Hardware Produkte
Boundary-Scan Test- und Programmieranwendungen sind nur so zuverlässig wie die Hardware, auf der sie ausgeführt werden. JTAG Technologies verfügt über die branchenweit zuverlässigsten IEEE 1149.x-Controller. Um Ihre Test- und Programmieranwendungen zuverlässig auszuführen, können Sie aus einer Reihe verschiedener Controller mit entsprechenden Leistungsmerkmalen und Formfaktoren wählen.
Der JTAGLive Controller ist ein kompakter, kostengünstiger und einfach zu bedienender USB/Boundary-scan Controller von JTAG Technologies.
Der JTAGLive Controller wurde für das Hardware Debug und die Inbetriebnahme von Prototypen entwickelt und wird von der JTAGLive- und ProVsion Software unterstützt. Diese JTAG-Hardwareschnittstelle wird über USB angeschlossen und erhält so auch seine Betriebsspannung. Die Hardware verfügt über einen Test Access Port (TAP) mit einer 10-poligen IDC-Standardbelegung von JTAG Technologies.
Die Hardware bietet eine maximale programmierbare TCK-Geschwindigkeit von 6 MHz. Darüber hinaus können die Ausgangsspannung sowie der Schwellwert eingestellt werden.
Der JT 3705/USB Explorer ein vielseitiger Boundary-scan Controller, der über USB angeschlossen und versorgt wird. Er stellt zwei unabhängige Test Access Boards (TAPs) zur Verfügung.
Der Controller eignet sich besonders für das Testen kleineren Stückzahlen und der In-System-Programmierung von (C)PLDs und kleinen Datenmengen eines Flash-Speichers.
Die beiden Boundary-scan Test Access Boards (TAPs) können für den Test synchronisiert werden, so dass die Testmuster zwischen den Bausteinen in den unabhängigen Ketten ausgewertet werden können.
Die Hardware bietet eine maximale programmierbare TCK-Geschwindigkeit von 6 MHz. Darüber hinaus können die Ausgangsspannung sowie der Schwellwert eingestellt werden.
Kompakter Mixed-Signal Desktop Boundary-scan Controller.
Mit einer einzigartigen Kombination aus zwei Test Access Board (TAP) Schnittstellen und 64 Mixed-Signal I/O Kanälen bietet die Destop Variante der JT 5705/USB eine ideale Grundlage zur Validierung Ihrer Prototypen und dem Test von Kleinserien. Verwenden Sie die I/O Kanäle (56 digital und 8 analog) und Messen Sie Spannungen, Clock Frequenzen, testen Sie DACs und ADCs und erhöhen Sie so die Testabdeckung über Testpunkte und Stecker.
Die maximale TCK-Geschwindigkeit beträgt 15 MHz. Die Ausgangsspannungen und Schwellwerte sind programmierbar.
Alternative Formfaktoren für den optimalen Einsatz sind verfügbar: JT 5705/RMIc (Desktop Model) sowie JT 5705/BO und JT 5705/IB (beide Built-in Modelle).
SCIL-Module umfassen eine Reihe vorprogrammierter Pods, die in der Regel den Platz eines normalen TAP-Pods im DataBlaster QuadPod-System einnehmen und eine spezielle Funktion beinhalten. Auf Basis des JT 2149/MPV-DIOS-Moduls mit 32 Kanälen stehen SCIL-Module für verschiedene Logikfunktionen zur Verfügung. Alternative Hardwaremodule um SCIL-Funktionen zu implementieren sind unsere JT 2111/MPV (Desktop-DIOS) oder die JT 2122/MPV (DIMM-DIOS) Hardware. In den derzeit verfügbaren SCIL-Module, die zur Verbesserung der Testabdeckung dienen, wurden Funktionen wie Zähler/Timer und Mustergenerator/Komparator implementiert. Weitere SCIL Module kommen in Kombination mit unseren SCIP-Softwarepaketen zum Einsatz, welche die In-System-Programmierung bestimmter Bausteine ermöglicht. Somit besteht zum Beispiel die Möglichkeit Teile des Freescale Bausteins über BDM oder die Mono8 Schnittstelle zu programmieren. Ebenfalls werden SPI, I2c und das One-Wire Protocol von Microchip unterstützt.
Weitere SCIL-Modulfunktionen können auf Kundenanfrage jederzeit implementiert werden. Wenden Sie sich einfach an Ihre lokale Vertriebsniederlassung.
