Note applicative

Attingi alle esperienze sintetizzate nelle note applicative di JTAG Technologies, che descrivono l'utilizzo del boundary-scan per risolvere problemi del mondo reale.  Scarica i documenti PDF dai rispettivi link relativi ai seguenti argomenti:

AN-1      Come realizzare moduli multi-chip adatti al collaudo boundary-scan e alla programmazione su sistema

AN-2      Programmazione delle EEPROM seriali

AN-2.1  Serial Memory Device Programming

AN-3      Utilizzo di controllori multipli per la programmazione parallela

AN-4      Multiplazione di linee dati e indirizzi in applicazioni flash

AN-5      Utilizzo di configurazioni con catene di scansione multiple

AN-6      Collaudo delle interconnessioni di SDRAM DDR

AN-7      Collaudo di clock free-running

AN-8      Utilizzo di Boundary-scan Fault Coverage Examiner per determinare la collaudabilità e il reale grado di copertura dei guasti

AN-9      Programmazione di progetti con chiave di sicurezza per Altera Stratix II utilizzando SVF

AN-10    Allineamenti dei flussi SVF a 32 bit per dispositivi Xilinx Virtex e Altera Spartan 3

AN-11    Istruzione RESET statement nei file SVF utilizzata per la programmazione di PLD

AN-12    Miglioramento delle prestazioni della programmazione con salto delle zone vuote

AN-13    Programmazione dei dispositivi flash Altera con configurazione seriale attiva

E' richiesto del software supplementare. Comprende il supporto per la famiglia Cyclone III e EPCS128. Un insieme di file SVF già preparati e di template per la programmazione flash sono inclusi in questo documento.

AN-14 Parallel Programming of Serial Memory Devices

Hai un'applicazione particolare?  Faccelo sapere.