JFT – JTAG Functional Test

JFT umfasst eine Reihe von Softwaremodulen, die Boundary-Scan-Test- und Programmiermöglichkeiten unter Python, LabVIEW von National Instruments sowie dem Microsoft .NET-Framework unterstützen. Mit JFT können Anwender JTAG/Boundary-Scan-Testanwendung per Script, VIs oder Programme für Bestückte Leiterplatten und Systeme erstellen. JFT bietet die Möglichkeit einzelne Treiber-/Sensorpins zu deklarieren,  Variable Pin-Gruppen zu definieren oder Registerbits zu steuern. Diese Anwendungen werden in der Regel zum Testen von Logikbausteinen oder Mixed-Signal-Clustern verwendet und können auch in wiederverwendbare Test-“Module” umgewandelt werden. Durch die Kombination von JFT und embedded JTAG CoreCommander-Testmodulen entstehen effektive, kostengünstige System zum Test von Baustein Peripherie (ADCs, Speichercontroller usw.).

Features

  • Erstellen von Tests für Logik- und Speicherbausteinen
  • CoreCommander erlaubt Zugriff auf die Interne Struktur des Bausteins
  • Enthält Bibliotheken für I2C, SPI Kommunikation und Beispiele
  • Vielseitige Test-Entwicklungsumgebung
  • Support von populären Testentwicklungs-APIs
  • Beinhaltet umfassende Boundary-Scan-Steuerfunktionen
  • Optional emulativer Test über den  Mikroprozessorkern des Bausteins

Kostengünstige Boundary Scan Testprogrammumgebung ohne automatische Test Programmgeneratoren. Ermöglicht Testsystem Entwickler die einfache Integration von high Level Anforderungen mit Hilfe der JTAG Schnittstelle.

Wir helfen Ihnen gerne weiter!

Durch die enge Zusammenarbeit mit unseren Kunden konnten wir Tausende Testprobleme lösen. Sobald Sie Kunde von JTAG Technologies werden, sind Sie ein integraler Bestandteil unseres Unternehmen und haben ebenfalls vollen Zugriff auf unser weltweites Support-Netzwerk.