Mit unserem BSDL Verfier/Generator haben Sie die Möglichkeit die Syntax eines bestehenden BSDL Files (Boundary Scan Description Language)eines einzelnen Boundary Scan Bausteins zu prüfen bzw. komplett zu erstellen, falls dieses nicht vorhanden sein sollte. Dies geschieht gemäß des IEEE 1149.1b Boundary Scan Standards. Das BSDL File beschreibt die Boundary Scan Merkmale des Bausteins, wie z.B. die Scan Register Läge, den ID Code oder die verfügbaren Befehlaufrufe usw.
JTAG TapCommunicator ermöglicht die Ausführung und Diagnose von Boundary-Scan-Anwendungen über Fernzugriff, unabhängig von Entfernung und äußere Einflüsse. Das Standardsystem basiert auf einer Ethernet-Verbindung mit 1 GBit (IEEE Std 802.3z) für nahezu unbegrenzte Reichweite zwischen Controller und Ziel. Die TapSpacer-Technologie, auf der TapCommunicator basiert, ermöglicht es neben dem IEEE Std. 802.3z weitere Kommunikationsprotokolle zu verwenden. Wenn Sie Informationen zur Verwendung von anderen Protokollen als Ethernet benötigen, wenden Sie sich bitte direkt an JTAG Technologies.
Das Standardsystem bietet einen „Uplink“ (Primärmodul, JT 2143) in der Nähe des Boundary-Scan-Controllers, sowie einen oder mehrere „Downlinks“ bzw. Sekundärmodule (JT 2144) am Ziel.
Kompaktes 64-Kanal Digital I/O Scan Modul (DIOS) für das JT 57xx/RMIc 19“ Einschubrack.
Das Modul wurden entwickelt, um die Testabdeckung auf bestückten Leiterplatten durch eine zusätzliche Kontaktierung von Steckern und Testpunkten zu erhöhen.
Das Modul besitzt zwei 40-polige 0,1“ IDC-Stecker für die I/Os sowie zwei 20-polige TAP-Anschlüsse (TAP-in und TAP-out). Diese befinden sich auf der Vorderseite des Moduls. Die Spannungspegel der Signale der I/O Bänke können zwischen 1,05V und 3,60V @+/- 8mA liegen.
Darüber hinaus stellt das Modul weiter Funktionen wie einen Frequenzgenerator (1 Kanal), die Frequenzmessung (16 Kanälen) sowie die PWM-Messung (1Kanal) zur Verfügung. Ein Überspannungsschutz (OVP) ist an den digitalen I/Os vorhanden (bis zu 0,6 V über der eingestellten Spannung, bis max. 6V).
Neben der Rack Einschubmodul, stehen noch eine Desktop Variante und zwei built-in Module für eine optimale Integration zur Verfügung.
Kompaktes 64-Kanal Digital I/O Scan Modul (DIOS) für das JT 57xx/RMIc 19“ Einschubrack.
Das Modul wurden entwickelt, um die Testabdeckung auf bestückten Leiterplatten durch eine zusätzliche Kontaktierung von Steckern und Testpunkten zu erhöhen.
Erweitern Sie Ihre JTAG-Testsystem mit dem JT 5112 MIOS-Modul und nutzen Sie den Mehrwert durch den Einsatz von analogen/digitalen Treibern und Sensoren. Bis zu 64 digitale I/O Kanäle mit der Möglichkeit der Frequenzmessung und kundenspezifischen Funktionen. 8 dieser Kanäle können analog Werte bis 30V Messer und stimulieren.
Darüber hinaus stellt das Modul weiter Funktionen wie einen Frequenzgenerator (1 Kanal), die Frequenzmessung (16 Kanälen) sowie die PWM-Messung (1Kanal) zur Verfügung. Ein Überspannungsschutz (OVP) ist an den digitalen I/Os vorhanden (bis zu 0,6 V über der eingestellten Spannung, bis max. 6V).
Neben der Rack Einschubmodul, stehen noch eine Desktop Variante und zwei built-in Module für eine optimale Integration zur Verfügung.
64-Kanal Desktop Digital-I/O-Scan-Modul (DIOS) mit Überspannungsschutz (OVP) zur kabellosen Integration in den Adapter.
Das Modul wurden entwickelt, um die Testabdeckung auf bestückten Leiterplatten durch eine zusätzliche Kontaktierung von Steckern und Testpunkten zu erhöhen.
Der JT5111/IB besitzt einen 20 x 12 Pin 0,1“ Pitch Anschlussblock (auch Pylonblock genannt). Der Anschluss kann direkt über einen freien Block auf Ihrer Adapterschnittstelle in der Kassette gesteckt werden und minimiert die Kabellänge zwischen Boundary Scan Controller und TAP Schnittstelle des Prüflings. Die Spannungspegel der Signale der I/O Bänke können zwischen 1,05V und 3,60V @+/- 8mA liegen.
