Expandere il boundary-scan ai circuiti analogici e misti: IEEE 1149.4

Lo standard IEEE 1149.4 è stato pubbicato nel 2000 con l'obiettivo di offrire una soluzione basata su chip per eseguire misure di tipo analogico su una scheda a circuito stampato.  La specifica "punto4" aggiunge due pin alla porta di test TAP, un circuito di pilotaggio analogico chiamato AT1 e un pin di misura analogico chiamato AT2.  Le risorse presenti in un circuito integrato conforme alle specifiche punto4 permettono di collegare AT1 e AT2 a bus di test analogici e da lì raggiungere piedini sui circuiti integrati analogici da pilotare o misurare.  Valori di resistenza, valori di capacitò e livelli di tensione possono essere misurati a patto che sulla scheda siano presenti dispositivi conformi alle specifiche punto4.

Un ottimo modo per conoscere le potenzialità analogiche del  boundary-scan è il JTAG Technologies Evaluation kit, completo di una scheda dimostrativa e strumentazione analogica.