Ein Protokoll zum Testen der Verbindung von kostengünstigen, komplexen Speicher-ICs.
Diese Standard definiert ein Verfahren zum Testen der Verbindungen von kostengünstigen, komplexen Speicher-ICs, bei denen keine zusätzliche Pins für den Test bzw. Boundary Scan Funktionalität in diesem Bereich nicht vorhanden sind.
Da mit JTAG ProVision und 1149.1 bereits das Testen von Speicherbindungen möglich ist, kann die Verwendung von IEEE 1581 als alternativer Ansatz angesehen werden. Der Standard ist unter dem Begriff „SCIT“ (Static Component Interconnect Test Protocol) bekannt und verwendet eine Anordnung von XOR-Gattern an den Adresseingaben mit Rückmeldung über Datenbusausgänge. Ein „Whitepaper“ mit ausführlicheren Details finden Sie hier.
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