Darüber hinaus stellt das Modul weiter Funktionen wie einen Frequenzgenerator (1 Kanal), die Frequenzmessung (16 Kanälen) sowie die PWM-Messung (1Kanal) zur Verfügung. Ein Überspannungsschutz (OVP) ist an den digitalen I/Os vorhanden (bis zu 0,6 V über der eingestellten Spannung, bis max. 6V).
Neben der Variante ohne Gehäuse für den Testadapter, bieten wir eine Desktop Variante sowie eine Erweiterung für das JT 57xx 19″-Rack.
64-Kanal Desktop Mixed I/O-Scan-Modul (MIOS) zur einfachen Integration in den Adapter.
Erweitern Sie Ihre JTAG-Testsystem mit dem JT 5112 MIOS-Modul und nutzen Sie den Mehrwert durch den Einsatz von analogen/digitalen Treibern und Sensoren. Bis zu 64 digitale I/O Kanäle mit der Möglichkeit der Frequenzmessung und kundenspezifischen Funktionen. 8 dieser Kanäle können analog Werte bis 30V Messer und stimulieren.
Das JT5112/BO kann über vier Befestigungslöcher einfach in jedem Prüfsystem integriert werden. Die 56 reinen digitalen und 8 digital/analog Kanäle werden über 0,1“ IDC-Stecke bereitgestellt. Die Spannungspegel der Signale der I/O Bänke können zwischen 1,05V und 3,60V @+/- 8mA liegen.
Darüber hinaus stellt das Modul weiter Funktionen wie einen Frequenzgenerator (1 Kanal), die Frequenzmessung (16 Kanälen) sowie die PWM-Messung (1Kanal) zur Verfügung. Ein Überspannungsschutz (OVP) ist an den digitalen I/Os vorhanden (bis zu 0,6 V über der eingestellten Spannung, bis max. 6V).
Neben der Desktop Modell gibt es eine Variante ohne Gehäuse zur einfachen Integration in einen Testadapter, sowie für das JT 57xx 19″-Rack Version.
64-Kanal Desktop Mixed I/O-Scan-Modul (MIOS).
Erweitern Sie Ihre JTAG-Testsystem mit dem JT 5112 MIOS-Modul und nutzen Sie den Mehrwert durch den Einsatz von analogen/digitalen Treibern und Sensoren. Bis zu 64 digitale I/O Kanäle mit der Möglichkeit der Frequenzmessung und kundenspezifischen Funktionen. 8 dieser Kanäle können analog Werte bis 30V Messer und stimulieren.
Der Anschluss der 56 reinen digitalen Kanäle und der 8 digital/analog Kanäle erfolgt über 20-polige 0,1“ IDC-Stecker auf der Vorderseite des Moduls. Die JTAG TAP- und Stromanschlüsse befinden sich auf der Rückseite. Die Spannungspegel der Signale der I/O Bänke können zwischen 1,05V und 3,60V @+/- 8mA liegen.
Darüber hinaus stellt das Modul weiter Funktionen wie einen Frequenzgenerator (1 Kanal), die Frequenzmessung (16 Kanälen) sowie die PWM-Messung (1Kanal) zur Verfügung. Ein Überspannungsschutz (OVP) ist an den digitalen I/Os vorhanden (bis zu 0,6 V über der eingestellten Spannung, bis max. 6V).
Neben der Desktop Modell gibt es eine Variante ohne Gehäuse zur einfachen Integration in einen Testadapter, sowie für das JT 57xx 19″-Rack Version.
Der JT 2149/DAF (Digital/Analog/Frequenz) ist ein kompates Mulitfunktionsmodul und einzigartig in seiner Kombination und bietet digitalen und analogen Testzugriff am Prüfling. Basis dieser Möglichkeit ist die weit verbreiteten JTAG QuadPod Transceiver Technologie. Das DAF-Modul wurde so designed, dass es in den Slot des QuadPod Transeivers gesteckt wird, welcher von der kompleten JT 37×7 DataBlaster Serie unterstützt wird. Somit besteht jetzt die Möglichkeit den Standard Boundary Scan Test zu erweitern. Durch Verbinden des DAF Moduls mit dem Prüfling, egal ob über Stecker oder Adapternadeln, kann nicht nur die Boundary Scan Testabdeckung durch die zusätlichen digitalten I/Os erhöht werden sondern weitere analoge bzw. Frequenzmessungen durchgeführt werden.
