Lösungen für Produktion

Der JT 3705/USB Explorer ist ein kleiner aber leistungsstarker Boundary Scan-Controller, der speziell für Tests mit geringer Stückzahl sowie für die In-System-Programmierung von (c)PLDs entwickelt wurde. Der Explorer unterstützt zwei separate und dennoch vollständig kompatible Boundary Scan Test Access Ports (TAPs), die für Testzwecke automatisch synchronisiert werden.

Die JT 5705-Serie ist eine einzigartige Kombination aus JTAG TAP-Controller-Schnittstellen (Tester) mit digitalen und analogen I/O im kompakten Format.

Messen Sie die Stromversorgung, Taktfrequenz oder testen Sie DACs und ADCs. Fügen Sie Ihre eigenen Möglichkeiten hinzu: mit dem CoreCommander FPGA, unserem generischen Bridge-/Translator-System.

Der JT 5705/USB-Version (Bild rechts) ist ein kompaktes Modell mit 2 TAPs und 64 I/O, wodurch er ideal für Hardware-Validierungen oder Produktionstests im kleinen Format geeignet ist. Die maximale TCK-Rate beträgt 15 MHz und alle Spannungen sind vollständig programmierbar

Mit der Unterstützung des Hauptsitzes von Takaya in Europa, Systech Europe in Düsseldorf Deutschland, hat JTAG Technologies eine Integrationslösung entwickelt, die vier I/O-Signale aus dem Standard-JT 37×7-Controller-POD verwendet, um diese mit den vier Flying Probes eines 9400-Systems zu verbinden. Auf Basis dieser Integration werden auch die aktuellen Systeme APT-1400F und APT-1600FD unterstützt. Die spezielle Version der JTAG-Ausführungssoftware ermöglicht das treiben und lesen der Probes des Takaya Flying Probe Systems. Signale können über Boundary-Scan getrieben und mit den Flying Probes rückgelesen werden und umgekehrt. Ergebnisse und Diagnosen werden in der Takaya Software übernommen.

Kunden, die JTAG Technologies Boundary-Scan-Anwendungen mit Teradyne-Teststationen und GR228x integrieren möchten, haben zwei Möglichkeiten. Die erste verwendet die Teradyne Deep Serial Memory (DSM) Karte als Boundary-Scan-Schnittstelle/Controller, während die andere Lösung auf unserem Standard-JT 37×7-Controller in Verbindung mit einer dedizierten Version unseres QuadPod JT 2147/CFM basiert. Die DSM-basierte Lösung ermöglicht die Kombination der beiden Testmethoden, d.h. das Stimulieren über Boundary Scan und das Auswerten des Knoten über die ICT Nadel ist möglich. Die JT 37×7-basierte Lösung ist eher für Anwendungen geeignet, die schnelle Flash- oder PLD-Programmierung über Boundary-Scan-Zugriff benötigen. Beide Lösungen werden über die Teradyne-GUI gesteuert. Die Fehleraussage wird auf Pinebene in den Teradyne Report integriert.

Unsere ProVision-Entwicklungs-Tools Erzeugen die Boundary Scan Test Pattern, welche dann von der Teradynesoftware übernommen werden, um diese dann zu verarbeiten.

Dieses Produkt von JTAG Technologies wird ausschließlich von Teradyne direkt vertrieben. Gerne stellen wir den Kontakt her.

Symphony AP ist das Ergebnis der Zusammenarbeit mit der Firma Huntron. Hier bieten wir eine Kombination aus unserer Standardhardware JT37x7/TSI inkl. unserem Standard QuadPod sowie unserem Softwarepaket ProVision Plattform und Boundary Scan Diagnose an. Mit diesem Paket können Sie den Nadelzugriff des Huntron Roving Probers und den Boundary Scan Zugriff kombinieren. ProVision übernimmt während des Tests die Steuerung/Platzierung der Nadel.

Durch Kombination der analogen Signaturanalyse (I-V trace) des Huntron-System und Boundary-Scan wurde eine optimale Mixed Signal Platform geschaffen.

JTAG Technologies verbindet eine langjährige Partnerschaft mit Seica SpA. Mit diesem Anbieter wurde einer der ersten Kombinationen zwischen Flying-Probe und Boundary Scan entwickelt. Das JTAG Technologies Symphony Pilot verwendet standardmäßige DataBlaster-Hardware zur Ausführung der Boundary Scan Test und In-system Programmierung und erweitert somit die Testplattform der Seica Produktpalette.

Durch unsere enge Zusammenarbeit mit den Ingenieuren von Digitaltest wurde eine dedizierte Version unseres JT 37×7 DataBlaster-Controllers entwickelt, die optimal in die Digitaltest MTS-Tester Familie integriert wurde. Dieser JT 37×7/DPC Boundary-Scan-Controller stellt die TAP-Signale direkt an der bekannten ICT Schnittstelle zur Verfügung (Vakuum und Kabelschnittstelle verfügbar). Außerdem wurde eine erweiterte Version der Ausführungssoftware entwickelt um eine Vollständige Integration umzusetzen. Somit können die hybriden Pins direkt im Boundary Scan Test angesteuert und synchronisiert werden, d.h. es ist auch möglich digitale Signale über Boundary Scan zu stimulieren und die Ergebnise über die hybriden Nadeln des ICT Systems auszuwerten. Was natürlich auch umgekehrt möglich ist. Der Testaufruf wurde komplett in die Ablaufsteuerung der CITE32 Software von Digitaltest integriert. Die Ergebnisse können jederzeit in der CITE32 GUI angezeigt bzw. an Digitaltest übergeben werden.

