6TL

ATE: 6TL29, 6TL36, 6TL60
Functional test software
YAV9JTAG, YAV9JTAH
Run-time software + BSD

Die Applikationserstellung der Boundary Scan Tests und der In-System Programmierung werden mit den Entwicklungstools von JTAG Technologies (JTAG ProVision oder Classic) durchgeführt und können schnell und einfach in die 6TL Umgebung eingebunden werden.

Die Integration von JTAG/Boundary-Scan mit der Marke 6TL für funktionale Testsysteme (FTE) bietet eine Best of Lösung, welche die meisten Anforderungen an Board- und Systemtests erfüllen kann. Da Boundary-Scan und Funktionstest ergänzenden Testmethoden sind, bietet diese Kombination oft eine optimale Strategie mit niedrigsten Gesamtkosten und maximaler Abdeckung für erwartete Fehlertypen. Die Verwendung der eingebauten JTAG-Steuerungsfunktion der YAV9JTAG-Karte reduziert die Kosten und bietet einen optimalen Einstieg für Basisanwendungen.

  • Kosteneffektive Integration von JTAG Boundary Scan Test und Programmierlösungen auf Basis der 6TL YAV Moduls
  • Unterstützt die YAV9JTAG Boundary Scan Controller Karte sowie die YAV9JTAGH „DIOS“ Modul Karte
  • Ein Produktionsplatz für Boundary Scan und Funktionstest
  • Erhöhen der Testabdeckung auf digitalen und Mixed Signal Boards.
  • Erweitern des Funktionstests durch die JTAG In-System Programmiermöglichkeiten und Prozessor kontrollierten Test Optionen.
  • Einfache Erweiterung von bestehenden Adaptern und Testprogrammen

YAV9JTAG Karte:

  • JTAG Technologies kompatibler Boundary Scan Controller basierend auf FT2232H Bausteintechnologie, welcher über USB angesteuert wird. (WICHTIG – kein TRST Pins Support)
  • Alternative: Externer TAP Connector
  • 112 Digitalte I/O Kanäle
  • 1.8V/2.5V/3.3V (5 V tolerant)

YAV9JTAH Karte:

  • 104 digitalte I/O Kanäle
  • 1.8V/2.5V/3.3 V (5 V tolerant)
  • 5 RS-232 Level Eingänge & 3 RS-323 Level Ausgänge
  • 8 analoge Eingänge (über JFT/Script steuerbar)
  • JTAG Boundary Scan ist ein strukturelles Testverfahren, welches durch den Einsatz von Boundary Scanfähigen Zellen, welche durch zusätzliche Testlogik im inneren des Bausteins (ICs) implementier wurde, ermöglicht wird. Solche Bausteine sind dann JTAG/Boundary Scan/IEEE 1149.1 konform. Bei vielen Schaltungen, meist digital, kann JTAG eine Standalone Lösung darstellen. Jedoch wird der Boundary Scan Test oft mit bestehenden Testmethoden (z.B. Funktionstest) kombiniert, um die Vorteile der einzelnen Verfahren zu nutzen und die optimale Testabdeckung zu erhalten.