| Standard | 1st release, updates | |
| IEEE 1149.1 | 1990, 2001, 2013 | IEEE Standard Test Access Port und Boundary-Scan-Architekturen JTAG, JTAG Boundary-Scan, Dot1 |
| IEEE 1149.4 | 1999, 2010 | IEEE-Standard für einen Mixed-Signal-Testbus – analoger Boundary-Scan, Dot4 |
| IEEE 1149.6 | 2003, 2015 | IEEE-Standard für Boundary-Scan-Tests fortgeschrittener digitaler Netzwerke – oft AC-EXTEST genannt, Dot6 |
| IEEE 1149.7 | 2009 | IEEE-Standard für reduzierte Pins und erweiterte Funktionalitäten beim Test von Access-Ports und Boundary-Scan-Architekturen – eine Obermenge (superset) von 1149.1, die vollständig mit ihr übereinstimmt. |
| IEEE 1149.8 | 2012 | IEEE-Standard für Boundary-Scan-basierte Stimulation von Zusammenhängen mit passiven und/oder aktiven Komponenten – auch als Toggle-Scan bezeichnet. |
| IEEE 1149.10 | 2017 | IEEE-Standard für High-Speed-Testzugriffsports und On-Chip-Verteilungsarchitekturen – eine paketierte Hochgeschwindigkeitskommunikationsvariante |
| IEEE 1532 | 2000, 2001, 2002 | IEEE-Standard für die systeminterne Konfiguration von programmierbaren Bausteinen – Bereitstellung eines standardisierten Programmierzugriffs und einer Methodik für programmierbare integrierte Schaltkreise wie CPLDs und FPGAs. |
| IEEE 1581 | 2011 | Statisches Komponenten-Verbindungs-Testprotokoll und Architektur – auch bekannt als SCITT |
| IEEE 1687 | 2014 | IEEE-Standard für den Zugriff und die Kontrolle der Instrumentierung, die in einem Halbleiterbauelement integriert ist. – eine erweiterte interne JTAG-Architektur, die für den Zugriff auf integrierte Testgeräte auf Bausteinebene entwickelt wurde. |
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