Während der Testprogrammerstellung hat unsere ProVision Software direkten Zugriff auf die hybriden Pins des ICT Systems. Somit ist ein einfaches schnelles Debug möglich. Unterstützt wird die Komplette ICT und Flying Probe Familie (MTS30, MTS180, MTS300, MTS500, MTS888)

Die Applikationserstellung der Boundary Scan Tests und der In-System Programmierung werden mit den Entwicklungstools von JTAG Technologies (JTAG ProVision oder Classic) durchgeführt und können schnell und einfach in die 6TL Umgebung eingebunden werden.

Die Integration von JTAG/Boundary-Scan mit der Marke 6TL für funktionale Testsysteme (FTE) bietet eine Best of Lösung, welche die meisten Anforderungen an Board- und Systemtests erfüllen kann. Da Boundary-Scan und Funktionstest ergänzenden Testmethoden sind, bietet diese Kombination oft eine optimale Strategie mit niedrigsten Gesamtkosten und maximaler Abdeckung für erwartete Fehlertypen. Die Verwendung der eingebauten JTAG-Steuerungsfunktion der YAV9JTAG-Karte reduziert die Kosten und bietet einen optimalen Einstieg für Basisanwendungen.

Das Produkt Symphony 3070 ist eine Kombination aus dedizierter Hardware auf Basis der JTAG Technologies DataBlaster-Technologie (JT 37×7/APC) und unserem Softwarepaket, welches es erlaubt alle Applikationen, die mit ProVision oder unserem SCIP Paketen erstellt wurden, auf Ihrem 3070 Tester auszuführen. Hier werden Unix- oder Windows basierte System unterstützt. Ergebnisse und Diagnosen werden in der Agilent-GUI übernommen.

Die Paketlösung aus unserem JT 37×7/APC-Controller, Ausführungssoftware und Boundary Scan Diagnose wird über JTAG Technologies als Symphony 3070/APC-x7/PC oder als Symphony 3070/APC-x7/Unix angeboten.

Gemeinsam mit den Ingenieuren von Aeroflex haben wir eine dedizierte Aeroflex-Version unseres QuadPod entwickelt, die perfekt in einen 42xx-Tester passt. Dieser JT 2147/AGP verbindet den Standard-JT 37×7-Controller (PCI oder TSI) über die Testanordnung mit der Testerschnittstelle. Außerdem wurde eine erweiterte Version der Ausführungssoftware entwickelt, die mit den Pinkarten von Aeroflex und dessen GUI interagiert. Digitale Signale können über Boundary-Scan stimuliert und mit den I/O-Pins der Aereoflex-Maschine rückgelesen werden. Dies ist natürlich auch umgekehrt möglich. Ergebnisse und Diagnosen werden direkt in die Aeroflex-Umgebung übernommen.

Die Paketlösung aus einem JT 37×7, JT 2147/AGP, der Boundary-Scan-Ausführungssoftware, Boundary Scan Diagnose und einer MTL-Controller-Code-Ebene wird exklusiv von Aeroflex vertrieben. Weitere Informationen finden Sie auf der Aeroflex-Website.

Die JTAG ProVision-Software-Suite findet Ihr Einsatzgebiet bei der Erstellung von Boundary-Scan-Tests und Programmieranwendungen für bestückte Leiterplatten und Systeme. Dieses professionelle Boundary Scan Entwicklungstool ist vollständig automatisiert und unterstützt den Import der Entwurfsdaten von mehr als 30 verschiedenen EDA- und CAM-Systemen. Zu den weiteren wichtigen Datenimporten zählen die BSDL files der JTAG Bausteine und die große, bestens gepflegte Modellbibliothek für tausenden Nicht-Boundary Scan fähige Bausteine.

Funktionsweise

Mit ProVision und der dazugehörigen Projektdatenbank können Sie schnell und einfach eine breite Palette von Test- und Progammieranwendungen erstellen. Diese Applikationen können jederzeit validiert, optimiert und in ProVision ausgeführt werden, noch bevor diese in eine fertige Testsequenz zusammengefasst und an die Fertigung übergeben werden.

Das ProVision Entwicklungspaket beinhaltet Tools zur Analyse der Testbarkeit der Baugruppe und der Möglichkeit diese zu visualisieren. Somit können Sie sich noch während der Testprogrammerstellung einen schnellen Überblick über die aktuelle Testtiefe verschaffen, um eventuelle Erweiterungen noch vor der Freigabe einzupflegen.

Die Verwendung von JTAG/Boundary-Scan in Kombination mit einer Reihe von Mixed-Signal-IO-Kanälen bringt eine neue Dimension in den ATE-Markt im Bereich Bench-Top Systeme. Der JT 5705/FXT ist ein äußerst kompaktes (ca. 10 cm x 10 cm) USB-powered multifunktionales System und bietet zwei vollständige JTAG-TAPs (Test Access Ports) und 64 IO-Kanäle mit einer Kombination aus digitalen, analogen und Frequenzmessfunktionen. Das passenden Carrier Board der Reihe JT 2702/xx wurden entwickelt, um eine nahtlose Integration dieser leistungsstarken Hardware in alle  gängigen Wechseladaptersysteme der unterschiedlichsten Hersteller zu integrieren.

