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JFT – JTAG Functional Test

Application Dev Repair Run-time
Testen von Logikbausteinen & Speicher
Grenzwerttests für benutzerdefinierte Variablen
Bibliotheken für I2C und SPI Kommunikation
Optionale Unterstützung von Emulativen Tests

JFT umfasst eine Reihe von Softwaremodulen, die Boundary-Scan-Test- und Programmiermöglichkeiten unter Python, LabVIEW von National Instruments sowie dem Microsoft .NET-Framework unterstützen. Mit JFT können Anwender JTAG/Boundary-Scan-Testanwendung per Script, VIs oder Programme für Bestückte Leiterplatten und Systeme erstellen. JFT bietet die Möglichkeit einzelne Treiber-/Sensorpins zu deklarieren,  Variable Pin-Gruppen zu definieren oder Registerbits zu steuern. Diese Anwendungen werden in der Regel zum Testen von Logikbausteinen oder Mixed-Signal-Clustern verwendet und können auch in wiederverwendbare Test-„Module“ umgewandelt werden. Durch die Kombination von JFT und embedded JTAG CoreCommander-Testmodulen entstehen effektive, kostengünstige System zum Test von Baustein Peripherie (ADCs, Speichercontroller usw.).

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  • Erstellen von Tests für Logik- und Speicherbausteinen
  • CoreCommander erlaubt Zugriff auf die Interne Struktur des Bausteins
  • Enthält Bibliotheken für I2C, SPI Kommunikation und Beispiele
  • Vielseitige Test-Entwicklungsumgebung
  • Support von populären Testentwicklungs-APIs
  • Beinhaltet umfassende Boundary-Scan-Steuerfunktionen
  • Optional emulativer Test über den  Mikroprozessorkern des Bausteins
  • Kostengünstige Boundary Scan Testprogrammumgebung ohne automatische Test Programmgeneratoren. Ermöglicht Testsystem Entwickler die einfache Integration von high Level Anforderungen mit Hilfe der JTAG Schnittstelle.

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