I/O Modules
Erweitern Sie Ihr aktuelles JTAG-Testsystem um Mischsignalstimuli und Messfunktionen – mit dem JT5112 MIOS (Mixed-signal I/O Scan, Mischsignal-I/O-Scan).
Der JT 5112 im stoßfesten Gehäuse funktioniert mit allen Controllern der JT 37xx-Serie. Messen und generieren Sie analoge Werte von bis zu 30 V auf bis zu acht Kanälen. Digitaler I/O auf bis zu 64 Kanälen. Zusätzliche Frequenzmessungsmöglichkeiten und benutzerprogrammierbare Funktionen. Standardmäßige 0,1-Zoll-IDC-Verbindungen auf der Vorderseite der Einheit. JTAG TAP und Stromversorgung auf der Rückseite.
Das JT 2111/MPV ist ein digitales I/O-Scan-Modul mit 64 Kanälen in einem kompakten Gehäuse. Das Modul dient dem Testen und der Ansteuerung von externen Schnittstellen, On-Board-Verbindern und logischen Clustern bei Boundary Scan-Anwendungen. Um die Anzahl I/Os zu erhöhen, können mehrere Module seriell miteinander verbunden werden.
Folgende Schnittstellen sind Verfügbar:
- 96-poligen DIN 41612-Stecker
- 20-poligen 0,1″ Pitch IDC-Stecker
Das JT 2122/MPV DIOS (digitales I/O-Scan-Modul) erhöht die Abdeckung und verbessert die Diagnoseauflösung der Boundary Scan Tests durch Erweiterung des Testzugriffs über Stecker und/oder Testpunkte. JT 2122/MPV DIOS bietet bidirektionalen, parallelen Scan-Zugriff auf bis zu 128 oder 133 I/O.
Die TAP-Signale können über den 168-polige Modulstecker oder über einen separaten 10-poligen Stecker mit dem Prüfling verbunden werden. Ein TAP-OUT Ausgang bietet die Möglichkeit weitere DIOS-Moduel in die Kette aufzunehmen bzw. den Prüfling zu kontaktieren.
Das JT 2124/F168 DIOS-Modul ist ein flexibel konfigurierbares DIMM-DIOS mit 128 Kanälen im vertrauten 168 Pin Design. Es ähnelt dem JT 2122/MPV, besitzt aber verschiedene erweiterte Funktionen. Darunter die Möglichkeit zur Programmierung von I/O-Grenzwerten über ein Segment von 16 Kanälen und einer Hot Swap Funktion.
Die JT 2127 STM-Reihe (Socket Test Modules) wurde für den Fertigungstest von PCB DIMM-Sockeln entwickelt. Sie ermöglichen das einfache Einsetzen des DIMM-Sockel direkt auf dem Prüfling und testet somit alle aktiven Signale, sowie die analogen Spannungen der einzelnen Power Pins (z. B. Vdd, Vddq, Vref und Vddspd). JT 2127 STMs bieten somit einen Strukturtest der DIMM-Sockel.
Informationen zu den verfügbaren Modulen und deren Spezifikation finden Sie unter den folgenden Registerkarten.
JT 2702/PCI-Slot ist eine Adapterlösung für den Fertigungstest von 32-Bit- und 64-Bit-PCI-Plug-In-Karten. JT 2702/PCI-Slot bietet die Möglichkeit den Prüfling direkt einzustecken und ist für 32-Bit- und 64-Bit-Versionen ausgelegt. Auf der Rückseite stehen zwei Sockel für unsere JT 2122/MPV DIMM DIOS-Module zur Verfügung, welche die DIOS-Kanäle zum Testen der PCI-Bussignale ermöglichen.
Beim Testen einer 32-Bit-Bus Karte stehen zusätzlich 19 I/O-Kanäle zur Verfügung. Welche über eine IDC Schnittstelle abgegriffen werden können und zur Testabdeckung bzw. Fehleranalyse mit dem Prüfling verdrahtet werden können. Beim Testen von Prüflingen mit 64-Bit-Bus Architektur, stehen insgesamt 83 zusätzliche Kanäle zur Verfügung.
JT2702/DDC (Dual DIMM Carrier) ist eine Erweiterung für unsere DIMM DIOS-Produkte und findet sein Anwendung oft direkt im Adapter oder zum Aufbau von Prüfplätzen zur Erweiterung des Testaufbaues mit einer großen Anzahl von I/O Kanälen bei minimalen Platzbedarf.
Durch das Bestücken des JT 2702/DDC mit einer oder zwei DIMM/168-DIOS-Einheiten von JTAG Technologies kann der Anwender ein I/O-System mit 128 oder 256 Kanälen modular aufbauen. Da die Einheiten auch seriell Kaskatierbar sind, lassen sich mit Leichtigkeit auch mehr als 1000 I/O bei relativ geringen Kosten umsetzen. Der Zugriff auf die Kanäle erfolgt über acht Standard 40-poligen 0.1”-IDC-Anschlüsse.
Der JT 2127/Flex STM-Memory Socket Tester ist eine Familie von Hardwareadaptern, die speziell für das Testen von PCB-bestückten DIMM- & SODIMM-Sockeln unter Verwendung eines JTAG/Boundary-Scan-Controllers und entsprechender Software entwickelt wurde. Das Testen von Speichersockeln war für Test- und Produktionsingenieure, die JTAG/Boundary-Scan-Systeme verwenden, schon immer problematisch. Selbst wenn es möglich ist, Speicher Schreib-/Leseoperationen von einem Boundary-Scan-kompatiblen Baustein auf dem UUT (Unit Under Test) durchzuführen, kann der Initialisierungsprozess fehlschlagen, so dass Sie nur wenige Diagnoseinformationen erhalten. Außerdem kann es immer noch unklar sein, ob der Fehler am DIMM-Modul selbst oder am Sockel liegt. Mit dem neuen JT 2127-Flex-System von JTAG Technologies erhalten Sie eine punktgenaue Diagnose von einer bewährten Testschnittstelle, so dass Sie sicher sein können, dass Ihr Sockel korrekt verlötet ist.
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