I/O Modules

Kompaktes 64-Kanal Digital I/O Scan Modul (DIOS) für das JT 57xx/RMIc 19“ Einschubrack.

Das Modul wurden entwickelt, um die Testabdeckung auf bestückten Leiterplatten durch eine zusätzliche Kontaktierung von Steckern und Testpunkten zu erhöhen.

Erweitern Sie Ihre JTAG-Testsystem mit dem JT 5112 MIOS-Modul und nutzen Sie den Mehrwert durch den Einsatz von analogen/digitalen Treibern und Sensoren. Bis zu 64 digitale I/O Kanäle mit der Möglichkeit der Frequenzmessung und kundenspezifischen Funktionen. 8 dieser Kanäle können analog Werte bis 30V Messer und stimulieren.

Darüber hinaus stellt das Modul weiter Funktionen wie einen Frequenzgenerator (1 Kanal), die Frequenzmessung (16 Kanälen) sowie die PWM-Messung (1Kanal) zur Verfügung. Ein Überspannungsschutz (OVP) ist an den digitalen I/Os vorhanden (bis zu 0,6 V über der eingestellten Spannung, bis max. 6V).

Neben der Rack Einschubmodul, stehen noch eine Desktop Variante und zwei built-in Module für eine optimale Integration zur Verfügung.

64-Kanal Desktop Digital-I/O-Scan-Modul (DIOS) mit Überspannungsschutz (OVP) zur kabellosen Integration in den Adapter.

Das Modul wurden entwickelt, um die Testabdeckung auf bestückten Leiterplatten durch eine zusätzliche Kontaktierung von Steckern und Testpunkten zu erhöhen.

Der JT5111/IB besitzt einen 20 x 12 Pin 0,1“ Pitch Anschlussblock (auch Pylonblock genannt). Der Anschluss kann direkt über einen freien Block auf Ihrer Adapterschnittstelle in der Kassette gesteckt werden und minimiert die Kabellänge zwischen Boundary Scan Controller und TAP Schnittstelle des Prüflings. Die Spannungspegel der Signale der I/O Bänke können zwischen 1,05V und 3,60V @+/- 8mA liegen.

Darüber hinaus stellt das Modul weiter Funktionen wie einen Frequenzgenerator (1 Kanal), die Frequenzmessung (16 Kanälen) sowie die PWM-Messung (1Kanal) zur Verfügung. Ein Überspannungsschutz (OVP) ist an den digitalen I/Os vorhanden (bis zu 0,6 V über der eingestellten Spannung, bis max. 6V).

Neben der Variante ohne Gehäuse für den Testadapter, bieten wir eine Desktop Variante sowie eine Erweiterung für das JT 57xx 19″-Rack.

64-Kanal Desktop Mixed I/O-Scan-Modul (MIOS) zur einfachen Integration in den Adapter.

Erweitern Sie Ihre JTAG-Testsystem mit dem JT 5112 MIOS-Modul und nutzen Sie den Mehrwert durch den Einsatz von analogen/digitalen Treibern und Sensoren. Bis zu 64 digitale I/O Kanäle mit der Möglichkeit der Frequenzmessung und kundenspezifischen Funktionen. 8 dieser Kanäle können analog Werte bis 30V Messer und stimulieren.

Das JT5112/BO kann über vier Befestigungslöcher einfach in jedem Prüfsystem integriert werden. Die 56 reinen digitalen und 8 digital/analog Kanäle werden über 0,1“ IDC-Stecke bereitgestellt. Die Spannungspegel der Signale der I/O Bänke können zwischen 1,05V und 3,60V @+/- 8mA liegen.

Darüber hinaus stellt das Modul weiter Funktionen wie einen Frequenzgenerator (1 Kanal), die Frequenzmessung (16 Kanälen) sowie die PWM-Messung (1Kanal) zur Verfügung. Ein Überspannungsschutz (OVP) ist an den digitalen I/Os vorhanden (bis zu 0,6 V über der eingestellten Spannung, bis max. 6V).

Neben der Desktop Modell gibt es eine Variante ohne Gehäuse zur einfachen Integration in einen Testadapter, sowie für das JT 57xx 19″-Rack Version.

64-Kanal Desktop Mixed I/O-Scan-Modul (MIOS).

