JTAG 边界扫描，严格基于IEEE 标准

JTAG Technologies一直是行业标准开发的积极支持者和参与者。事实上，我们引领了二十世纪八十年代末的首个工作小组，开辟了新的IEEE 1149.1 规范。这项于1990 年首次发布，定义JTAG 边界扫描的标准，此后有过两次更新。标准定义集成电路内可用于板极进行精密结构测试和系统内编程的包含测试逻辑。更多细节。

自IEEE 1149.1规范发布以来，三项其他标准已有开发，每项基于"dot1"并就特殊用途予以延伸。2000 年发布的模拟边界扫描IEEE 1149.4，和2003 年发布的通常称为ac-EXTEST的IEEE 1149.6，扩展了最初数字领域外的边界扫描测试能力。第三项标准IEEE 1532 ，为如PLDs和FPGAs的可编程器件设置了常用的描述格式，使边界扫描使用时更方便地配置。