Die bereits beeindruckende Spezifikation des JT 5705/FXT wird durch die zusätzliche Schaltmatrix, welche zwischen Carrier Board und Controllerplatine gesteckt werden kann, komplettiert und erhöht den flexiblen Einsatz der Kanäle.

Für erweiterte Anforderungen können Anwender die Vorteile der im JT 5705/FXT verwendeten FPGA-Technologie nutzen, um kundenspezifische Anwendungen/Instrumente zu erstellen, die über die einzigartige CoreCommander-FPGA Software von JTAG kontrolliert werden.

SCIL-Module umfassen eine Reihe vorprogrammierter Pods, die in der Regel den Platz eines normalen TAP-Pods im DataBlaster QuadPod-System einnehmen und eine spezielle Funktion beinhalten. Auf Basis des JT 2149/MPV-DIOS-Moduls mit 32 Kanälen stehen SCIL-Module für verschiedene Logikfunktionen zur Verfügung. Alternative Hardwaremodule um SCIL-Funktionen zu implementieren sind unsere JT 2111/MPV (Desktop-DIOS) oder die JT 2122/MPV (DIMM-DIOS) Hardware. In den derzeit verfügbaren SCIL-Module, die zur Verbesserung der Testabdeckung dienen, wurden Funktionen wie Zähler/Timer und Mustergenerator/Komparator implementiert. Weitere SCIL Module kommen in Kombination mit unseren SCIP-Softwarepaketen zum Einsatz, welche die In-System-Programmierung bestimmter Bausteine ermöglicht. Somit besteht zum Beispiel die Möglichkeit Teile des Freescale Bausteins über BDM oder die Mono8 Schnittstelle zu programmieren. Ebenfalls werden SPI, I2c und das One-Wire Protocol von Microchip unterstützt.

Weitere SCIL-Modulfunktionen können auf Kundenanfrage jederzeit implementiert werden. Wenden Sie sich einfach an Ihre lokale Vertriebsniederlassung.

Mit unserem BSDL Verfier/Generator haben Sie die Möglichkeit die Syntax eines bestehenden BSDL Files (Boundary Scan Description Language)eines einzelnen Boundary Scan Bausteins zu prüfen bzw. komplett zu erstellen, falls dieses nicht vorhanden sein sollte. Dies geschieht gemäß des IEEE 1149.1b Boundary Scan Standards. Das BSDL File beschreibt die Boundary Scan Merkmale des Bausteins, wie z.B. die Scan Register Läge, den ID Code oder die verfügbaren Befehlaufrufe usw.

JTAG TapCommunicator ermöglicht die Ausführung und Diagnose von Boundary-Scan-Anwendungen über Fernzugriff, unabhängig von Entfernung und äußere Einflüsse. Das Standardsystem basiert auf einer Ethernet-Verbindung mit 1 GBit (IEEE Std 802.3z) für nahezu unbegrenzte Reichweite zwischen Controller und Ziel. Die TapSpacer-Technologie, auf der TapCommunicator basiert, ermöglicht es neben dem IEEE Std. 802.3z weitere Kommunikationsprotokolle zu verwenden. Wenn Sie Informationen zur Verwendung von anderen Protokollen als Ethernet benötigen, wenden Sie sich bitte direkt an JTAG Technologies.

Das Standardsystem bietet einen „Uplink“ (Primärmodul, JT 2143) in der Nähe des Boundary-Scan-Controllers, sowie einen oder mehrere „Downlinks“ bzw. Sekundärmodule (JT 2144) am Ziel.

Erweitern Sie Ihr aktuelles JTAG-Testsystem um Mischsignalstimuli und Messfunktionen – mit dem JT5112 MIOS (Mixed-signal I/O Scan, Mischsignal-I/O-Scan).

Der JT 5112 im stoßfesten Gehäuse funktioniert mit allen Controllern der JT 37xx-Serie. Messen und generieren Sie analoge Werte von bis zu 30 V auf bis zu acht Kanälen. Digitaler I/O auf bis zu 64 Kanälen. Zusätzliche Frequenzmessungsmöglichkeiten und benutzerprogrammierbare Funktionen. Standardmäßige 0,1-Zoll-IDC-Verbindungen auf der Vorderseite der Einheit. JTAG TAP und Stromversorgung auf der Rückseite.

Der JT 2149/DAF (Digital/Analog/Frequenz) ist ein kompates Mulitfunktionsmodul und einzigartig in seiner Kombination und bietet digitalen und analogen Testzugriff am Prüfling. Basis dieser Möglichkeit ist die weit verbreiteten JTAG QuadPod Transceiver Technologie. Das DAF-Modul wurde so designed, dass es in den Slot des QuadPod Transeivers gesteckt wird, welcher von der kompleten JT 37×7 DataBlaster Serie unterstützt wird. Somit besteht jetzt die Möglichkeit den Standard Boundary Scan Test zu erweitern. Durch Verbinden des DAF Moduls mit dem Prüfling, egal ob über Stecker oder Adapternadeln, kann nicht nur die Boundary Scan Testabdeckung durch die zusätlichen digitalten I/Os erhöht werden sondern weitere analoge bzw. Frequenzmessungen durchgeführt werden.