Das JT2149/MPV ist ein Multifunktion Modul, welches die Funktionalität eins TAP Pods und eines 32 Kanal DIOS beinhaltet und kann an jeden freien Steckplatz des JT2148 QuadPods eingesetzt werden. Die DIOS-Kanäle des JT 2149/MPV ermöglichen eine Erhöhung der Fehlerabdeckung und somit eine verbesserte Diagnosefähigkeit während der Boundary-Scan-Prüfung. Die Hardware wird vollständig von unseren Entwicklungtools unterstützt. Weitere DIOS-Module können seriell eingebunden werden, sobald weitere parallele Zugriffspunkte erforderlich sind.
Das JT 2147/BO Modul ist eine Variante des High speed JT2147 QuadPOD Systems zur einfachen Integration in den Adapter.
Die Hardware besteht aus einem JT2148 Transceiver mit vier unabhängigen, programmierbaren JT2149 TAP Pods, welche die Signalaufbereitung des DataBlaster Boundary-Scan Controllers übernimmt. Die Hardware unterstützt das paralle Testen und Programmieren von Bausteinen.
Diese Unit kombiniert die Funktionen des klassichen QuadPOD Systems mit vier TAP Pods in nur einer Hardware. Diese Variante kann mit 64 DIOS-Kanälen und SCIL Funktionen ausgeliefert werden.
Das neu konzipierte, JTAG-powered PCB Tester- und Programmiersystem – das JT 57xx/RMIc ‚CombiSystem‘ besteht aus einem schlanken 19″ Rackmount Gehäuse, das bis zu vier kundenspezifische Module aufnehmen kann, welches aus verschiedenen JTAG (IEEE 1149.x) Controllern, digitalen I/Os und analogen I/Os und anderen Messmodulen definiert werden kann.
- JT 5705/RMIc – ¼ Slot Modul mit zwei (15MHz) TAPs und 64 Mixed-Signal-IO (MIOS)-Kanälen
- JT 37×7/RMIc – ½ Slot Modul mit vier (40MHz) TAPs, sechzehn statischen IO-Kanälen und optional 64 digilalen IO-Kanälen (DIOS)
- JT 5112/RMIc – ¼ Slot Modul mit 64 Mixed-Signal-IO-Kanälen (MIOS)
- JT 5111/RMIc – ¼ Slot Modul mit 64 digitalen IO-Kanälen (DIOS)
Jedes der Module bietet ähnliche Spezifikationen wie die entsprechenden Benchtop Systeme, profitiert jedoch von einem höheren Kanal- und TAP-Ausbau, bei geringem Platzbedarf und niedrigeren Gesamtkosten. Durch die Kombination und Anpassen der Module können Anwender sozusagen eine „unbegrenzte“ Anzahl von JTAG/Boundary-Scan-Teste und Programmiersysteme konfigurieren, welche für die kostengünstigste Lösung benötigt wird.
Der JT 2147 QuadPOD setzt sich zusammen aus einem JT 2148-Transceiver und vier unabhängige, programmierbare JT 2149 TAP-PODs und bietet eine optimale Signalkonditionierung des Boundary Scan Controllers der DataBlaster Serie.
Die TAP-Pods werden direkt am QuadPod Transceiver eingesteckt. Durch einfaches Abdocken kann der TAP-Pod mit dem mitgelieferten Kabel um einen Meter verlängert werden, um längere Distanzen zwischen Controller und Prüfling zu überbrücken.
Der JT 2148-Transceiver steht in Standard- (/10) oder Industrievariante (/13) zur Verfügung. Die /13-Variante umfasst einen SCSI-Kabel-Splitter. Der Splitter setzt die SCSI Kable entsprechend um. So können Flachbandkabel verwendet werden, welche die Integration in Adapter in einigen Fällen erleichtern kann.
64 channel desktop Digital I/O Scan (DIOS) module with IDC connectors.
The module provides ‘boundary-scannable’ IO that is synchronized with the boundary-scan devices on your UUT. It has been developed to increase the test coverage of a printed circuit board by providing access to connectors and/or test points (pads). The additional IO access increases the possibilities for testing logic clusters and enhances interconnection test coverage using boundary-scan.
The 64 channels of JT 2111/MPV DIOS-IDC are available on the four 20-way IDC style connectors at the front of the unit. JTAG TAP and power connections are at the rear. Output threshold levels are adjusted through a rotary switch or by software (JFT application).
The JT 2111/MPV DIOS module is also available with a DIN 41612 connector.
