Teststrategie für bestückte Leiterplatten

(ausgelagerten) Produktion in der heutigen Zeit der Miniaturisierung der Elektronik im Griff? Es wird schließlich immer schwieriger oder sogar unmöglich, die heutigen Baugruppen, bei denen nicht mehr alle Netze mit Testpunkten versehen werden können, mit traditionellen Methoden zu prüfen. Aber auch die Produktionskette wirft neue Fragen auf. Wie behalten Sie den Einblick in das, was für Sie produziert wird und was können Sie tun, um z.B. Ihren EMS-Partner zu entlasten und gemeinsam Lösungen zu finden?

Der Prozess beginnt bereits in der Design-Phase Ihrer Elektronik mit der Definition einer geeigneten Teststrategie. Gerade in dieser Phase ist es wichtig, zu analysieren, mit welchen Testmethoden Sie die gewünschte Qualität und die damit verbundene Fehlerabdeckung erreichen können. Diese Erkenntnis hilft Ihnen, die arameter mit dem Hersteller Ihrer Elektronik abzustimmen.