Entwicklungsingenieure wissen welche Rolle DFT (Design for Test) Richtlinien beim Design einer Baugruppe spielen. Um dem Test- und Fertigungsingenieur die Möglichkeit zu geben, die BoundaryScan Technologie in vollem Umfang zu nutzen, sollte in regelmäßigen Besprechungen schon frühzeitig die Teststrategie und das Produktionskonzept (für das Debugging von Prototypen, die Produktion und den Service) diskutiert und festgelegt werden.

Ziel dieses Dokuments ist es, Ihnen eine Reihe von DFT Richtlinien aufzuzeigen, die als Referenz zur Implementierung einer Boundary-Scan-Architektur während des Layout Entwurfs dienen. Dies führt
zu einer effektiven Architektur, welche Ihnen neben einem strukturellen Baugruppentest während der Fertigung auch die Möglichkeit gibt, eine In-System-Programmierung von CPLDs, FPGAs und Flash Speicherbausteinen durchzuführen.