JTAG Boundary-Scan, strettamente basato sugli standard IEEE

JTAG Technologies è stato un partecipante attivo e un innovatore nello sviluppo degli standard di questo settore.  Infatti, abbiamo presieduto il primissimo gruppo di lavoro alla fine degli anni '80 il cui impegno portò alla stesura delle rivoluzionarie specifiche IEEE 1149.1.  Questo standard che definisce il boundary-scan JTAG fu pubblicato per la prima volta nel 1990 ed è stato da allora aggiornato due volte. Lo standard definisce la logica di test da includere nei circuiti integrati che può essere usata a livello di scheda per effettuare collaudi strutturali precisi e la programmazione dei componenti su sistema. 

Dalla pubblicazione delle originarie specifiche IEEE 1149.1 sono stati sviluppati alter tre standard, ciascuno basato sulle tecniche descritte dalle norme base "punto1" che sono state estese per raggiungere scopi precisi.  Gli standard IEEE 1149.4, sul boundary-scan analogico, pubblicato nel 2000 e IEEE 1149.6, spesso chiamato anche ac-EXTEST, pubblicato nel 2003, espandono le possibilità di utilizzo del collaudo boundary-scan oltre l'originario dominio digitale.  Il terzo standard, IEEE 1532, definisce un formato descrittivo comune per i dispositivi programmabili come PLD e FPGA così che anch'essi possano essere più efficacemente configurati tramite il boundary-scan.

E sono in corso altre iniziative per estendere ancora di più il JTAG boundary-scan.  Citiamo tra queste:

• IEEE 1149.7, spesso indicato come JTAG a piedinatura ridotta

• P1581, un'estensione per il collaudo di memorie

• SJTAG, un estensione per il collaudo a livello di sistema

JTAG Technologies lavorerà a stretto contatto con questi gruppi per mantenersi all'avanguardia nel settore. Per ulteriori informazioni si rimanda al sito ufficiale IEEE.