JT 2122/MPV DIOS module

Das JT 2122/MPV DIOS (digitales I/O-Scan-Modul) erhöht die Abdeckung und verbessert die Diagnoseauflösung der Boundary Scan Tests durch Erweiterung des Testzugriffs über Stecker und/oder Testpunkte. JT 2122/MPV DIOS bietet bidirektionalen, parallelen Scan-Zugriff auf bis zu 128 oder 133 I/O.

Die TAP-Signale können über den 168-polige Modulstecker oder über einen separaten 10-poligen Stecker mit dem Prüfling verbunden werden. Ein TAP-OUT Ausgang bietet die Möglichkeit weitere DIOS-Moduel in die Kette aufzunehmen bzw. den Prüfling zu kontaktieren.

 

Features

  • Geringe Kosten
  • Verbesserung der Testabdeckung
  • Verbesserung der „Diagnoseauflösung“
  • DIOS-System mit ensprechend hoher Anzahl von Kanälen
  • Kleines, flaches Format, ideal zur Montage im Adapter
  • DIOS Modul kann in kombination mit der Trägerplatine JT 2702/DDC verwendet werden.

Verwenden Sie die JT2122 DIMM Module in Verbindung mit unseren JT2702 DIMM-Trägerplatinen zur kostengünstigen Bereitstellung eines hohen Pindaccounts und Erhöhung der Testabdeckung. So können aus der Kombination von Power Supplies, JTAG-Controller/Pod, DIOS-Modulen, Relais etc.eigene spezifische Testssyteme enwickelt werden, die durch den Einsatz von Wechseladaptern, für die unterschiedlichsten Anforderungen, ausgelegt sind.

  • 1,8 V bis 5,0 V PSU zulässig
  • Grenzwerte der Versorgungsspannung – Eingangstoleranz 5 V
  • Die I/Os sind in acht Segmenten mit 16 Kanälen gruppiert. Jedes Segment kann verkürzt (bybass) werden, um die Kette zu verkürzen.
  • 45 MHz max, TCK-tolerant

Wir helfen Ihnen gerne weiter!

Durch die enge Zusammenarbeit mit unseren Kunden konnten wir Tausende Testprobleme lösen. Sobald Sie Kunde von JTAG Technologies werden, sind Sie ein integraler Bestandteil unseres Unternehmen und haben ebenfalls vollen Zugriff auf unser weltweites Support-Netzwerk.