Das neu konzipierte, JTAG-powered PCB Tester- und Programmiersystem – das JT 57xx/RMIc ‚CombiSystem‘ besteht aus einem schlanken 19″ Rackmount Gehäuse, das bis zu vier kundenspezifische Module aufnehmen kann, welches aus verschiedenen JTAG (IEEE 1149.x) Controllern, digitalen I/Os und analogen I/Os und anderen Messmodulen definiert werden kann.

• JT 5705/RMIc – ¼ Slot Modul mit zwei (15MHz) TAPs und 64 Mixed-Signal-IO (MIOS)-Kanälen
• JT 37×7/RMIc – ½ Slot Modul mit vier (40MHz) TAPs, sechzehn statischen IO-Kanälen und optional 64 digilalen IO-Kanälen (DIOS)
• JT 5112/RMIc – ¼ Slot Modul mit 64 Mixed-Signal-IO-Kanälen (MIOS)
• JT 5111/RMIc – ¼ Slot Modul mit 64 digitalen IO-Kanälen (DIOS)

Jedes der Module bietet ähnliche Spezifikationen wie die entsprechenden Benchtop Systeme, profitiert jedoch von einem höheren Kanal- und TAP-Ausbau, bei geringem Platzbedarf und niedrigeren Gesamtkosten. Durch die Kombination und Anpassen der Module können Anwender sozusagen eine „unbegrenzte“ Anzahl von  JTAG/Boundary-Scan-Teste und Programmiersysteme konfigurieren, welche für die kostengünstigste Lösung benötigt wird.

Der JT 2147 QuadPOD setzt sich zusammen aus einem JT 2148-Transceiver und vier unabhängige, programmierbare JT 2149 TAP-PODs und bietet eine optimale Signalkonditionierung des Boundary Scan Controllers der DataBlaster Serie.

Die TAP-Pods werden direkt am QuadPod Transceiver eingesteckt. Durch einfaches Abdocken kann der TAP-Pod mit dem mitgelieferten Kabel um einen Meter verlängert werden, um längere Distanzen zwischen Controller und Prüfling zu überbrücken.

Der JT 2148-Transceiver steht in Standard- (/10) oder Industrievariante (/13) zur Verfügung. Die /13-Variante umfasst einen SCSI-Kabel-Splitter. Der Splitter setzt die SCSI Kable entsprechend um. So können Flachbandkabel verwendet werden, welche die Integration in Adapter in einigen Fällen erleichtern kann.

Das JT 2111/MPV ist ein digitales I/O-Scan-Modul mit 64 Kanälen in einem kompakten Gehäuse. Das Modul dient dem Testen und der Ansteuerung von externen Schnittstellen, On-Board-Verbindern und logischen Clustern bei Boundary Scan-Anwendungen. Um die Anzahl I/Os zu erhöhen, können mehrere Module seriell miteinander verbunden werden.

Folgende Schnittstellen sind Verfügbar:

• 96-poligen DIN 41612-Stecker
• 20-poligen 0,1″ Pitch IDC-Stecker

Highspeed Benchtop JTAG-Boundary-Scan Controller bietet 3 Schnittstellen zum Testsystem: USB (1.1 und 2.0), Ethernet und Firewire.

Die Controller wurde für anspruchsvolle Fertigungsanwendungen, schnelle Insystem Programmierung von Flash-Speicher sowie der Konfiguration  von Logikbausteinen ausgelegt. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbausstufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ ausgeliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.

Die JT 37×7 DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Die Hardware ist nicht nur als Benchtop System mit USB/Ethernet/FireWire Anschluss erhältlich, sondern auch als 19″ Einschubrack. Alternativ bieten wir den Controller auch als Einsteckkarte im PXI(e) und PCI(e) Format an.

Weiter Informationen finden Sie unter den folgenden Tabulatoren.

Highspeed Plug-in JTAG-Boundary-Scan Controller für PXI , PXI „Hybrid“ bzw. PXI Express Steckplätze.

Die Controller wurde für anspruchsvolle Fertigungsanwendungen, schnelle Insystem Programmierung von Flash-Speicher sowie der Konfiguration  von Logikbausteinen ausgelegt. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbausstufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ ausgeliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.

Die JT 37×7 DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Die Hardware ist nicht nur als Benchtop System mit USB/Ethernet/FireWire Anschluss erhältlich, sondern auch als 19″ Einschubrack. Alternativ bieten wir den Controller auch als Einsteckkarte im PXI(e) und PCI(e) Format an.

Weiter Informationen finden Sie unter den folgenden Tabulatoren.

Highspeed Boundary Scan Controller in 19 Zoll

Rack mit optional 256 digitalten I/Os zur Verbesserung des Boundary Scan Zugriffs und der Testabeckung.“

Die Controller wurde für anspruchsvolle Fertigungsanwendungen, schnelle Insystem Programmierung von Flash-Speicher sowie der Konfiguration  von Logikbausteinen ausgelegt. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbausstufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ ausgeliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.

Die JT 37×7 DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Die Hardware ist nicht nur als Benchtop System mit USB/Ethernet/FireWire Anschluss erhältlich, sondern auch als 19″ Einschubrack. Alternativ bieten wir den Controller auch als Einsteckkarte im PXI(e) und PCI(e) Format an.

Weiter Informationen finden Sie unter den folgenden Tabulatoren.

