JT 3705/USB EXPLORER

Der JT 3705/USB Explorer ein vielseitiger Boundary-scan Controller, der über USB angeschlossen und versorgt wird. Er stellt zwei unabhängige Test Access Boards (TAPs) zur Verfügung.

Der Controller eignet sich besonders für das Testen kleineren Stückzahlen und der In-System-Programmierung von (C)PLDs und kleinen Datenmengen eines Flash-Speichers.

Die beiden Boundary-scan Test Access Boards (TAPs) können für den Test synchronisiert werden, so dass die Testmuster zwischen den Bausteinen in den unabhängigen Ketten ausgewertet werden können.

Die Hardware bietet eine maximale programmierbare TCK-Geschwindigkeit von 6 MHz. Darüber hinaus können die Ausgangsspannung sowie der Schwellwert eingestellt werden.

Features

  • Schnelle Ausführung der Tests
  • Umfassende Kompatibilität
  • Leicht und kompakt

Dieses Produkt ist in unserem JTAG Live Shop erhältlich.

  • Zwei separate IEEE 1149.x Test Access Ports (TAPs) für flexiblen Einsatz
  • Programmierbare TCK-Frequenz (max. 6 MHz) und TAP-Threshold
  • Stromversorgung durch Host-PC
  • Im Lieferumfang: Standard-Pinout-Kabel von JTAG und „Flying Lead Set“
  • USB 1.1 und 2.0 kompatibel
  • Zwei vollständig kompatible 1149.x TAPs
  • TCK bis zu 6 MHz
  • Programmierbare TAP-Spannung
  • 57 mm Breite x 79 mm Tiefe x 16 mm Höhe
  • Gewicht: 49 g

JT 3705/USB eignet sich für Hardware-Debugging, Außendienst/Reparaturen und in der Produktion für Kleinserien.

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