Das JT 2111/MPV ist ein digitales I/O-Scan-Modul mit 64 Kanälen in einem kompakten Gehäuse. Das Modul dient dem Testen und der Ansteuerung von externen Schnittstellen, On-Board-Verbindern und logischen Clustern bei Boundary Scan-Anwendungen. Um die Anzahl I/Os zu erhöhen, können mehrere Module seriell miteinander verbunden werden.
Folgende Schnittstellen sind Verfügbar:
- 96-poligen DIN 41612-Stecker
- 20-poligen 0,1″ Pitch IDC-Stecker
Hohe Geschwindigkeit, hohe Performance, Flexibilität und Mobilität. Der JT37x7/TSI JTAG Boundary-scan Controller bietet drei PC-Standardschnittstellen: USB, Ethernet und Firewire in einem robusten Desktop Gehäuse.
Mit 4 Test Access Ports (TAPs) sind die JT37x7/TSI Controller für anspruchsvolle Testanwendungen in der Produktion ausgerichtet, wie z.B. die schnelle In-System Programmierung von Flash Speichern oder für Applikationen mit einer hohen Anzahl von Testvektoren.
Die JT 37×7 DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-scan Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbaustufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifizierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird standardmäßig mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ geliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.
Die gleiche High-Speed Controller Technologie ist ebenfalls als PCI/PCIe, PXI/PXIe und 19“ Rack Formfaktor verfügbar.
Hohe Geschwindigkeit, hohe Performance – Boundary-scan Controller als PCI-Express Einsteckkarte. Die JT37x7/PCIe Serie mit 4 Test Access Ports (TAPs) ist für anspruchsvolle Testanwendungen in der Produktion ausgerichtet, wie z.B. die schnelle In-System Programmierung von Flash Speichern oder für Applikationen mit einer hohen Anzahl von Testvektoren.
Die JT 37×7/PCIe DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbaustufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifizierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird standardmäßig mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ geliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.
Die gleiche High-Speed Controller Technologie ist ebenfalls als PCI, Desktop, PXI/PXIe und 19“ Rack Formfaktor verfügbar.
Hohe Geschwindigkeit, hohe Performance – Boundary-scan Controller für PXI-express ‘hybrid’ Slots oder für PXI-Express Peripheriesteckplätze. Die JT37x7/PXIe Serie mit 4 Test Access Ports (TAPs) ist für anspruchsvolle Testanwendungen in der Produktion ausgerichtet, wie z.B. die schnelle In-System Programmierung von Flash Speichern oder für Applikationen mit einer hohen Anzahl von Testvektoren.
Die JT 37×7/PXIe DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbaustufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifizierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird standardmäßig mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ geliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt. Zur optimalen Integration wurden ‘mass-interconnect’ Varianten des QuadPods konzipiert. Diese bieten einen optimalen Formfaktor für Virginia Panel (VPC) und MAC Panel System.
Die gleiche High-Speed Controller Technologie ist ebenfalls als PXI, Desktop, PCI/PCIe und 19“ Rack Formfaktor verfügbar.
Hohe Geschwindigkeit, hohe Performance – Boundary-scan Controller für den PXI-Slot. Die JT37x7/PXI Serie mit 4 Test Access Ports (TAPs) ist für anspruchsvolle Testanwendungen in der Produktion ausgerichtet, wie z.B. die schnelle In-System Programmierung von Flash Speichern oder für Applikationen mit einer hohen Anzahl von Testvektoren.
Die JT 37×7/PXI DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-scan Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbaustufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifizierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird standardmäßig mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ geliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.
Die gleiche High-Speed Controller Technologie ist ebenfalls als PXIe, Desktop, PCI/PCIe und 19“ Rack Formfaktor verfügbar.
Höchstgeschwindigkeits- und Hochleistungs JTAG Boundary-scan Controller mit bis zu 64 digitalen I/O (DIOS) Kanälen, wurde für den Einbau in das 19“-Rackgehäuse (JT 57xx/RMIc) entwickelt. Diese Hardware bietet drei PC-Standardschnittstellen: USB, Ethernet und Firewire.
Die JT37x7/RMIC DIO-0/64 Boundary-scan Controller Module sind für anspruchsvolle Testanwendungen in der Produktion ausgerichtet, wie z.B. die schnelle In-System Programmierung von Flash Speichern oder für Applikationen mit einer hohen Anzahl von Testvektoren. Die zusätzlichen DIOS-Kanäle ermöglichen es die Testabdeckung an Testpunkten oder Steckern zu erhöhen.
