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近20年之久并更大发展:JTAG 边界扫描 IEEE 1149.1

IEEE 1149.1标准经受了时间的考验。其在数千个集成电路内作为嵌入式测试技术,提供无数系统设计测试和编程支持,并继续扩展其效用至新领域。始于1990 年,作为克服连接高密度电子产品预料的缺乏存取的数字测试机制,"dot1"标准已进行了两次修订,然而基本结构仍保持不变。规范定义了测量存取端口(TAP),集成电路、指令寄存器和很多数据寄存器内运行的称为TAP控制器的序列状态机。

 

与规范相联系的是定义用于描述芯片内执行和进行操作语法的边界扫描叙述语言(BSDL)。行业最严密的语法检查程序植入于JTAG Technologies开发产品,而我们的BSDL Verifier 更进一步:将实际芯片与 BSDL文件进行比较,以确保两者一致。BSDL Verifier甚至从芯片中生成BSDL 文件。

 

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