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Testen erweiterter digitaler Netzwerke: IEEE 1149.6

IEEE 1149.1 unterstützt Sie bei der Ermittlung struktureller Probleme in herkömmlichen digitalen Schaltungen. Handelt es sich jedoch um LVDS oder kapazitiv gekoppelte Netzwerke, ist „dot1“ unvollständig und es kann zu falscher Interpretation von LVDS-Durchgängen und AC-Gekoppelten Netzen führen. Aus diesem Grund wurde IEEE 1149.6 entwickelt, eine Erweiterung zu dot1, die auch als „AC-EXTEST“ bezeichnet wird. Durch den Einsatz von dot6-kompatiblen Bausteinen am Transmitter bzw. Receiver des entsprechenden Netzwerkes können Pulse geschickt bzw. ausgewertet werden. Somit können fehlerhafte LVDS- bzw. kapazitiv gekoppelte Netzwerke (wie z.B. Unterbrechung, Kurzschluss zu GND, fehlende Kondensatoren etc.) durch die Auswertung des Datenpulses erkannt werden.

JTAG ProVision erkennt das Vorhandensein von dot6-kompatiblen Bausteinen und erstellt automatisch die erweiterten Tests, sowie eine präzise Diagnose. Die Diagnose sagt eindeutig aus, wo ein Defekt vorliegt. Der JTAG- Visualizer kann mit Hilfe dieser Diagnose den fehlerhaften Bereich im Schaltplan oder Layout anzeigen.

 

 

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