Highspeed Plug-in JTAG-Boundary-Scan Controller für PCI bzw. PCIe Steckplätze.

Die Controller wurde für anspruchsvolle Fertigungsanwendungen, schnelle Insystem Programmierung von Flash-Speicher sowie der Konfiguration  von Logikbausteinen ausgelegt. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbausstufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ ausgeliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.

Die JT 37×7 DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Die Hardware ist nicht nur als Benchtop System mit USB/Ethernet/FireWire Anschluss erhältlich, sondern auch als 19″ Einschubrack. Alternativ bieten wir den Controller auch als Einsteckkarte im PXI(e) und PCI(e) Format an.

Weiter Informationen finden Sie unter den folgenden Tabulatoren.

Der JT 2137 POD wird in Kombination mit unseren Controllern der Datablaster Serie oft verwendet. Vorallem dann, wenn der Pod direkt im Adapter integriert werden muss, um die Signaltintegrietät zu gewährleisten. Der JT 2137 bietet vier TAPs Pods, die gemeinsam auf 5 V oder 3,3 V TTL eingestellt werden können. Des Weiteren sind weitere Module verfügbar, die alternative Grenzwerte auf TAP-Basis ermöglichen (Details erhalten Sie bei Ihrem lokalen Vertriebsbüro). Die 20-poligen 0,1″ IDC TAP-Stecker entsprechen dem standardmäßigen JTAG Technologies-Ausgang und bieten zusätzliche Möglichkeiten zur Flash-Programmierung mit Read/Busy und AutoWrite.

Der JT 2147/DAK ist eine spezielle Bauform unseres QuadPods welche für die MAC Panel “Scout” Übergabeschnittstelle entwickelt wurde. Die Einheit beinhaltetn nicht nur unseren JT2148 Tranceiver sondern auch vier unabhängige, programmierbare TAP-Pods vom Typ 2149 auf einer Leiterplatte, welche dem Forfaktor des MAC Panel Direct Access Kit (DAK) entspricht.

Der JT 2147/VPC ist eine Variante der QuadPOD-Schnittstelle zur Signalkonditionierung von JTAG Technologies und wurde  speziell für die Virginia Panel Corporation – Mass Interconnect Schnittstelle entwickelt.

Die Einheit beinhaltet sowohl den JT 2148-Transceiver, zwei unabhängige, programmierbare TAP-Module (vom Typ JT 2149) und zwei TAP-Module mit I/O Signalen (vom Typ JT 2149/MPV). Die Module sind auf einer Leiterplatte integriert, die über die VPC QuadraPaddle-Steckverbinder vom Typ G20x oder G14x angeschlossen werden.

Für Kunden, die unsere Software an unterschiedlichen Arbeitsplätzen (Computer) einsetzten möchten, bieten wir die Möglichkeit einen USB Key incl. entsprechendem Lizenzschlüssel zu erwerben. Bitte fügen Sie den USB Key bei Ihrer Softwarebestellung hinzu. Dementsprechend erhalten sie dann ein RMS Lizenz File welches dem USB Key zugeordnet ist.

Das JT 2122/MPV DIOS (digitales I/O-Scan-Modul) erhöht die Abdeckung und verbessert die Diagnoseauflösung der Boundary Scan Tests durch Erweiterung des Testzugriffs über Stecker und/oder Testpunkte. JT 2122/MPV DIOS bietet bidirektionalen, parallelen Scan-Zugriff auf bis zu 128 oder 133 I/O.

Die TAP-Signale können über den 168-polige Modulstecker oder über einen separaten 10-poligen Stecker mit dem Prüfling verbunden werden. Ein TAP-OUT Ausgang bietet die Möglichkeit weitere DIOS-Moduel in die Kette aufzunehmen bzw. den Prüfling zu kontaktieren.

Das JT 2124/F168 DIOS-Modul ist ein flexibel konfigurierbares DIMM-DIOS mit 128 Kanälen im vertrauten 168 Pin Design. Es ähnelt dem JT 2122/MPV, besitzt aber verschiedene erweiterte Funktionen. Darunter die Möglichkeit zur Programmierung von I/O-Grenzwerten über ein Segment von 16 Kanälen und einer Hot Swap Funktion.

Die JT 2127 STM-Reihe (Socket Test Modules) wurde für den Fertigungstest von PCB DIMM-Sockeln entwickelt. Sie ermöglichen das einfache Einsetzen des DIMM-Sockel direkt auf dem Prüfling und testet somit alle aktiven Signale, sowie die analogen Spannungen der einzelnen Power Pins (z. B. Vdd, Vddq, Vref und Vddspd). JT 2127 STMs bieten somit einen Strukturtest der DIMM-Sockel.

Informationen zu den verfügbaren Modulen und deren Spezifikation finden Sie unter den folgenden Registerkarten.

JT 2702/PCI-Slot ist eine Adapterlösung für den Fertigungstest von 32-Bit- und 64-Bit-PCI-Plug-In-Karten. JT 2702/PCI-Slot bietet die Möglichkeit den Prüfling direkt einzustecken und ist für 32-Bit- und 64-Bit-Versionen ausgelegt. Auf der Rückseite stehen zwei Sockel für unsere JT 2122/MPV DIMM DIOS-Module zur Verfügung, welche die DIOS-Kanäle zum Testen der PCI-Bussignale ermöglichen.

