Entrare nel futuro: gli standard boundary-scan in arrivo

Ci sono diversi gruppi di lavoro in ambito IEEE che stanno attualmente portando avanti nuove idee per la tecnologia boundary-scan.  Alla fine del processo, il lavoro di questi gruppi potrebbe diventare un nuovo standard ufficiale, disponile per lo sviluppo di chip, schede e sistemi. Le principali iniziative in corso sono:

IEEE 1149.7:  Un aggiunta allo standard 1149.1 e pienamente compatibile con esso, orientato alla riduzione del numero di pin e al miglioramento della funzionalità del collegamento tra il sistema di test e i sistemi in prova.

IEEE P1581:  Questo gruppo di lavoro sta definendo un protocollo standard per il collaudo delle interconnessioni dei circuiti di memoria complessi a basso costo, nei quali I piedini supplementari per il collaudo non sono disponibili e dove la realizzazione del boundary-scan all'interno dei circuiti integrati di memoria non è fattibile.  Poiché il test delle interconnessioni dei dispositivi di memoria è già possibile utilizzando JTAG ProVision e lo standard 1149.1, il lavoro del gruppo P1581 può essere considerato come approccio alternativo.

SJTAG:  Si tratta di un'iniziativa agli esordi per la quale non è stato ancora definito un gruppo di lavoro in ambito IEEE.  L'intenzione è quella di definire un metodo unificato per il collaudo a livello di sistema. Le funzionalità a livello di sistema sono già ben supportate da JTAG ProVision e dai prodotti precedenti, con delle funzioni incorporate per tutti i dispositivi bridge commercialmente disponibili da National Semiconductor, Texas Instruments, Lattice Semiconductor e Firecron.

JTAG Technologies lavorerà a stretto contatto con questi gruppi per mantenersi all'avanguardia nel settore. Per ulteriori informazioni si rimanda al sito ufficiale IEEE.