Boundary-Scan Erweiterung für Analog- und Mixed-Signal-Architekturen: IEEE 1149.4
IEEE 1149.4 wurde im Jahr 2000 veröffentlicht, mit dem Ziel, eine chipbasierte Lösung für analoge Messungen auf Leiterplatten anzubieten. Die dot4-Spezifikation fügt dem TAP 2 Pins hinzu, einen analogen namens AT1 und einen analogen namens AT2. Ressourcen innerhalb des dot4-konformen ICs ermöglichen es, AT1 und AT2 mit den Pins zu verbinden und diese so analog zu treiben und zu lesen. Widerstandswerte, Kondensatorwerte und Spannungspegel können extern gemessen werden, solange sich dot 4 konforme Bausteine auf der Baugruppe befinden.
Eine gute Möglichkeit, mehr über die Möglichkeiten des analogen Boundary-Scans zu erfahren, ist das JTAG Technologies Evaluation Kit, komplett mit einem Demo-Board und analogen Instrumenten.
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