Der JT 37×7/RMIC DIO-0/64 DataBlasters ist ein leistungsfähiger Boundary-scan Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz und ist in verschiedenen Ausbaustufen (Speicheroptionen) verfügbar, um die spezifizierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird standardmäßig mit einem integrierten JT2147 ‚Quad Pod‘ geliefert. TAP- und DIOS Anschlüsse werden auf der Vorderseite über 20-Pin IDC-Stecker zur Verfügung gestellt.
Die gleiche High-Speed Controller Technologie ist ebenfalls als PCI/PCIe, PXI/PXIe und Desktop Formfaktor verfügbar.
Highspeed Boundary Scan Controller in 19 Zoll
Rack mit optional 256 digitalten I/Os zur Verbesserung des Boundary Scan Zugriffs und der Testabeckung.“
Die Controller wurde für anspruchsvolle Fertigungsanwendungen, schnelle Insystem Programmierung von Flash-Speicher sowie der Konfiguration von Logikbausteinen ausgelegt. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbausstufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ ausgeliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.
Die JT 37×7 DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Die Hardware ist nicht nur als Benchtop System mit USB/Ethernet/FireWire Anschluss erhältlich, sondern auch als 19″ Einschubrack. Alternativ bieten wir den Controller auch als Einsteckkarte im PXI(e) und PCI(e) Format an.
Weiter Informationen finden Sie unter den folgenden Tabulatoren.
Hohe Geschwindigkeit, hohe Performance – Boundary-scan Controller als PCI Einsteckkarte. Die JT37x7/PCI Serie mit 4 Test Access Ports (TAPs) ist für anspruchsvolle Testanwendungen in der Produktion ausgerichtet, wie z.B. die schnelle In-System Programmierung von Flash Speichern oder für Applikationen mit einer hohen Anzahl von Testvektoren.
Die JT 37×7/PCI DataBlaster Familie sind leistungsfähige Boundary-Scan-Controller mit einer Taktrate von bis zu 40 MHz. Der JT37x7 steht in verschiedenen Ausbaustufen (Speicheroptionen) zur Verfügung, um die spezifizierten Kundenanforderungen abzudecken. Jedes System wird standardmäßig mit einem JT2147 ‚Quad Pod‘ geliefert, welcher 4 TAPs Schnittstellen (Test Access Ports) zur Verfügung stellt.
Die gleiche High-Speed Controller Technologie ist ebenfalls als PCIe, Desktop, PXI/PXIe und 19“ Rack Formfaktor verfügbar.
Der JT 2137 POD wird in Kombination mit unseren Controllern der Datablaster Serie oft verwendet. Vorallem dann, wenn der Pod direkt im Adapter integriert werden muss, um die Signaltintegrietät zu gewährleisten. Der JT 2137 bietet vier TAPs Pods, die gemeinsam auf 5 V oder 3,3 V TTL eingestellt werden können. Des Weiteren sind weitere Module verfügbar, die alternative Grenzwerte auf TAP-Basis ermöglichen (Details erhalten Sie bei Ihrem lokalen Vertriebsbüro). Die 20-poligen 0,1″ IDC TAP-Stecker entsprechen dem standardmäßigen JTAG Technologies-Ausgang und bieten zusätzliche Möglichkeiten zur Flash-Programmierung mit Read/Busy und AutoWrite.
Der JT 2147/DAK ist eine spezielle Bauform unseres QuadPods welche für die MAC Panel “Scout” Übergabeschnittstelle entwickelt wurde. Die Einheit beinhaltetn nicht nur unseren JT2148 Tranceiver sondern auch vier unabhängige, programmierbare TAP-Pods vom Typ 2149 auf einer Leiterplatte, welche dem Forfaktor des MAC Panel Direct Access Kit (DAK) entspricht.
Der JT 2147/VPC ist eine Variante der QuadPOD-Schnittstelle zur Signalkonditionierung von JTAG Technologies und wurde speziell für die Virginia Panel Corporation – Mass Interconnect Schnittstelle entwickelt.
Die Einheit beinhaltet sowohl den JT 2148-Transceiver, zwei unabhängige, programmierbare TAP-Module (vom Typ JT 2149) und zwei TAP-Module mit I/O Signalen (vom Typ JT 2149/MPV). Die Module sind auf einer Leiterplatte integriert, die über die VPC QuadraPaddle-Steckverbinder vom Typ G20x oder G14x angeschlossen werden.
Für Kunden, die unsere Software an unterschiedlichen Arbeitsplätzen (Computer) einsetzten möchten, bieten wir die Möglichkeit einen USB Key incl. entsprechendem Lizenzschlüssel zu erwerben. Bitte fügen Sie den USB Key bei Ihrer Softwarebestellung hinzu. Dementsprechend erhalten sie dann ein RMS Lizenz File welches dem USB Key zugeordnet ist.
