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测试高级数字网络:IEEE 1149.6

IEEE 1149.1完全适于测试传统数字网络的结构问题,但当涉及到LVDS或电容耦合电路时,dot1便有所欠缺。会有错误通过LVDS,直流网上发生错误失误。那便是开发IEEE 1149.6的原因,通常称为AC-EXTEST的dot1的延伸。其使用dot6顺应器件进行发送,接收高级网络端以发送和感应数据脉冲。任何LVDS或电容电耦网的故障模式(如开线、接地短线、开放电容等)可通过数据脉冲进行探测。

 

JTAG ProVision 探测dot6顺应器件,并自动创建高级测试和精密诊断程序。诊断程序清楚的表述探测到的缺陷位置,并可用于 JTAG Visualizer以原理图和布局角度显示故障区。