Erweitern Sie Ihre JTAG-Testsystem mit dem JT 5112 MIOS-Modul und nutzen Sie den Mehrwert durch den Einsatz von analogen/digitalen Treibern und Sensoren. Bis zu 64 digitale I/O Kanäle mit der Möglichkeit der Frequenzmessung und kundenspezifischen Funktionen. 8 dieser Kanäle können analog Werte bis 30V Messer und stimulieren.

Der Anschluss der 56 reinen digitalen Kanäle und der 8 digital/analog Kanäle erfolgt über 20-polige 0,1“ IDC-Stecker auf der Vorderseite des Moduls. Die JTAG TAP- und Stromanschlüsse befinden sich auf der Rückseite. Die Spannungspegel der Signale der I/O Bänke können zwischen 1,05V und 3,60V @+/- 8mA liegen.

Darüber hinaus stellt das Modul weiter Funktionen wie einen Frequenzgenerator (1 Kanal), die Frequenzmessung (16 Kanälen) sowie die PWM-Messung (1Kanal) zur Verfügung. Ein Überspannungsschutz (OVP) ist an den digitalen I/Os vorhanden (bis zu 0,6 V über der eingestellten Spannung, bis max. 6V).

Neben der Desktop Modell gibt es eine Variante ohne Gehäuse zur einfachen Integration in einen Testadapter, sowie für das JT 57xx 19″-Rack Version.

64 channel desktop Digital I/O Scan (DIOS) module with IDC connectors.

The module provides ‘boundary-scannable’ IO that is synchronized with the boundary-scan devices on your UUT. It has been developed to increase the test coverage of a printed circuit board by providing access to connectors and/or test points (pads). The additional IO access increases the possibilities for testing logic clusters and enhances interconnection test coverage using boundary-scan.

The 64 channels of JT 2111/MPV DIOS-IDC are available on the four 20-way IDC style connectors at the front of the unit. JTAG TAP and power connections are at the rear. Output threshold levels are adjusted through a rotary switch or by software (JFT application).

The JT 2111/MPV DIOS module is also available with a DIN 41612 connector.

Das JT 2111/MPV ist ein digitales I/O-Scan-Modul mit 64 Kanälen in einem kompakten Gehäuse. Das Modul dient dem Testen und der Ansteuerung von externen Schnittstellen, On-Board-Verbindern und logischen Clustern bei Boundary Scan-Anwendungen. Um die Anzahl I/Os zu erhöhen, können mehrere Module seriell miteinander verbunden werden.

Folgende Schnittstellen sind Verfügbar:

• 96-poligen DIN 41612-Stecker
• 20-poligen 0,1″ Pitch IDC-Stecker

Das JT 2122/MPV DIOS (digitales I/O-Scan-Modul) erhöht die Abdeckung und verbessert die Diagnoseauflösung der Boundary Scan Tests durch Erweiterung des Testzugriffs über Stecker und/oder Testpunkte. JT 2122/MPV DIOS bietet bidirektionalen, parallelen Scan-Zugriff auf bis zu 128 oder 133 I/O.

Die TAP-Signale können über den 168-polige Modulstecker oder über einen separaten 10-poligen Stecker mit dem Prüfling verbunden werden. Ein TAP-OUT Ausgang bietet die Möglichkeit weitere DIOS-Moduel in die Kette aufzunehmen bzw. den Prüfling zu kontaktieren.

Das JT 2124/F168 DIOS-Modul ist ein flexibel konfigurierbares DIMM-DIOS mit 128 Kanälen im vertrauten 168 Pin Design. Es ähnelt dem JT 2122/MPV, besitzt aber verschiedene erweiterte Funktionen. Darunter die Möglichkeit zur Programmierung von I/O-Grenzwerten über ein Segment von 16 Kanälen und einer Hot Swap Funktion.

Die JT 2127 STM-Reihe (Socket Test Modules) wurde für den Fertigungstest von PCB DIMM-Sockeln entwickelt. Sie ermöglichen das einfache Einsetzen des DIMM-Sockel direkt auf dem Prüfling und testet somit alle aktiven Signale, sowie die analogen Spannungen der einzelnen Power Pins (z. B. Vdd, Vddq, Vref und Vddspd). JT 2127 STMs bieten somit einen Strukturtest der DIMM-Sockel.