Beim Testen einer 32-Bit-Bus Karte stehen zusätzlich 19 I/O-Kanäle zur Verfügung. Welche über eine IDC Schnittstelle abgegriffen werden können und zur Testabdeckung bzw. Fehleranalyse mit dem Prüfling verdrahtet werden können. Beim Testen von Prüflingen mit 64-Bit-Bus Architektur, stehen insgesamt 83 zusätzliche Kanäle zur Verfügung.

Der JT 2127/Flex STM-Memory Socket Tester ist eine Familie von Hardwareadaptern, die speziell für das Testen von PCB-bestückten DIMM- & SODIMM-Sockeln unter Verwendung eines JTAG/Boundary-Scan-Controllers und entsprechender Software entwickelt wurde. Das Testen von Speichersockeln war für Test- und Produktionsingenieure, die JTAG/Boundary-Scan-Systeme verwenden, schon immer problematisch. Selbst wenn es möglich ist, Speicher Schreib-/Leseoperationen von einem Boundary-Scan-kompatiblen Baustein auf dem UUT  (Unit Under Test) durchzuführen, kann der Initialisierungsprozess fehlschlagen, so dass Sie nur wenige Diagnoseinformationen erhalten. Außerdem kann es immer noch unklar sein, ob der Fehler am DIMM-Modul selbst oder am Sockel liegt. Mit dem neuen JT 2127-Flex-System von JTAG Technologies erhalten Sie eine punktgenaue Diagnose von einer bewährten Testschnittstelle, so dass Sie sicher sein können, dass Ihr Sockel korrekt verlötet ist.

Mit dem JT 2135 Extender können TAP-Signale von der Basis JT 2137 Classic Pod um bis zu einem Meter verlängert werden, wobei die Frequenzspezifikation des Pod erhalten bleibt. Das aktive Modul im JT 2135 kompensiert die TDO-Signalrücklaufzeit des längeren Schnittstellenkabels. Mehrere JT 2135 Module können implementiert werden, wenn eine größere Distanz überbrückt werden muss.

Der JT 2139 ist ein TAP-Isolator zur Verwendung in „kombinierbaren“ Testsystemen (ICT; FKT usw). Kommen mehrer Testverfahren zum Einsatz, müssen bestimmt Signale teilweise weggeschalten werden, um parasitäere Kapazitive bzw. ungewollte Groundschleifen zu vermeiden. Der JT 2139 dient zur kompletten galvanischen Isolierung des Boundary-Scan-Controllern von JTAG Technologies vom Rest des Messaufbaus.

JT 2149-con erlaubt den einfachen Anschluss von TAP-Pods und SCIL-Modulen am JT 37×7/RMI – (19″ Rack-Controller mit DIOS).

Im Lieferumfang enthalten ist die Adapterplatine, die das einfache Verbinden/Verlängern des JT 2149 Moduls am JT 2149/RMI Rack ermöglicht. Somit kann der TAP-POD schnell und einfach um1 Meterverlängert werden.

Unser JT 2154 Board ist eine Experimentierboard auf Basis des National Semiconductor STA111. Dieses wurde für Benutzer entwickelt, die adressierbare Multiplexer in ihren Entwürfen einsetzen möchten, um den JTAG-Zugriff auf Systemebene zu realisieren. Der Baustein wird sehr oft auch fest im Testaufbau integriert, um die benötigte Anzahl von TAP (Test Access Port) zu erreichen. So können Prüfanforderungen, mit sehr hoher TAP Anzahl, auf Systemebene bewältigt werden.Durch die vollständige Unterstützung der ScanBridge in ProVision, können Strukturen mit hoher TAP Anzahl ohne Probleme integriert werden, da Geräteadressierung und TAP Zuweisung in der Software implementiert wurde.

Unser JT 2156-Trainingsboard wurde entwickelt, um alle aktuellen Boundary Scan Test und Programmierfunktionen zu demonstrieren und die Funktionsweise unsere Software aufzuzeigen. Die Testabläufe sind vollständig in die Entwicklungsumgebung ProVision und unserem JTAG Live Softwarepaket integriert. Das Board wurde in Zusammenarbeit mit dem regionalen Benelux-Vertreter von Altium – Transfer BV sowie von der Firma DsignWorx BV, die sich auf Consulting im Bereich der Hardwareentwicklung spezialisiert haben, entwickelt. Die Anwender von Altium haben die Möglichkeit anhand dieses Board die Vorgehensweise zur Implementierung der Funktionen einer Nano-Platine für Ihr eigenes Design näher kennenzulernen.

JTAG Technologies ProVision erzeugt automatisch die komplette Applikation zur Programmierung des Flash Speichers und greift dabei auf unterschiedliche Verfahren des „Bad Block“ handlings zurück (z. B. Smartmedia, GBBM etc.). Eine spezielle Programmausführung (BFMProg) ist dennoch erforderlich, damit diese Applikationen ausgeführt werden können. Auf Grund der Große des zu programmierenden Bereichs, werden kaum komplette Speicher über Boundary Scan programmiert. Sollten Sie jedoch große Files In-System programmieren müssen, wenden Sie sich bitte an Ihre lokalen Applikationsingenieure, um gemeinsam die optimale Programmierstrategie festzulegen.

