Programmierung kleiner Datenblöcke
    • JT 3717:Leiterplattentest, CPLD-Programmierung und Programmierung mittelgroßer Flash-Speicher in der Fertigung und Debug
    • JT 3727: Alle Anwendungen, einschließlich Leiterplattentest und Insystem- Programmierung großer Flash-Speicher und CPLDs in der Fertigung und Debug.