Informationen zu den verfügbaren Modulen und deren Spezifikation finden Sie unter den folgenden Registerkarten.

JT 2702/PCI-Slot ist eine Adapterlösung für den Fertigungstest von 32-Bit- und 64-Bit-PCI-Plug-In-Karten. JT 2702/PCI-Slot bietet die Möglichkeit den Prüfling direkt einzustecken und ist für 32-Bit- und 64-Bit-Versionen ausgelegt. Auf der Rückseite stehen zwei Sockel für unsere JT 2122/MPV DIMM DIOS-Module zur Verfügung, welche die DIOS-Kanäle zum Testen der PCI-Bussignale ermöglichen.

Beim Testen einer 32-Bit-Bus Karte stehen zusätzlich 19 I/O-Kanäle zur Verfügung. Welche über eine IDC Schnittstelle abgegriffen werden können und zur Testabdeckung bzw. Fehleranalyse mit dem Prüfling verdrahtet werden können. Beim Testen von Prüflingen mit 64-Bit-Bus Architektur, stehen insgesamt 83 zusätzliche Kanäle zur Verfügung.

JT2702/DDC (Dual DIMM Carrier) ist eine Erweiterung für unsere DIMM DIOS-Produkte und findet sein Anwendung oft direkt im Adapter oder zum Aufbau von Prüfplätzen zur Erweiterung des Testaufbaues mit einer großen Anzahl von I/O Kanälen bei minimalen Platzbedarf.

Durch das Bestücken des JT 2702/DDC mit einer oder zwei DIMM/168-DIOS-Einheiten von JTAG Technologies kann der Anwender ein I/O-System mit 128 oder 256 Kanälen modular aufbauen. Da die Einheiten auch seriell Kaskatierbar sind, lassen sich mit Leichtigkeit auch mehr als 1000 I/O bei relativ geringen Kosten umsetzen. Der Zugriff auf die Kanäle erfolgt über acht Standard 40-poligen 0.1”-IDC-Anschlüsse.

Zur Erhöhung der Flexibilität der JT5705 und JT5112 MIOS Test-Instrumente (Varianten /IB, /OB und /RMIC), welche meist in unterschiedlichste ATE-Systeme integriert werden, hat JTAG Technologies das JT2702/SM „Switch Matrix“ Modul entwickelt.

Dieses „Switch Matrix“ kann bein den oben genannten Varianten einfach aufgesteckt werden und ermöglicht die flexible Bereitstellung der Signal Resourcen des Testinstrumentes (incl. der Option von 1kOhm Pull-Up/Pull-Downl Widerstände) an der entprechenden Systemschnittstelle.

* IB Variante – Signale stehen direkt am 10×12 ´Pylon´Interfache zur Verfügung.

* BO Variante – Signale werden über einen 20-poligen DIL 01” IDC-Stecker bereitgestellt.

* RMIc Variante – Signale stehen über 20-poligen DIL 01” IDC-Stecker an der Vorderseite bereitgesellt.

Der JT 2127/Flex STM-Memory Socket Tester ist eine Familie von Hardwareadaptern, die speziell für das Testen von PCB-bestückten DIMM- & SODIMM-Sockeln unter Verwendung eines JTAG/Boundary-Scan-Controllers und entsprechender Software entwickelt wurde. Das Testen von Speichersockeln war für Test- und Produktionsingenieure, die JTAG/Boundary-Scan-Systeme verwenden, schon immer problematisch. Selbst wenn es möglich ist, Speicher Schreib-/Leseoperationen von einem Boundary-Scan-kompatiblen Baustein auf dem UUT  (Unit Under Test) durchzuführen, kann der Initialisierungsprozess fehlschlagen, so dass Sie nur wenige Diagnoseinformationen erhalten. Außerdem kann es immer noch unklar sein, ob der Fehler am DIMM-Modul selbst oder am Sockel liegt. Mit dem neuen JT 2127-Flex-System von JTAG Technologies erhalten Sie eine punktgenaue Diagnose von einer bewährten Testschnittstelle, so dass Sie sicher sein können, dass Ihr Sockel korrekt verlötet ist.