JFT umfasst eine Reihe von Softwaremodulen, die Boundary-Scan-Test- und Programmiermöglichkeiten unter Python, LabVIEW von National Instruments sowie dem Microsoft .NET-Framework unterstützen. Mit JFT können Anwender JTAG/Boundary-Scan-Testanwendung per Script, VIs oder Programme für Bestückte Leiterplatten und Systeme erstellen. JFT bietet die Möglichkeit einzelne Treiber-/Sensorpins zu deklarieren,  Variable Pin-Gruppen zu definieren oder Registerbits zu steuern. Diese Anwendungen werden in der Regel zum Testen von Logikbausteinen oder Mixed-Signal-Clustern verwendet und können auch in wiederverwendbare Test-„Module“ umgewandelt werden. Durch die Kombination von JFT und embedded JTAG CoreCommander-Testmodulen entstehen effektive, kostengünstige System zum Test von Baustein Peripherie (ADCs, Speichercontroller usw.).

JTAG Visualizer ist ein erweitertes Anzeigemodul zur grafischen Darstellung von PCB Layout und Schaltplan. Der Visualizer lässt sich nahtlos in die Boundary Scan Produktreihe von JTAG Technologies, unabhängig von Einsatzgebiet, einbinden. JTAG Visualizer unterstützt PCB-Daten von verschiedenen CAD-, CAM- und EDA-Herstellern. Der Visualizer bietet dem Anwender bereits in der Entwurfsphase – DfT (Design for Test) entsprechende Rückmeldungen zur momentanen Fehlerabdeckung, welche grafisch direkt im Design angezeigt werden kann.

In der Fertigung und bei der Testprogrammerstellung dient der Visualizer zur Darstellung fehlerhafter Netze und Bausteine (Kurzschlüsse, Unterbrechungen, Stuck-ats etc.). Diese werden direkt im Layout- und Schaltplan, angezeigt.

Das PSA- oder Production Stand-Alone-Paket ist seit viele Jahre unsere Standard-Execution-Software, welche von CEM/OEM Herstellern eingesetzt wird, sobald ein unabhängiger Boundary Scan Test Platz bzw. Programmierstation benötigt wird. Die PSA Lösung wurde Ende der 90er Jahre auf den Markt gebracht, um eine Stand Alone Ausführungspaket, für die Classic Applikationen, in der Produktion anzubieten. Von diesen Systemen sind noch heute mehrer Tausend im Einsatz.

Testingenieur können mit dem integrierten AEX (Application Executive) Manager schnell und einfach eine Testsequenz erstellen und ausführen. Neben if-, then-, else-, goto-Funktionen kann die Sequenz auch weitere Anforderungen abdecken. So besteht die Möglichkeit via Kommandozeile weitere externe Funktionen aufgerufen, Testberichte mit Seriennummern zu erstellen, Testergebnisse in eine Datenbank zu exportieren usw.. PSA umfasst Treiber für alle bestehenden JTAG Controller.

Mit JTAG ProVision Flash/PLD können Sie Tausende verschiedener PLD Typen, mit Ihren zahlreichen Datenformaten, programmieren. Die Anwendungen zur Programmierung von Flash-Speicher umfassen erase, blank-check, program, verify, lock, unlock und read_id. Diese Schritte stehen für mehr als 20.000 Bausteine zur Verfügung.

JTAG ProVision Flash/PLD ist das einfachste und schnellste Werkzeug zur Entwicklung von ISP-Applikationen (In-System Programming). Es bietet unerreichte Flexibilität durch die Unterstützung von mehreren Ketten, multiple Designs und einer wiederverwendbaren Projektdatenbank.

Fast alle heutigen programmierbaren Logikbausteine (CPLDs und FPGAs) verwenden heutzutage die IEEE std 1149.1-Schnittstelle,, um auf ihre proprietären Konfigurationskreise zuzugreifen. Bis 2001 galt das populäre SVF (Serial Vector Format) als der De-facto-Standard für das Übertragen der entsprechenden Konfiguration. SVF ist bis heute eines der populärsten Formate.

Da die IC-Hersteller jedoch darum wetteiferten, das optimale Datenformat/die optimale Sprache zu In-System-Konfiguration der Bausteine bereit zu stellen, wurden weitere  Standards (JAM, STAPL, XSVF usw.) veröffentlicht.  Das IEEE-Normenkomitee genehmigte dann aber einen universellen Standard, der auf Designs mit Bausteinen mehrerer Hersteller angewendet werden konnte. Der IEEE Std 1532 wurde schließlich 2001 veröffentlicht  und als Teil dieses Standards wurde ein universelles Datenformat ‚ISC‘ neben verbesserten BSDL-Modellen für konforme programmierbare Bauteile eingeführt.

Seit der Einführung der allerersten PLDs mit der Möglichkeit der JTAG-Programmierung hat JTAG Technologies zeitnahe Support-Pakete entwickelt, die es Endanwender ermöglichen, alle Bausteine der verschiedenen Hersteller mit hoher Geschwindigkeit zu programmieren. Heute wird diese Unterstützung durch JTAG ProVision und die PIP- sowie Symphony-Tester-Integrationspakete bereitgestellt.

Die SCIP-Reihe (Serial Controlled IC Programmer) von JTAG Technologies umfasst eine breite Palette von Softwaremodulen, die von Test- und Entwicklungsingenieuren eingesetzt werden, um die breite Anzahl von unterschiedlichsten In-system Programmierungen durchzuführen ohne zusätzliche Hardware einsetzten zu müssen.