Das JT 2122/MPV DIOS (digitales I/O-Scan-Modul) erhöht die Abdeckung und verbessert die Diagnoseauflösung der Boundary Scan Tests durch Erweiterung des Testzugriffs über Stecker und/oder Testpunkte. JT 2122/MPV DIOS bietet bidirektionalen, parallelen Scan-Zugriff auf bis zu 128 oder 133 I/O.
Die TAP-Signale können über den 168-polige Modulstecker oder über einen separaten 10-poligen Stecker mit dem Prüfling verbunden werden. Ein TAP-OUT Ausgang bietet die Möglichkeit weitere DIOS-Moduel in die Kette aufzunehmen bzw. den Prüfling zu kontaktieren.
Das JT 2124/F168 DIOS-Modul ist ein flexibel konfigurierbares DIMM-DIOS mit 128 Kanälen im vertrauten 168 Pin Design. Es ähnelt dem JT 2122/MPV, besitzt aber verschiedene erweiterte Funktionen. Darunter die Möglichkeit zur Programmierung von I/O-Grenzwerten über ein Segment von 16 Kanälen und einer Hot Swap Funktion.
Die JT 2127 STM-Reihe (Socket Test Modules) wurde für den Fertigungstest von PCB DIMM-Sockeln entwickelt. Sie ermöglichen das einfache Einsetzen des DIMM-Sockel direkt auf dem Prüfling und testet somit alle aktiven Signale, sowie die analogen Spannungen der einzelnen Power Pins (z. B. Vdd, Vddq, Vref und Vddspd). JT 2127 STMs bieten somit einen Strukturtest der DIMM-Sockel.
Informationen zu den verfügbaren Modulen und deren Spezifikation finden Sie unter den folgenden Registerkarten.
JT 2702/PCI-Slot ist eine Adapterlösung für den Fertigungstest von 32-Bit- und 64-Bit-PCI-Plug-In-Karten. JT 2702/PCI-Slot bietet die Möglichkeit den Prüfling direkt einzustecken und ist für 32-Bit- und 64-Bit-Versionen ausgelegt. Auf der Rückseite stehen zwei Sockel für unsere JT 2122/MPV DIMM DIOS-Module zur Verfügung, welche die DIOS-Kanäle zum Testen der PCI-Bussignale ermöglichen.
Beim Testen einer 32-Bit-Bus Karte stehen zusätzlich 19 I/O-Kanäle zur Verfügung. Welche über eine IDC Schnittstelle abgegriffen werden können und zur Testabdeckung bzw. Fehleranalyse mit dem Prüfling verdrahtet werden können. Beim Testen von Prüflingen mit 64-Bit-Bus Architektur, stehen insgesamt 83 zusätzliche Kanäle zur Verfügung.
JT2702/DDC (Dual DIMM Carrier) ist eine Erweiterung für unsere DIMM DIOS-Produkte und findet sein Anwendung oft direkt im Adapter oder zum Aufbau von Prüfplätzen zur Erweiterung des Testaufbaues mit einer großen Anzahl von I/O Kanälen bei minimalen Platzbedarf.
Durch das Bestücken des JT 2702/DDC mit einer oder zwei DIMM/168-DIOS-Einheiten von JTAG Technologies kann der Anwender ein I/O-System mit 128 oder 256 Kanälen modular aufbauen. Da die Einheiten auch seriell Kaskatierbar sind, lassen sich mit Leichtigkeit auch mehr als 1000 I/O bei relativ geringen Kosten umsetzen. Der Zugriff auf die Kanäle erfolgt über acht Standard 40-poligen 0.1”-IDC-Anschlüsse.
Zur Erhöhung der Flexibilität der JT5705 und JT5112 MIOS Test-Instrumente (Varianten /IB, /OB und /RMIC), welche meist in unterschiedlichste ATE-Systeme integriert werden, hat JTAG Technologies das JT2702/SM „Switch Matrix“ Modul entwickelt.
Dieses „Switch Matrix“ kann bein den oben genannten Varianten einfach aufgesteckt werden und ermöglicht die flexible Bereitstellung der Signal Resourcen des Testinstrumentes (incl. der Option von 1kOhm Pull-Up/Pull-Downl Widerstände) an der entprechenden Systemschnittstelle.
* IB Variante – Signale stehen direkt am 10×12 ´Pylon´Interfache zur Verfügung.
* BO Variante – Signale werden über einen 20-poligen DIL 01” IDC-Stecker bereitgestellt.
