进入未来：即将到来的边界扫描标准

目前有若干IEEE的工作小组进一步推进边界扫描技术。最终，这些团队的工作成果可能成为正式标准，用于芯片、电路板、和系统厂商。正在进行的主要努力有：

IEEE 1149.7：1149.1 的超集并与其完全顺应，在于减少引脚数和提高 1149.1测试系统和目标间链接的功能。

IEEE P1581：此工作小组正在定义没有多余引脚进行测试，存储器集成电路内不能执行边界扫描的低成本、高存储集成电路的连接测试标准草案。由于JTAG ProVision 和 1149.1已可用于存储器的连接测试， P1581的成果可作为一种可选方法。

SJTAG：此项努力仍在初步阶段，尚不是IEEE内的工作组。目的是使系统级测试方法标准化。系统级功能已由JTAG ProVision和先前产品很好支持，连同所有来自国家半导体、德州仪器、Lattice半导体和Firecron的商用桥接分流设备的内置功能。

JTAG Technologies将紧密致力于维持尖端优势。更多信息请访问官方IEEE 网站。