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我们相信边界扫描基于IEEE 标准1149.1,是克服现今和未来复杂电子系统的测试和编程挑战的卓越技术。凭借全球5,000多套设备装置和行业最有实力的产品创新记录,JTAG Technologies致力于帮助您通过产品从开发至原型到制造至现场服务的生命周期的每个阶段,了解边界扫描的益处。

 

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本周DFT内容

dft_tip_01  分区扫描链: 通常认为,单一链中连接所有的边界扫描器件总是进行测试的最佳设计