ATE-Integration: Einfach und effektiv | JTAG Technologies

JTAG Technologies

We are boundary scan.

ATE-Integration: Einfach und effektiv

Sie möchten die Testabdeckung Ihrer Bestückten Leiterplatte verbessern? Ganz einfach. Kombinieren Sie Ihre JTAG Technologies Boundary-Scan-Tools mit den bereits vorhandenen Testsystemen (ATE). Wir arbeiten mit allen Herstellern von In-Circuit-Testern (ICT), Flying Probes (FPT) und Funktionstestern (FKT) zusammen.

Die ATE-Integration ist absolut problemlos und erfordert lediglich eine Erweiterung der Ausführungssoftware am bestehenden Testsystem. In vielen Fällen bieten wir auch speziell, auf das Format angepasste, Controller/QuadPods, um die Hardware optimal einzubinden. Dies vereinfacht die mechanische Integration und bietet eine optimale Übergabe der TAP Signale.

Die Art der Integration variiert je nach Anforderungen und kann Folgendes umfassen:

  • Basis Integration: Aufruf der Boundary Scan Applikationen und Ausgabe der Diagnose über bestehende Benutzeroberläche.
  • Vollständige Integration: Somit können Interaktive Test erstellt werden, indem zum Beispiel über Boundary Scan stimuliert und über die Pins des ATE Systesms entsprechende Werte zurückgelesen werden.    

ATE Integration jetzt bestellen

Wird Ihr ATE-System oder Anbieter nicht aufgeführt, wenden Sie sich mit Ihren Anforderungen bitte an uns.