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Erzähle mir über JTAG/Boundary-Scan

Boundary-Scan, auch bekannt als JTAG oder IEEE Std. 1149.1, ist eine serielle Schnittstelle, die den Zugriff auf die spezielle eingebettete Logik ermöglicht, die in vielen der heutigen integrierten Schaltungen (ICs) implementiert ist. JTAG/Boundary-Scan ist eine schnelle und einfache Methode zur Prüfung von Fertigungsfehlern auf elektronischen Baugruppen oder PCBAs. Des Weiteren...

Wissen ist zum Teilen gemacht

Wir haben Vertrieb und technischen Support in praktisch allen Teilen der Welt, in denen Elektronikprodukte hergestellt werden. Das bedeutet, dass Sie einen beständigen, sachkundigen und persönlichen Service erhalten, egal ob Sie sich in Nordamerika, Europa, Asien, Südamerika oder Australien befinden. Lassen Sie uns wissen, wie wir Ihnen helfen können. Unsere sachkundigen und professionellen Vertriebs- und Support-Teams stehen bereit, um Ihnen zu helfen, Ihre Ergebnisse mit Boundary-Scan zu maximieren.

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Erzähle mir mehr über Teststrategie

Teststrategie für bestückte Leiterplatten (ausgelagerten) Produktion in der heutigen Zeit der Miniaturisierung der Elektronik im Griff? Es wird schließlich immer schwieriger oder sogar unmöglich, die heutigen Baugruppen, bei denen nicht...

JTAG Live leaflet

Macht JTAG greifbar. JTAG Live®, das einfach zu bedienende und äußerst wirtschaftliche Debugging-Toolpaket für bestückte Leiterplatten ist eine Marke von JTAG Technologies.

JTAG Technologies brochure

Erleben Sie unsere Geschichte und entdecken Sie unsere bewährten Lösungen basierend auf Boundary-Scan.  Wir waren einer der Hauptarchitekten dieses Standards, aber nach 25 Jahren sind wir so viel mehr als...

When does boundary-scan make sense?

Auf dem heutigen kompetitiven und sich schnell verändernden Elektronikmarkt haben die Geschwindigkeit und Effektivität von Produkttests einen erheblichen Einfluss auf Ihre Produktlinie und die Markteinführungszeit. Diese Broschüre enthält Hintergrundinformationen über...

Teststrategie für bestückte Leiterplatten

Wie behalten Sie (als OEM) die Qualität und die Kosten Ihrer (ausgelagerten) Produktion in der heutigen Zeit der Miniaturisierung der Elektronik im Griff? Es wird schließlich immer schwieriger oder sogar unmöglich, die heutigen Baugruppen, bei denen nicht mehr alle Netze mit Testpunkten versehen werden können, mit traditionellen Methoden zu prüfen.

System DFT Guidelines

Wenn Sie ein Entwicklungsingenieur sind und dies lesen, dann haben Sie bereits erkannt, welche Rolle Sie Rolle bei DFT (Design...

Support Services

JTAG-Wartung & Support-Dienstleistungen Beratung, Entwicklung, Implementierung Wichtigste verfügbare Dienstleistungen - Boundary-Scan-Seminare und -Schulungen - Kostenloses Online-Webinar-Programm - Design- und Prozessberatung...

JTAG Technologies Leaflet

Wir bieten Test- und Programmierlösungen für die heutige Elektronik. Wir bei JTAG Technologies sagen mit Stolz: „We are Boundary-Scan.“ Seit...

Software Support Contract agreement

Lesen Sie hier die Bedingungen unserer Software-Support-Vereinbarung. (English)

JTAG Life Cycle Benefits

Verbesserung der Testeffektivität während des gesamten Lebenszyklus Ihres Produkts Während ein elektronisches Produkt seinen Lebenszyklus durchläuft, von der Entwicklung über...

In-System-Programmierung Richtlinien

Die JTAG/Boundary-Scan-Technologie für die Prüfung von Leiterplatten und die In-System-Konfiguration ist eine wesentliche Technik, die bei der Herstellung von elektronischen...

Board DFT Guidelines

Entwicklungsingenieure wissen welche Rolle DFT (Design for Test) Richtlinien beim Design einer Baugruppe spielen. Um dem Test- und Fertigungsingenieur die...