* RMIc Variante – Signale stehen über 20-poligen DIL 01” IDC-Stecker an der Vorderseite bereitgesellt.
Der JT 2127/Flex STM-Memory Socket Tester ist eine Familie von Hardwareadaptern, die speziell für das Testen von PCB-bestückten DIMM- & SODIMM-Sockeln unter Verwendung eines JTAG/Boundary-Scan-Controllers und entsprechender Software entwickelt wurde. Das Testen von Speichersockeln war für Test- und Produktionsingenieure, die JTAG/Boundary-Scan-Systeme verwenden, schon immer problematisch. Selbst wenn es möglich ist, Speicher Schreib-/Leseoperationen von einem Boundary-Scan-kompatiblen Baustein auf dem UUT (Unit Under Test) durchzuführen, kann der Initialisierungsprozess fehlschlagen, so dass Sie nur wenige Diagnoseinformationen erhalten. Außerdem kann es immer noch unklar sein, ob der Fehler am DIMM-Modul selbst oder am Sockel liegt. Mit dem neuen JT 2127-Flex-System von JTAG Technologies erhalten Sie eine punktgenaue Diagnose von einer bewährten Testschnittstelle, so dass Sie sicher sein können, dass Ihr Sockel korrekt verlötet ist.
Mit dem JT 2135 Extender können TAP-Signale von der Basis JT 2137 Classic Pod um bis zu einem Meter verlängert werden, wobei die Frequenzspezifikation des Pod erhalten bleibt. Das aktive Modul im JT 2135 kompensiert die TDO-Signalrücklaufzeit des längeren Schnittstellenkabels. Mehrere JT 2135 Module können implementiert werden, wenn eine größere Distanz überbrückt werden muss.
Der JT 2139 ist ein TAP-Isolator zur Verwendung in „kombinierbaren“ Testsystemen (ICT; FKT usw). Kommen mehrer Testverfahren zum Einsatz, müssen bestimmt Signale teilweise weggeschalten werden, um parasitäere Kapazitive bzw. ungewollte Groundschleifen zu vermeiden. Der JT 2139 dient zur kompletten galvanischen Isolierung des Boundary-Scan-Controllern von JTAG Technologies vom Rest des Messaufbaus.
JT 2149-con erlaubt den einfachen Anschluss von TAP-Pods und SCIL-Modulen am JT 37×7/RMI – (19″ Rack-Controller mit DIOS).
Im Lieferumfang enthalten ist die Adapterplatine, die das einfache Verbinden/Verlängern des JT 2149 Moduls am JT 2149/RMI Rack ermöglicht. Somit kann der TAP-POD schnell und einfach um1 Meterverlängert werden.
Unser JT 2154 Board ist eine Experimentierboard auf Basis des National Semiconductor STA111. Dieses wurde für Benutzer entwickelt, die adressierbare Multiplexer in ihren Entwürfen einsetzen möchten, um den JTAG-Zugriff auf Systemebene zu realisieren. Der Baustein wird sehr oft auch fest im Testaufbau integriert, um die benötigte Anzahl von TAP (Test Access Port) zu erreichen. So können Prüfanforderungen, mit sehr hoher TAP Anzahl, auf Systemebene bewältigt werden.Durch die vollständige Unterstützung der ScanBridge in ProVision, können Strukturen mit hoher TAP Anzahl ohne Probleme integriert werden, da Geräteadressierung und TAP Zuweisung in der Software implementiert wurde.
Unser JT 2156-Trainingsboard wurde entwickelt, um alle aktuellen Boundary Scan Test und Programmierfunktionen zu demonstrieren und die Funktionsweise unsere Software aufzuzeigen. Die Testabläufe sind vollständig in die Entwicklungsumgebung ProVision und unserem JTAG Live Softwarepaket integriert. Das Board wurde in Zusammenarbeit mit dem regionalen Benelux-Vertreter von Altium – Transfer BV sowie von der Firma DsignWorx BV, die sich auf Consulting im Bereich der Hardwareentwicklung spezialisiert haben, entwickelt. Die Anwender von Altium haben die Möglichkeit anhand dieses Board die Vorgehensweise zur Implementierung der Funktionen einer Nano-Platine für Ihr eigenes Design näher kennenzulernen.
Wir helfen Ihnen gerne weiter!
Durch die enge Zusammenarbeit mit unseren Kunden konnten wir Tausende Testprobleme lösen. Sobald Sie Kunde von JTAG Technologies werden, sind Sie ein integraler Bestandteil unseres Unternehmen und haben ebenfalls vollen Zugriff auf unser weltweites Support-Netzwerk.