Obwohl viele Bausteine auf dem JTAG Standard aufsetzten (IEEE Std 1149.1) und diese Schnittstelle zum Test und zur Programmierung eingesetzte werden, hat sich im Bereich der Standardisierung zur Programmierung von internem Speicher (Flash) nur wenig getan. Die Verwendung „privater“ Anweisungen und nicht konformen Implementationen der State Maschine haben dazu geführt, dass Boundary Scan Werkzeuge nicht mehr in der Lage sind die Vielzahl der Bausteine, welche JTAG also Programmierschnittstelle verwenden mit Standardlösungen zu bedienen. Hinzu kommt eine zweite Sparte von Bausteinen, welche über alternative Schnittstellen (meist Reduzierter Pinanzahl) programmiert werden. Beispiele für diese alternativen Schnittstellen sind BDM, SPI, Spy-by-wire etc. Die SCIP-Module von JTAG Technologies überwinden diese Hürden und bietet Ihnen Zugriff auch auf diese Bausteine.

Während ein vollständiges ProVision-System die Entwicklung und Ausführung von Test- und Programmieranwendungen ermöglicht, kann die gleiche vertraute Benutzeroberfläche mit reduzierter Funktionalität für den Produktionstest verwendet werden. ProVision Plattform kann je nach Anforderung lizensiert werden. So besteht die Möglichkeit lediglich Boundary Scan Tests auszuführen oder nur die ISP Programmierung von Flash- bzw. PLD Bausteinen zu unterstützen. Selbstverständlich sind auch kombinationen der Plattformmodule möglich.

Jeder der drei Plattformlizensen (Test, Flash, CPLD) bietet die Möglichkeit ProVision Entwicklungarchive zu extrahieren und die erstellten Applikationen entsprechend der Lizenzsierung auszuführe. Die Testergebnis können im vertrauten TTR-Format (Truth Table Report) analysieren werden bzw. durch unsere optionale Diagnosesoftware auf Pin- und Netzebene heruntergebrochen werden. Des Weiteren enthält die Plattformlizenz unseren bekannten AEX (Application Executive) Manager, der es Ihnen erlaubt komplexe Ablaufstrukturen (inkl. if-, then-, else- und goto-Strukturen) für Test- und Programmierabläufe schnell und einfach zu erstellen.

Neben der Unterstützung von testorientieren Softwarelösungen wie zum Beispiel National Instruments LabView/TestStand, bietet JTAG Technologies weitere Integrationspakete zur optimalen Integration in bestehende Testumgebungen.

So existieren für C/C++ unsere PIP/DLL Lösung, für .NET Framework-Systeme, wie Visual C, Visual Basic etc., bieten wir PIP/.NET und für ältere VB-Compilers existiert PIP/VB. Auch die Möglichkeit DOS/Win Befehle über Command Line aufzurufen besteht und wird von PIP/EXE bereitgestellt. Jedes PIP-Paket umfasst die volle Funktionalität zum Laden und Ausführen von Test- und Programmierapplikationen über unseren DataBlaster oder Explorer Familie (JTAG IEEE Std. 1149.1 Boundary Scan Controller).

Als langjähriger Allianzpartner von National Instruments bietet JTAG Technologies eine breite Palette hochwertiger Integrationsmodule für die Steuerungs- und Testausführungspakete von National Instruments (TestStand, LabView und LabWindows/CVi). Im Rahmen unserer PIP-Reihe (Production Integration Packages) bieten wir unseren Kunden seit über 10 Jahren optimale Intgrationen, um Boundary Scan und Programmierapplikationen schnell und einfach in die Sequenzen von National Instruments zu integrieren.

Durch die Erweiterung unserer Entwicklungs- und Produktionssysteme durch die Boundary Scan Diagnose Software können Fehlerursachen wie unerwünschte Netzverbindungen (Kurzschlüsse), Offene Pins, fehlende Netze oder sogar verdrehte Verbindungen einfach erkannt und diagnostiziert werden. Die BSD Test-Diagnose meldet Fehler in Klartext zusammen mit Pin-Level-Informationen. Diese Fehleraussage lassen einfache Rückschlüsse auf die verschiedenen Fehlerzustände zu.

Des Weiteren kann die Standarddiagnose durch ein entsprechendes kundenspezifisches Fehlerverzeichnis erweitert werden, welches gerade bei Clustertests sehr behilflich ist. Auf diesem Weg lassen sich Fehler anzeigen, die tief in der internen Struktur eines Funktionalen Logik Blocks liegen. Das Diagnosetool ist eine optimale Erweiterung des unseres Truth Table Reporters (TTR), welcher in unserer ProVision Entwicklungsumgebung und unseren Production Ingegration Packages mitgeliefert wird. Die Boundary Scan Diagnose ist standardmäßig in unserer Symphony Runtime Lösungen implementiert. Die Symphony Lösungen, welche von JTAG Technologies entwickelt wurde, dienen dazu Boundary Scan Applikationen optimal in 3rd Part ATE Systeme zu implementiert und die Synergien beider Systeme zu nutzen.

Excellence in typography is the result of nothing more than an attitude. Its appeal
comes from the understanding used in its planning; the designer must care.
In contemporary advertising the perfect integration of design elements often
demands unorthodox typography. It may require the use of compact spacing,