JTAG Technologies分散控制：组合、一致的方法

在线测试（ICT）和飞针测试是现今仍广泛使用的两种传统架构测试方法。 在线测试（ICT）使用定制夹具，每块电路板一个，包含大量测试探针，与电路板上的探测点进行直接接触。电刺激经由探针传送到电路板，获得测试结果。

飞针测试也依赖于和测试点的直接接触，但仅在规定时间经由小部分探测点。不同的系统品牌，探针的数目通常介于4至24针。高速运作的测试探针无需夹具就能进行一系列的测试。

随着历年来电路板密度和复杂性的增加，ICT 和飞针探测均遭遇与电路板上的测试点进行直接接触的需要，因此，边界扫描的出现成为现今电子系统的一项卓越测试技术。然而，部分系统仍可适于ICT或飞针探测。譬如，混合信号板的模拟部分可完全适于任何传统技术进行测试。这种情况下，测试专家可能考虑组合的分散控制系统，采用JTAG Technologies边界扫描产品测试目标的数字部分，并与ICT 或功能测试器整合。形成平台内大范围数字和模拟测试的全面测试策略。我们提供置入很多现今使用最受欢迎的测试系统的分散控制：

• 3070分散控制：结合我们的边界扫描硬件软件与安捷伦 3070，可在HP-UX 或视窗操作系统下运作。3070分散控制方案的独特部分是JT 37x7/APC边界扫描控制器。APC插入3070测试头内的板槽，从而极其简便地把边界扫描与您的3070在线测试系统相结合。

• 分散控制228x 和 228xPLUS：针对泰瑞达（先前GenRad）的在线测试器。 部分解决方案是进行控制器和在线测试器隔离的CFM（自设功能模组）。

• 分散控制APT-9000：针对Takaya APT-9400系列飞针探测器

• 分散控制3030 SPEA：针对SPEA 在线测试系统。SPEA 3030解决方案的特殊部分是增进边界扫描与您的SPEA 3030测试器简便结合的SAM（SPEA适配器模组）。

另一套结合JTAG Technologies硬软件的综合方案可查阅我们的原始设备制造合作商。